一种光噪声测量方法及装置、计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种光噪声测量方法及装置、计算机可读存储介质。该方法包括：在沿着噪声待测信道传播的光学路径上，获取预设参考点对应的参考光谱信息和测量点对应的测试光谱信息；其中，预设参考点的参考光噪声已知；获取光学路径上的预设参考点与测量点之间的光学滤波元器件的滤波窗口函数，以及测量点对应的频谱响应函数；根据参考光谱信息、滤波窗口函数和频谱响应函数，得到修正参考光谱信息；根据修正参考光谱信息和测试光谱信息，得到信号分量比例因子；根据信号分量比例因子、预设参考点对应的参考光噪声、测试光谱信息和修正参考光谱信息和预设光噪声模型，得到测量点的测试光噪声。

【技术实现步骤摘要】
一种光噪声测量方法及装置、计算机可读存储介质
本专利技术涉及计算机互联网领域中的数据处理技术，尤其涉及一种光噪声测量方法及装置、计算机可读存储介质。
技术介绍
随着光通信技术的不断发展，以及传输速率、传输距离的不断提高，光传输网络日益复杂。而对整个光网络的监控在工程上具备越来越重要的意义。光信噪比(OSNR，OpticalSignalNoiseRatio)是光传输网络的一个重要参数，它可以较为直观的反映光传输网络中的光网络信号的质量。在线监测OSNR可以实时对光网络整体性能进行评估，具有巨大商业价值。目前，获取OSNR最核心的工作就是准确测量监控点(测量点)的光噪声。现有的光噪声的测量方式可以在光通信链路上分别获取待测光谱和参考光谱，认为参考光谱中的信号分量可以代表待测光谱中的信号分量，然后通过参考光谱来估计待测光谱中信号成分，并最终得到待测光谱的光噪声。然而，在实际应用中，特别是对于适合大规模部署的模块级解决方法中，由于成本尺寸等因素限制，模块级光谱获取装置自身的光学分辨率往往较差，其频谱响应不可忽略，这对测量结果将产生巨大影响，导致光噪声测量的结果不准确。此外，参考点和测量点的光学链路之间，诸如光梳状滤波器、波长选择开关等具有光滤波功能的光器件也将对光信号的光谱产生整形效果，此时参考光谱中的信号分量并不能代表待测光谱中的信号分量。此时通过参考光谱来估计待测光谱中信号成分，并最终得到待测光谱的光噪声的方式就不准确了。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种光噪声测量方法及装置、计算机可读存储介质，能够提高测量光噪声的准确率。本专利技术实施例的技术方案是这样实现的：本专利技术实施例提供一种光噪声测量方法，包括：在沿着噪声待测信道传播的光学路径上，获取预设参考点对应的参考光谱信息和测量点对应的测试光谱信息；其中，所述预设参考点的参考光噪声已知；获取所述光学路径上的所述预设参考点与所述测量点之间的光学滤波元器件的滤波窗口函数，以及所述测量点对应的频谱响应函数；根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息；根据所述修正参考光谱信息和所述测试光谱信息，得到信号分量比例因子；根据所述信号分量比例因子、所述预设参考点对应的参考光噪声、所述测试光谱信息和所述修正参考光谱信息和预设光噪声模型，得到测量点的测试光噪声。在上述方案中，所述根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息，包括：根据所述参考光谱信息和所述滤波窗口函数进行消除滤波效应的修正，得到滤波效应修正参考光谱信息；根据所述滤波效应修正参考光谱信息和所述频谱响应函数进行卷积运算，实现消除展宽效应修正，得到所述修正参考光谱信息。在上述方案中，所述根据所述参考光谱信息和所述滤波窗口函数进行消除滤波效应的修正，得到滤波效应修正参考光谱信息，包括：将所述参考光谱信息与所述滤波窗口函数进行乘积运算，实现消除滤波效应的修正，得到所述滤波效应修正参考光谱信息。在上述方案中，所述根据所述修正参考光谱信息和所述测试光谱信息，得到信号分量比例因子，包括：获取所述修正参考光谱信息的峰值波长对应的第一功率，以及所述测试光谱信息的峰值波长对应的第二功率；对所述第二功率与所述第一功率进行比值运算，得到所述信号分量比例因子。在上述方案中，所述根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息之后，且所述根据所述信号分量比例因子、所述预设参考点对应的参考光噪声、所述测试光谱信息和所述修正参考光谱信息和预设光噪声模型，得到测量点的测试光噪声之前，所述方法还包括：获取预设参考光谱模型和预设测试光谱模型；获取所述预设参考点的信号分量与所述测量点的信号分量的预设信号分量模型；根据所述预设测试光谱模型和所述预设信号分量模型，得到重写测试光谱模型；根据所述预设参考光谱模型、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱模型；根据所述重写测试光谱模型和所述修正参考光谱模型，得到所述预设光噪声模型。在上述方案中，所述获取预设参考点对应的参考光谱信息和测量点对应的测试光谱信息，包括：通过高光学分辨率的光谱获取装置获取所述预设参考点对应的所述参考光谱信息；通过低光学分辨率的光谱获取装置获取所述测量点对应的所述测试光谱信息。在上述方案中，所述光学滤波元器件包括以下至少一种：光复用器和光解复用器。本专利技术实施例提供了一种光噪声测量装置，包括：获取单元，用于在沿着噪声待测信道传播的光学路径上，获取预设参考点对应的参考光谱信息和测量点对应的测试光谱信息；其中，所述预设参考点的参考光噪声已知；以及获取所述光学路径上的所述预设参考点与所述测量点之间的光学滤波元器件的滤波窗口函数，以及所述测量点对应的频谱响应函数；计算单元，根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息；及根据所述修正参考光谱信息和所述测试光谱信息，得到信号分量比例因子；以及根据所述信号分量比例因子、所述预设参考点对应的参考光噪声、所述测试光谱信息和所述修正参考光谱信息和预设光噪声模型，得到测量点的测试光噪声。在上述装置中，所述计算单元，具体用于根据所述参考光谱信息和所述滤波窗口函数进行消除滤波效应的修正，得到滤波效应修正参考光谱信息；以及根据所述滤波效应修正参考光谱信息和所述频谱响应函数进行卷积运算，实现消除展宽效应修正，得到所述修正参考光谱信息。在上述装置中，所述计算单元，还具体用于将所述参考光谱信息与所述滤波窗口函数进行乘积运算，实现消除滤波效应的修正，得到所述滤波效应修正参考光谱信息。在上述装置中，所述计算单元，具体用于获取所述修正参考光谱信息的峰值波长对应的第一功率，以及所述测试光谱信息的峰值波长对应的第二功率；以及对所述第二功率与所述第一功率进行比值运算，得到所述信号分量比例因子。在上述装置中，所述获取单元，还用于所述根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息之后，且所述根据所述信号分量比例因子、所述预设参考点对应的参考光噪声、所述测试光谱信息和所述修正参考光谱信息和预设光噪声模型，得到测量点的测试光噪声之前，获取预设参考光谱模型和预设测试光谱模型；以及获取所述预设参考点的信号分量与所述测量点的信号分量的预设信号分量模型；所述计算单元，还用于根据所述预设测试光谱模型和所述预设信号分量模型，得到重写测试光谱模型；及根据所述预设参考光谱模型、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱模型；以及根据所述重写测试光谱模型和所述修正参考光谱模型，得到所述预设光噪声模型。在上述装置中，所述获取单元，具体用于通过高光学分辨率的光谱获取装置获取所述预设参考点对应的所述参考光谱信息；以及通过低光学分辨率的光谱获取装置获取所述测量点对应的所述测试光谱信息。在上述装置中，所述光学滤波元器件包括以下至少一种：光复用器和光解复用器。本专利技术实施例又提供了一种光噪声测量装置，包括：存储器，用于存储可执行光噪声测量指令；处理器，用于执行所述存储器中存储的可执行光噪声测量指令时，实现上述光噪声测量方法。本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有可执行光噪声测量指令，用于引起处理器执行时，实现上述光噪声测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光噪声测量方法，其特征在于，包括：在沿着噪声待测信道传播的光学路径上，获取预设参考点对应的参考光谱信息和测量点对应的测试光谱信息；其中，所述预设参考点的参考光噪声已知；获取所述光学路径上的所述预设参考点与所述测量点之间的光学滤波元器件的滤波窗口函数，以及所述测量点对应的频谱响应函数；根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息；根据所述修正参考光谱信息和所述测试光谱信息，得到信号分量比例因子；根据所述信号分量比例因子、所述预设参考点对应的参考光噪声、所述测试光谱信息和所述修正参考光谱信息和预设光噪声模型，得到测量点的测试光噪声。

【技术特征摘要】
1.一种光噪声测量方法，其特征在于，包括：在沿着噪声待测信道传播的光学路径上，获取预设参考点对应的参考光谱信息和测量点对应的测试光谱信息；其中，所述预设参考点的参考光噪声已知；获取所述光学路径上的所述预设参考点与所述测量点之间的光学滤波元器件的滤波窗口函数，以及所述测量点对应的频谱响应函数；根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息；根据所述修正参考光谱信息和所述测试光谱信息，得到信号分量比例因子；根据所述信号分量比例因子、所述预设参考点对应的参考光噪声、所述测试光谱信息和所述修正参考光谱信息和预设光噪声模型，得到测量点的测试光噪声。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息，包括：根据所述参考光谱信息和所述滤波窗口函数进行消除滤波效应的修正，得到滤波效应修正参考光谱信息；根据所述滤波效应修正参考光谱信息和所述频谱响应函数进行卷积运算，实现消除展宽效应修正，得到所述修正参考光谱信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考光谱信息和所述滤波窗口函数进行消除滤波效应的修正，得到滤波效应修正参考光谱信息，包括：将所述参考光谱信息与所述滤波窗口函数进行乘积运算，实现消除滤波效应的修正，得到所述滤波效应修正参考光谱信息。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述修正参考光谱信息和所述测试光谱信息，得到信号分量比例因子，包括：获取所述修正参考光谱信息的峰值波长对应的第一功率，以及所述测试光谱信息的峰值波长对应的第二功率；对所述第二功率与所述第一功率进行比值运算，得到所述信号分量比例因子。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考光谱信息、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱信息之后，且所述根据所述信号分量比例因子、所述预设参考点对应的参考光噪声、所述测试光谱信息和所述修正参考光谱信息和预设光噪声模型，得到测量点的测试光噪声之前，所述方法还包括：获取预设参考光谱模型和预设测试光谱模型；获取所述预设参考点的信号分量与所述测量点的信号分量的预设信号分量模型；根据所述预设测试光谱模型和所述预设信号分量模型，得到重写测试光谱模型；根据所述预设参考光谱模型、所述滤波窗口函数和所述频谱响应函数，得到修正参考光谱模型；根据所述重写测试光谱模型和所述修正参考光谱模型，得到所述预设光噪声模型。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取预设参考点对应的参考光谱信息和测量点对应的测试光谱信息，包括：通过高光学分辨率的光谱获取装置获取所述预设参考点对应的所述参考光谱信息；通过低光学分辨率的光谱获取装置获取所述测量点对应的所述测试光谱信息。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学滤波元器件包括以下至少一种：光复用器和光解复用器。8.一种光噪声测量装置，其特征在于，包括：获取单元，用于在沿着噪声待测信道...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡蕾蕾，张博，余斯佳，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42