The invention discloses a high precision laser interferometric accelerometer, which comprises a fixed frame, a laser, a first interferometric optical path, a second interferometric optical path, a mass block, a first high reflective film, a second high reflective film, a magnetic absorption reset device and a digital feedback circuit; the digital feedback circuit is based on the first interferometric optical path and the phase of the interference signal in the second interferometric optical path. The displacement and acceleration of the mass block are calculated in the form of difference, and then the mass block is reset by controlling the magnetic suction reset device. Because two sets of interferometric optical paths are formed and the acceleration is measured by differential output, the displacement signal of mass block is amplified twice, the influence of common mode noise such as environment and laser frequency is restrained, and the measurement accuracy of accelerometer is effectively improved.
【技术实现步骤摘要】
一种高精度激光干涉加速度计
本专利技术涉及光学加速度传感器领域,更具体地,涉及一种高精度激光干涉加速度计。
技术介绍
加速度计是精密测量和惯性导航的重要器件,用来测量运动物体的加速度和位移,光信号检测的加速度计与常规加速度计相比,在灵敏度、动态范围、可靠性等方面有明显的优势,得到了广泛的应用。其中光学加速度计主要分为光强调制型、相位调制型和波长调制型。目前使用最为广泛且有较高测量精度的为相位调制型,但是由于其测量过程会存在共模噪声,使其测量精度受到影响。
技术实现思路
本专利技术为解决现有相位调制型加速度计中,由于存在共模噪声降低了测量精度等问题,提供了一种高精度激光干涉加速度计。为实现以上专利技术目的,而采用的技术手段是:一种高精度激光干涉加速度计,包括固定框架、激光器、第一干涉测量光路、第二干涉测量光路、质量块、第一高反膜、第二高反膜、磁吸复位装置以及数字反馈电路;所述质量块的一端通过挠性结构与所述固定框架连接,所述质量块的另一端固定连接在磁吸复位装置上,所述质量块的左右两侧面上分别安装有第一高反膜及第二高反膜,第一干涉测量光路、第二干涉测量光路分别设置于所述第一高反膜、第二高反膜的一侧;其中第一干涉测量光路包括第一分光镜、第一光电探测器、第一反射镜,加速度发生变化时,质量块发生位移,激光器发出的光束通过第一分光镜分成两束光,其中一束光照射到第一高反膜后通过第一高反膜的反射作用反射至第一分光镜处;另一束光照射到第一反射镜后通过第一反射镜的反射作用反射至第一分光镜处,两束光在第一分光镜处发生干涉,并入射至第一光电探测器;其中第二干涉测量光路包括第二分光镜、第 ...
【技术保护点】
1.一种高精度激光干涉加速度计,其特征在于,包括固定框架(101)、激光器(201)、第一干涉测量光路、第二干涉测量光路、质量块(103)、第一高反膜(109)、第二高反膜(110)、磁吸复位装置以及数字反馈电路(208);所述质量块(103)的一端通过挠性结构(102)与所述固定框架(101)连接,所述质量块(103)的另一端固定连接在磁吸复位装置上,所述质量块(103)的左右两侧面上分别安装有第一高反膜(109)及第二高反膜(110),第一干涉测量光路、第二干涉测量光路分别设置于所述第一高反膜(109)、第二高反膜(110)的一侧;其中第一干涉测量光路包括第一分光镜(204)、第一光电探测器(206)、第一反射镜(202),加速度发生变化时,质量块(103)发生位移,激光器(201)发出的光束通过第一分光镜(204)分成两束光,其中一束光照射到第一高反膜(109)后通过第一高反膜(109)的反射作用反射至第一分光镜(204)处;另一束光照射到第一反射镜(202)后通过第一反射镜(202)的反射作用反射至第一分光镜(204)处,两束光在第一分光镜(204)处发生干涉,并入射至第一光电 ...
【技术特征摘要】
1.一种高精度激光干涉加速度计,其特征在于,包括固定框架(101)、激光器(201)、第一干涉测量光路、第二干涉测量光路、质量块(103)、第一高反膜(109)、第二高反膜(110)、磁吸复位装置以及数字反馈电路(208);所述质量块(103)的一端通过挠性结构(102)与所述固定框架(101)连接,所述质量块(103)的另一端固定连接在磁吸复位装置上,所述质量块(103)的左右两侧面上分别安装有第一高反膜(109)及第二高反膜(110),第一干涉测量光路、第二干涉测量光路分别设置于所述第一高反膜(109)、第二高反膜(110)的一侧;其中第一干涉测量光路包括第一分光镜(204)、第一光电探测器(206)、第一反射镜(202),加速度发生变化时,质量块(103)发生位移,激光器(201)发出的光束通过第一分光镜(204)分成两束光,其中一束光照射到第一高反膜(109)后通过第一高反膜(109)的反射作用反射至第一分光镜(204)处;另一束光照射到第一反射镜(202)后通过第一反射镜(202)的反射作用反射至第一分光镜(204)处,两束光在第一分光镜(204)处发生干涉,并入射至第一光电探测器(206);其中第二干涉测量光路包括第二分光镜(205)、第二光电探测器(207)、第二反射镜(203),加速度发生变化时,质量块(103)发生位移,激光器(201)发出的光束通过第二分光镜(205)分成两束光,其中二束光照射到第二高反膜(110)后通过第二高反膜(110)的反射作用反射至第二分光镜(205)处;另二束光照射到第二反射镜(203)后通过第二反射镜(203)的反射作用反射至第二分光镜(205)处,两束光在第二分光镜(205)处发生干涉,并入射至第二光电探测器(207);所述数字反馈电路(208)基于第一干涉测量光路以及第二干涉测量光路中干涉信号的相位的变化,通过差分形式计算质量块(103)的位移及加速度,然后通过控制磁吸复位装置使质量块(103)复位。2.根据权利要求1所述的加速度计,其特征在于,所述磁吸复位装置包括套筒(209)、第一固定件(104)、第二固定件(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:李祝,黄祥青,段会宗,骆颖欣,涂良成,叶贤基,覃璇,
申请(专利权)人:中山大学,
类型:发明
国别省市:广东,44
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