分析系统以及光学元件的更换时期判定方法技术方案

技术编号:20990544 阅读:26 留言:0更新日期:2019-04-29 21:22
本发明专利技术提供一种能够适当地保持由光检测器检测的光的光量的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。分析系统(10)具备多个分光光度计(1)、存储装置(11)和管理终端(12)。在分光光度计(1)中设置有光源部(2)、光检测器和用于将来自光源部的光引导到光检测器的光学元件。在存储装置(11)中,当在各分光光度计中更换了光源的情况下,将与刚更换之后由光检测器(6)检测的光的光量相关的信息存储为管理信息(110)。管理终端(12)的更换时期判定部(125)读出存储装置的管理信息(110),基于所读出的管理信息的光量信息(113)的值,判定光学元件的更换时期。因此,能够正确地判定分光光度计中的光学元件的更换时期。

A Method for Determining the Replacement Period of Analytical Systems and Optical Components

The invention provides an analysis system capable of properly maintaining the amount of light detected by a photodetector and a method for determining the replacement period of optical elements in the analysis system. The analysis system (10) has a plurality of spectrophotometers (1), a storage device (11) and a management terminal (12). A light source section (2), a light detector and an optical element for guiding light from the light source section to the light detector are arranged in the spectrophotometer (1). In the storage device (11), when the light source is replaced in each spectrophotometer, the information related to the amount of light detected by the photodetector (6) after the replacement is stored as the management information (110). The decision unit (125) reads out the management information (110) of the storage device and determines the replacement period of the optical element based on the value of the light quantity information (113) of the read management information. Therefore, the replacement period of optical elements in spectrophotometer can be correctly determined.

【技术实现步骤摘要】
分析系统以及光学元件的更换时期判定方法
本专利技术涉及一种具备射出光的光源以及使来自光源的光反射或者透射的光学元件的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。
技术介绍
以往以来,利用将光照射到试样并测定来自试样的光而进行分析的分析装置。另外,还利用将多个分析装置连接到网络、并经由网络由管理终端管理这些分析装置的分析系统。分析装置具备光源和光检测器。在分析装置中,向试样照射来自光源的光,由光检测器检测来自试样的透射光或者反射光。然后,基于来自光检测器的检测信号进行分析(例如,参照下述专利文献1)。在这种分析装置中,随着使用时间的经过,被用作光源的灯产生消耗,由光检测器检测的光的光量降低。由光检测器检测的光的光量的降低对分析造成不良影响。因此,在分析装置中,需要定期地将光源更换成新品。在下述专利文献1所记载的分析装置中,对光源的亮灯时间进行累计,在亮灯时间为一定以上的情况下,进行通知应该更换光源的控制。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2001-317997号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题在上述以往的分析装置中,即使在更换了光源的情况下,也有时产生由光检测器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分析系统,其特征在于,具备:光源,其射出在分析中使用的光;光学元件,其使从所述光源射出的光反射或者透射;光检测器,其检测由所述光学元件反射或者透射后的光;更换时期判定部,其基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量,判定所述光学元件的更换时期。

【技术特征摘要】
2017.10.19 JP 2017-2024891.一种分析系统,其特征在于,具备:光源,其射出在分析中使用的光;光学元件,其使从所述光源射出的光反射或者透射;光检测器,其检测由所述光学元件反射或者透射后的光;更换时期判定部,其基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量,判定所述光学元件的更换时期。2.根据权利要求1所述的分析系统,其特征在于,在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量低于阈值的情况下,所述更换时期判定部判定为是所述光学元件的更换时期。3.根据权利要求1所述的分析系统,其特征在于,还具备光量预测部,该光量预测部在更换了所述光源时,预测在该光源的下一个更换时期中由所述光检测器检测出的光的光量,所述更换时期判定部在由所述光量预测部预测的光量低于阈值的情况下,判定为是所述光学元件的更换时期。4.根据权利要求2所述的分析系统,其特征在于,还具备受理所述阈值的设定的设定受理部。5.根据权利要求1所述的分析系统,其特征在于,还具备:存储部,其存储使用所述光源的累积时间;以及操作受理部,其在更换了所述光源时,受理在所述存储...

【专利技术属性】
技术研发人员:图子纯平
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:日本,JP

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