本发明专利技术提供一种能够适当地保持由光检测器检测的光的光量的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。分析系统(10)具备多个分光光度计(1)、存储装置(11)和管理终端(12)。在分光光度计(1)中设置有光源部(2)、光检测器和用于将来自光源部的光引导到光检测器的光学元件。在存储装置(11)中，当在各分光光度计中更换了光源的情况下，将与刚更换之后由光检测器(6)检测的光的光量相关的信息存储为管理信息(110)。管理终端(12)的更换时期判定部(125)读出存储装置的管理信息(110)，基于所读出的管理信息的光量信息(113)的值，判定光学元件的更换时期。因此，能够正确地判定分光光度计中的光学元件的更换时期。
A Method for Determining the Replacement Period of Analytical Systems and Optical Components
The invention provides an analysis system capable of properly maintaining the amount of light detected by a photodetector and a method for determining the replacement period of optical elements in the analysis system. The analysis system (10) has a plurality of spectrophotometers (1), a storage device (11) and a management terminal (12). A light source section (2), a light detector and an optical element for guiding light from the light source section to the light detector are arranged in the spectrophotometer (1). In the storage device (11), when the light source is replaced in each spectrophotometer, the information related to the amount of light detected by the photodetector (6) after the replacement is stored as the management information (110). The decision unit (125) reads out the management information (110) of the storage device and determines the replacement period of the optical element based on the value of the light quantity information (113) of the read management information. Therefore, the replacement period of optical elements in spectrophotometer can be correctly determined.
【技术实现步骤摘要】
分析系统以及光学元件的更换时期判定方法
本专利技术涉及一种具备射出光的光源以及使来自光源的光反射或者透射的光学元件的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。
技术介绍
以往以来，利用将光照射到试样并测定来自试样的光而进行分析的分析装置。另外，还利用将多个分析装置连接到网络、并经由网络由管理终端管理这些分析装置的分析系统。分析装置具备光源和光检测器。在分析装置中，向试样照射来自光源的光，由光检测器检测来自试样的透射光或者反射光。然后，基于来自光检测器的检测信号进行分析(例如，参照下述专利文献1)。在这种分析装置中，随着使用时间的经过，被用作光源的灯产生消耗，由光检测器检测的光的光量降低。由光检测器检测的光的光量的降低对分析造成不良影响。因此，在分析装置中，需要定期地将光源更换成新品。在下述专利文献1所记载的分析装置中，对光源的亮灯时间进行累计，在亮灯时间为一定以上的情况下，进行通知应该更换光源的控制。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2001－317997号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题在上述以往的分析装置中，即使在更换了光源的情况下，也有时产生由光检测器检测的光的光量达不到规定量这样的不佳状况。具体来说，在分析装置中，设置有使光反射或者透射的各种光学元件。并且，伴随着分析装置的使用，在这些光学元件处积存污渍或者产生由紫外线导致的劣化。而且，如果使用劣化了的光学元件将来自光源的光引导到光检测器，则即使从光源照射了适当的量的光，在由光检测器检测光时，光的光量也降低。这样，在以往的分析装置中，即使在更换了光源的情况下，也有时产生由光检测器检测的光的光量达不到所需的量、分析的精度降低这样的不佳状况。本专利技术是鉴于上述实际情况而完成的，其目的在于，提供一种能够适当地保持由光检测器检测的光的光量的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。解决技术问题的技术手段(1)本专利技术的分析系统具备光源、光学元件、光检测器和更换时期判定部。所述光源射出在分析中使用的光。所述光学元件使从所述光源射出的光反射或者透射。所述光检测器检测由所述光学元件反射或者透射后的光。所述更换时期判定部基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量，来判定所述光学元件的更换时期。在分析系统中，如果光学元件发生劣化，则由光检测器检测的光的光量降低。另外，在分析系统中，如果光源的使用时间变长，则光源产生消耗，从光源射出的光的光量降低。然后，由光检测器检测的光的光量降低。因此，在持续使用光源的状态下，在由光检测器检测的光的光量降低的情况下，作为光量降低的原因，可列举光源的劣化以及光学元件的劣化这两者。因此，在持续使用光源的状态下，着眼于由光检测器检测的光的光量来正确地判定光学元件的劣化是比较困难的。根据上述本专利技术的结构，在分析系统中，通过更换时期判定部，基于在更换了光源时由光检测器检测出的光的光量，来判定光学元件的更换时期。因此，通过更换时期判定部，在光源未发生劣化的状态下，基于由光检测器检测出的光的光量，来判定光学元件的更换时期。其结果，能够正确地判定光学元件的更换时期。然后，如果基于由更换时期判定部判定出光学元件的更换时期这一情形来更换光学元件，则能够在适当的时机更换光学元件。其结果，在分析系统中，能够抑制使用劣化加重的光学元件。因此，将由光检测器检测的光的光量保持为一定以上。这样，根据本专利技术的分析系统，能够适当地保持由光检测器检测的光的光量。(2)另外，也可以当在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量低于阈值的情况下，所述更换时期判定部判定为是所述光学元件的更换时期。根据这样的结构，能够由更换时期判定部正确地判定光源的更换时期。(3)另外，所述分析系统也可以还具备光量预测部。所述光量预测部在更换了所述光源时，预测在该光源的下一个更换时期由所述光检测器检测出的光的光量。所述更换时期判定部也可以在由所述光量预测部预测的光量低于阈值的情况下，判定为是所述光学元件的更换时期。根据这样的结构，能够通过更换时期判定部，以下一个更换时期为基准来判定是否应该更换光学元件。即，能够通过更换时期判定部提前判定光学元件的更换时期。因此，能够适当地保持由光检测器检测的光的光量。(4)另外，所述分析系统也可以还具备设定受理部。所述设定受理部受理所述阈值的设定。根据这样的结构，能够适当地设定成为判定更换时期时的基准的阈值。(5)另外，所述分析系统也可以还具备存储部和操作受理部。所述存储部存储使用所述光源的累积时间。所述操作受理部在更换了所述光源时，受理在所述存储部中存储的使用该光源的累积时间的重置操作。所述更换时期判定部也可以基于在由所述操作受理部受理了所述重置操作时由所述光检测器检测出的光的光量，来判定所述光学元件的更换时期。根据这样的结构，更换时期判定部在由操作受理部受理了累积时间的重置操作时，判定光学元件的更换时期。因此，能够通过更换时期判定部，在适当的定时下判定光学元件的更换时期。(6)另外，本专利技术涉及一种光学元件的更换时期判定方法，其是在分析系统中的所述光学元件的更换时期判定方法，所述分析系统具备：光源，其射出在分析中使用的光；光学元件，其使从所述光源射出的光反射或者透射；以及光检测器，其检测由所述光学元件反射或者透射后的光。所述光学元件的更换时期判定方法包括更换时期判定步骤。在所述更换时期判定步骤中，基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量，判定所述光学元件的更换时期。(7)另外，在所述更换时期判定步骤中，也可以在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量低于阈值的情况下，判定为是所述光学元件的更换时期。(8)另外，所述光学元件的更换时期判定方法也可以还包括光量预测步骤。在所述光量预测步骤中，在更换了所述光源时，预测在该光源的下一个更换时期由所述光检测器检测出的光的光量。在所述更换时期判定步骤中，也可以在通过所述光量预测步骤预测的光量低于阈值的情况下，判定为是所述光学元件的更换时期。专利技术效果根据本专利技术，通过更换时期判定部，在光源未发生劣化的状态下，基于由光检测器检测出的光的光量，判定光学元件的更换时期。因此，能够正确地判定光学元件的更换时期。其结果，能够适当地保持由光检测器检测的光的光量。附图说明图1是示出本专利技术的第1实施方式所涉及的分析系统的结构例的概略图。图2是示出图1的分光光度计的结构例的概略图。图3是示出图1的分析系统的电气结构的框图。图4是示出图1的管理终端中的控制动作的一个例子的流程图。图5是示出由图1的分光光度计的光检测器检测的光的光量的随时间变化的曲线图。图6是示出本专利技术的第2实施方式所涉及的分析系统的电气结构的框图。具体实施方式1.分析系统的结构图1是示出本专利技术的第1实施方式所涉及的分析系统10的结构例的概略图。分析系统10具备多个分光光度计1、存储装置11和管理终端12。各分光光度计1、存储装置11以及管理终端12能够经由网络N进行通信。在分析系统10中，将与来自各分光光度计1中的光源的光的光量相关的信息经由网络N储存到存储装置11中。管理终端12经由网络N读出在存储装置11中存储的信息，基于该读出的信息，判定各分光光度计1中的光学元件的更换时期(后述)。图2是示出分光本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种分析系统，其特征在于，具备：光源，其射出在分析中使用的光；光学元件，其使从所述光源射出的光反射或者透射；光检测器，其检测由所述光学元件反射或者透射后的光；更换时期判定部，其基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量，判定所述光学元件的更换时期。
【技术特征摘要】
2017.10.19 JP 2017-2024891.一种分析系统，其特征在于，具备：光源，其射出在分析中使用的光；光学元件，其使从所述光源射出的光反射或者透射；光检测器，其检测由所述光学元件反射或者透射后的光；更换时期判定部，其基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量，判定所述光学元件的更换时期。2.根据权利要求1所述的分析系统，其特征在于，在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量低于阈值的情况下，所述更换时期判定部判定为是所述光学元件的更换时期。3.根据权利要求1所述的分析系统，其特征在于，还具备光量预测部，该光量预测部在更换了所述光源时，预测在该光源的下一个更换时期中由所述光检测器检测出的光的光量，所述更换时期判定部在由所述光量预测部预测的光量低于阈值的情况下，判定为是所述光学元件的更换时期。4.根据权利要求2所述的分析系统，其特征在于，还具备受理所述阈值的设定的设定受理部。5.根据权利要求1所述的分析系统，其特征在于，还具备：存储部，其存储使用所述光源的累积时间；以及操作受理部，其在更换了所述光源时，受理在所述存储...
【专利技术属性】
技术研发人员：图子纯平，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP
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