一种抗光干扰的光取样计量仪表计数组件制造技术

本实用新型专利技术涉及计量仪表计数领域，尤其涉及抗光干扰的光取样计量仪表计数组件。它包括安装在控制器壳体内的计数器及与计数器对应设置的控制板，所述计数器包括计数器架，计数器架上设有取样输出齿轮，所述取样输出齿轮上设有光反射面，所述控制板上设有与光反射面对应设置的光电传感器，计数组件还包括设置在控制器壳体上的光防护件，所述光防护件包括与光电传感器对应设置的第一防护部及与光反射面对应设置的第二防护部。本实用新型专利技术方案既满足壳体色系又能实现干扰光对计量数据的防护，保证计数结果的准确度。

A Counting Module of Optical Sampling Metering Instrument Against Light Interference

The utility model relates to the counting field of metering instruments, in particular to the counting components of light sampling metering instruments against light interference. The counter includes a counter mounted in the controller shell and a control board corresponding to the counter. The counter includes a counter rack, a sampling output gear on the counter rack, a light reflecting surface on the sampling output gear, a photoelectric sensor corresponding to the light reflecting surface on the control board, and a counting module including an optical protection set on the controller shell. The light protective device includes a first protective part corresponding to the photoelectric sensor and a second protective part corresponding to the light reflection surface. The scheme of the utility model not only satisfies the hue system of the shell, but also realizes the protection of the interfering light to the metering data, and ensures the accuracy of the counting results.

【技术实现步骤摘要】
一种抗光干扰的光取样计量仪表计数组件
本技术涉及计量仪表计数
，尤其涉及抗光干扰的光取样计量仪表计数组件。
技术介绍
随着智能燃气表取样计数的改进升级，目前现有的取样计数计量方式由原来的磁取样优化升级为光电取样计量方式，光取样计量方式具有计量精确、功耗低的技术优点。光取样与磁取样计量方式相比，不会因外界磁场或人为磁攻击而影响计量准确度。但是光取样计量会受到干扰光线的干扰影响其计量准确性。现有产品设计中为了满足客户对外观的需求，一般将控制器壳体颜色设计成浅色系(如白色)，浅色系壳体有透光性及反光性较强，尤其是当遇到强光的情况下会使得客体内部光线增强。若在现有的光取样计量结构设计中，不对外界光线做防护，仅靠外罩壳体，外部光线的射入势必会导致对光取样的计量准确度进行干扰，影响计量结果的准确性。
技术实现思路
本技术的目的在于一定程度上解决上述技术问题提出一种抗光干扰的光取样计量仪表计数组件，既满足壳体色系设计要求又能实现干扰光对计量数据的防护，保证计数结果的准确度。一种抗光干扰的光取样计量仪表计数组件，包括安装在控制器壳体内的计数器及与计数器对应设置的控制板，所述计数器包括计数器架，计数器架上设有取样输出齿轮，所述取样输出齿轮上设有光反射面，所述控制板上设有与光反射面对应设置的光电传感器，计数组件还包括设置在控制器壳体上的光防护件，所述光防护件包括与光电传感器对应设置的第一防护部及与光反射面对应设置的第二防护部。进一步的方案，第一防护部包括与控制板交错设置的竖直遮挡部及水平遮挡部。进一步的方案，所述光反射面上延伸形成光保护环，所述第二防护部与所述光保护环交错设置。进一步的方案，所述第一防护部与第二防护部一体成型设置。进一步的方案，所述光反射面呈圆形，所述光反射面包括半圆白反射面及半圆黑反射面。进一步的方案，所述光电传感器包括分离设置的光发射器及光接收器。进一步的方案，所述光防护件为塑料件。进一步的方案，所述光防护件为黑色塑料件。进一步的方案，所述控制器壳体上设有固定柱，所述光防护件上设有固定孔，所述固定柱穿过固定孔热熔后将所述光防护件固定于控制器壳体上。进一步的方案，所述计数器架上还设有取样输入齿轮，所述取样输入齿轮通过过渡齿轮与取样输出齿轮连接。采用上述技术方案后，本技术具有如下优点：1、计数组件还包括设置在控制器壳体上的光防护件，所述光防护件包括与光电传感器对应设置的第一防护部及与光反射面对应设置的第二防护部。本技术方案采用局部保护法重点保护光取样信号传递的“关键路径”也即光反射面与光电传感器，使得光电传感器发送到光反射面上的光线以及光反射面反射到光电传感器的光线不受外部光线的干扰，保证了计量的准确度及精度。2、进一步的方案，第一防护部包括与控制板交错设置的竖直遮挡部及水平遮挡部。所述光反射面上延伸形成光保护环，所述第二防护部与所述光保护环交错设置。所述第一防护部与第二防护部一体成型设置。交错防护可以有效遮挡外部光线对计量光线的干扰，同时一体成型便于出模、装配同时隔光效果更好。3、光防护件安装在上盖组件和取样输出齿轮之间，与控制板背面贴合，光防护件一部分处于控制板上光电传感器位置的背面，可以遮挡来自上盖正面射入到内部采样区域的外界光源，另外，光防护件的外围挡筋高于光保护环上表面，作为优选，挡光板外围挡筋高于采样齿轮光保护环的高度尺寸需大于0.5mm，以保证完全遮挡来自上盖侧面射入的外界光线干扰。4、所述光防护件为塑料件。所述光防护件为黑色塑料件。黑色或其它暗色如灰色挡光效果更佳，保护性能更优。附图说明下面结合附图对本技术作进一步说明：图1为本技术控制器壳体及计数组件爆炸图；图2为本技术光保护环立体示意图；图3为本技术计数组件部分局部剖放大图。具体实施方式以下结合附图及具体实施例，对本技术作进一步的详细说明。除上述优选实施例外，本技术还有其他的实施方式，本领域技术人员可以根据本技术作出各种改变和变形，只要不脱离本技术的精神，均应属于本技术所附权利要求所定义的范围。如1～图3所示，一种抗光干扰的光取样计量仪表计数组件，可应用在燃气表、水表、工业计量表等产品上。计数组件包括安装在控制器壳体10内的计数器20及与计数器20对应设置的控制板30，所述计数器20包括计数器架21，计数器架21上设有取样输出齿轮22，所述计数器架21上还设有取样输入齿轮(图中未标出)取样输入齿轮设置在计数器架21的背部，取样输入齿轮连接基表传动件，将计量信号转动传递计数器20的字轮组以及取样输出齿轮22，所述取样输入齿轮通过过渡齿轮与取样输出齿轮22连接。所述取样输出齿轮22上设有光反射面220，取样输出齿轮22转动带动光反射面220的转动，所述控制板30上设有与光反射面220对应设置的光电传感器，所述光反射面220呈圆形，所述光反射面220包括半圆白反射面及半圆黑反射面。所述光电传感器包括分离设置的光发射器31及光接收器32。光发射器31发送光线到光反射面220，光反射面220将光线进行反射经光接收器32接收，由于在光反射面220转动过程中，半圆白反射面及半圆黑反射面交替对光线进行反射，且两者的反光强度不同，这样就可以通过分析光电接收器32接收到光信号强度实现计数脉冲信号的计量。本方案中为了保证计量信号的准确度及精度，计数组件还包括设置在控制器壳体10上的光防护件40，所述光防护件40包括与光电传感器对应设置的第一防护部41及与光反射面220对应设置的第二防护部42。所述控制器壳体10上设有固定柱50，所述光防护件40上设有固定孔43，所述固定柱50穿过固定孔43热熔后将所述光防护件40固定于控制器壳体10上。将光防护件40两固定孔放在控制器壳体10的两热熔固定柱上，再用热熔设备对两铆接柱热熔压铆固定。工艺简单，固定可靠。如图2所示，第一防护部41包括与控制板30交错设置的竖直遮挡部411及水平遮挡部412。所述光反射面220上延伸形成光保护环221，所述第二防护部42与所述光保护环221交错设置。第二防护部42部分包络光保护环221。所述第一防护部41与第二防护部42一体成型设置。当然也可以分体设置，本实施例为了出模方便采用一体成型设置。第二防护部42的高度高于光保护环221的高度，高出的尺寸需大于0.5mm，以保证完全遮挡来自控制器壳体10侧面射入的外界光线干扰。同时光防护件40的分部设置可以有效遮挡读数视窗透过的光线。本实施例方案中，所述光防护件40的材质为塑料件。所述光防护件40为黑色塑料件。当然也可以为其它暗色系对光线有较好的吸收遮挡作用的颜色如浅黑色、灰色等。本方案中由于增加了光保护件40，使得外界光线的射入量相对减少很多，加之有光保护环221的遮光作用，侧面射入的角度偏大，最终射入到采样区的光线很少，避免了干扰光线，保证计量准确性。除上述优选实施例外，本技术还有其他的实施方式，本领域技术人员可以根据本技术作出各种改变和变形，只要不脱离本技术的精神，均应属于本技术所附权利要求所定义的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种抗光干扰的光取样计量仪表计数组件，包括安装在控制器壳体内的计数器及与计数器对应设置的控制板，所述计数器包括计数器架，计数器架上设有取样输出齿轮，所述取样输出齿轮上设有光反射面，所述控制板上设有与光反射面对应设置的光电传感器，其特征在于：还包括设置在控制器壳体上的光防护件，所述光防护件包括与光电传感器对应设置的第一防护部及与光反射面对应设置的第二防护部。

【技术特征摘要】
1.一种抗光干扰的光取样计量仪表计数组件，包括安装在控制器壳体内的计数器及与计数器对应设置的控制板，所述计数器包括计数器架，计数器架上设有取样输出齿轮，所述取样输出齿轮上设有光反射面，所述控制板上设有与光反射面对应设置的光电传感器，其特征在于：还包括设置在控制器壳体上的光防护件，所述光防护件包括与光电传感器对应设置的第一防护部及与光反射面对应设置的第二防护部。2.根据权利要求1所述的抗光干扰的光取样计量仪表计数组件，其特征在于，第一防护部包括与控制板交错设置的竖直遮挡部及水平遮挡部。3.根据权利要求1所述的抗光干扰的光取样计量仪表计数组件，其特征在于，所述光反射面上延伸形成光保护环，所述第二防护部与所述光保护环交错设置。4.根据权利要求1所述的抗光干扰的光取样计量仪表计数组件，其特征在于，所述第一防护部与第二防护部一体成型设置。5.根据权利要求1～4任意一项所述的抗光干扰的光取...

【专利技术属性】
技术研发人员：李娟，朱艾维，王志禹，盛成龙，
申请(专利权)人：金卡智能集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33