天线装置以及测量方法制造方法及图纸

技术编号:20943195 阅读:49 留言:0更新日期:2019-04-24 01:53
本发明专利技术提供天线装置,在被测量装置的发送接收性能的评价中,能够在近场进行EVM的测量,同时能够在近场测量被测量装置的接收灵敏度。用于评价具有以规定的间隔排列的多个天线元件构成的阵列天线(110)的被测量装置的发送特性或者接收特性的天线装置,包括:天线(210),接收被测量装置经由阵列天线发射的调制信号、或者对阵列天线发射调制信号;移动装置(200),使天线在形成与配置了多个天线元件的阵列天线的平面平行的xy面的相互垂直的x轴和y轴、与该平面垂直的z轴的方向上移动;以及控制单元(500),进行控制,以通过移动装置,使天线移动到近场的区域内调制信号的群延迟失真降低的位置。

Antenna devices and measurement methods

The invention provides an antenna device, which can measure the EVM in the near field and the receiving sensitivity of the measured device in the near field in the evaluation of the transmitting and receiving performance of the measured device. An antenna device for evaluating the transmission or reception characteristics of an array antenna (110) consisting of a plurality of antenna elements arranged at a specified interval, including an antenna (210), receiving a modulated signal transmitted by the measured device via an array antenna, or transmitting a modulated signal to an array antenna, and a mobile device (200), so that the antenna is formed and configured with multiple antennas. The X-axis and y-axis perpendicular to each other and the z-axis perpendicular to the plane of the element array antenna are moved upwards, and the control unit (500) is controlled to move the antenna to a position where the group delay distortion of the modulated signal in the near field is reduced by means of a moving device.

【技术实现步骤摘要】
天线装置以及测量方法
本专利技术涉及天线装置以及测量方法。
技术介绍
正在研究在与大规模MIMO(MassiveMIMO)或波束成形对应的基站中,多个天线元件被排列为格子状的大规模阵列天线的利用。天线元件的数目具体地说为16×16或64×64等。在这样的毫米波段的大规模的阵列天线中,难以与发送接收的RF电路分离而仅测量天线,希望建立通过测量在大气中传播的信号,测量阵列天线的激振状态的技术。而且,在这样的毫米波段的大规模的阵列天线中,难以与发送接收的RF电路分离而测量发送接收装置的性能,希望建立通过供给在大气中传播的信号,评价接收灵敏度等接收系统的性能的技术。【现有技术文献】【专利文献】日本专利申请特愿2016-63628号
技术实现思路
专利技术要解决的课题在将发送接收机不与被测量天线分离的发送接收装置作为被测量装置的发送接收性能的评价中,以往,在作为发送评价的一个项目的指向性评价中使用了近场测量。在通过近场测量求出远场指向性时,通常,沿着从被测量天线离开3λ左右的面扫描探测器天线。这里,λ是从发送信号的频率求出的波长。这是因为,若离被测量天线的距离接近,则被测量天线和探测器天线间的多重本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种天线装置,用于评价具有以规定的间隔排列为平面状的多个天线元件构成的阵列天线(110)的被测量装置的发送特性或者接收特性,其特征在于,所述天线装置包括:天线(210),接收所述被测量装置经由所述阵列天线发射的调制信号,或者对所述阵列天线发射调制信号,所述天线被配置在近场的区域内与所述调制信号的群延迟失真降低的所述多个天线元件形成的平面相垂直的z轴上的位置。

【技术特征摘要】
2017.10.13 JP 2017-199389;2017.10.30 JP 2017-209121.一种天线装置,用于评价具有以规定的间隔排列为平面状的多个天线元件构成的阵列天线(110)的被测量装置的发送特性或者接收特性,其特征在于,所述天线装置包括:天线(210),接收所述被测量装置经由所述阵列天线发射的调制信号,或者对所述阵列天线发射调制信号,所述天线被配置在近场的区域内与所述调制信号的群延迟失真降低的所述多个天线元件形成的平面相垂直的z轴上的位置。2.如权利要求1所述的天线装置,其特征在于,包括:移动装置(200),使天线在所述z轴的方向上移动;以及控制单元(500),使所述天线移动到所述位置。3.如权利要求1或2所述的天线装置,其特征在于,还包括:信号解析单元(300),在所述群延迟失真降低的位置,所述天线接收由所述被测量装置发送的调制信号,所述信号解析单元进行所述天线接收到的所述调制信号的误差矢量幅度EVM的计算。4.如权利要求1或2所述的天线装置,其特征在于,还包括:信号发生单元(400),产生用于评价所述被测量装置的接收特性的调制信号,经由被配置在所述群延迟失真降低的位置的所述天线(210),对所述被测量装置发射在所述信号发生单元中产生的调制信号,所述被测量装置接收经由所述天线发射的调制信号,计算所述被测量装置接收的该调制信号的接收灵敏度。5.如权利要求3所述的天线装置,其特征在于,还包括:信号发生单元(400),产生用于评价所述被测量装置的接收特性的调制信号,经由被配置在所述群延迟失真降低的位置的所述天线(210),对所述被测量装置发射在所述信号发生单元中产生的调制信号,所述被测量装置接收经由所述天线发射的调制信号,计算所述被测量装置接收的该调制信号的接收灵敏度。6.如权利要求1至5的任意一项所述的天线装置,其特征在于,还包括:数据存储单元,存储所述被测量天线以及所述调制信号的信...

【专利技术属性】
技术研发人员:野田华子
申请(专利权)人:安立股份有限公司
类型:发明
国别省市:日本,JP

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