一种原子荧光光度计用进样试管架制造技术

本实用新型专利技术提供一种原子荧光光度计用进样试管架，包括底板，底板的上表面两侧设有立板，两立板之间的上部设有上夹板和下夹板，上夹板和下夹板之间设有弹簧二，弹簧二的一端固定在一个立板上，弹簧二的另一端连有活动板，另外一个立板上设有与活动板相对应的通槽一，活动板的另一端伸出通槽一并连有挡板，活动板远离弹簧二一端的前端设有通槽二，通槽二的内部活动插接有插杆，上夹板和下夹板上设有若干第一通孔，活动板上设有若干第二通孔，两立板之间的下部设有支撑座，支撑座上设有若干与第一通孔对应的第三通孔，下夹板上设置的第一通孔和与其对应的第三通孔之间设有保温套，支撑座的下表面设有与第三通孔相对应的底部封闭的金属伸缩管。

A Sampling Test Tube Frame for Atomic Fluorescence Spectrometer

The utility model provides a sampling test tube stand for atomic fluorescence photometer, which comprises a bottom plate, a vertical plate on both sides of the upper surface of the bottom plate, an upper splint and a lower splint between the two vertical plates, and a spring two between the upper splint and the lower splint. One end of the spring two is fixed on a vertical plate, the other end of the spring two is connected with a movable plate, and the other vertical plate is provided with a movable plate phase. Corresponding to the first through slot, the other end of the movable plate extends the through slot and is connected with a baffle. The front end of the movable plate is far from the second end of the spring, and the front end of the movable plate is provided with a through slot 2. The internal movable socket of the through slot 2 is provided with a socket rod. The upper and lower splints are provided with a number of first through holes, the movable plate is provided with a number of second through holes, the lower part between the two vertical plates is provided with a support The corresponding third through hole, the first through hole arranged on the lower splint and the corresponding third through hole are provided with an insulating sleeve, and the lower surface of the support seat is provided with a closed metal expansion pipe corresponding to the third through hole at the bottom.

【技术实现步骤摘要】
一种原子荧光光度计用进样试管架
本技术涉及试管架
，尤其涉及一种原子荧光光度计用进样试管架。
技术介绍
原子荧光光谱分析(AFS)是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术，它是原子吸收和原子发射光谱的综合和发展，是一种优良的痕量分析技术，常用来进行环境中重金属元素含量的检测。在利用原子荧光分光光度计检测的过程中，需要测试多组样品，进而需要用到放置多组样品的进样试管架。现有的试管架通常为固定结构，在架体上设置多组插孔，将试管直接插接在插孔内即可；但是由于测试过程中，有可能使用不同型号的试管，而一般的试管架难以适应不同长度的试管，如果试管架适合放置短试管，则长试管的露出长度太多，稳定性较差，如果试管架适合放置长试管，则短试管露出长度太短，不易取出；而且当试管的孔径发生变化后，试管容易在插孔内晃动，使得试管中的溶液容易泼洒出来，影响测试的准确性。
技术实现思路
本技术正是针对以上技术问题，提供一种原子荧光光度计用进样试管架。本技术为实现上述目的，采用以下技术方案：一种原子荧光光度计用进样试管架，包括底板，其特征在于，底板的下表面设有若干凹槽，凹槽的内顶部设有弹簧一，弹簧一的下端固定连有缓冲板，缓冲板的下表面中央设有支撑杆，支撑杆的下端伸出凹槽并连有底座，底板的上表面两侧设有立板，两立板之间的上部设有上夹板和下夹板，上夹板和下夹板之间设有弹簧二，弹簧二的一端固定在一个立板上，弹簧二的另一端连有活动板，另外一个立板上设有与活动板相对应的通槽一，活动板的另一端伸出通槽一并连有挡板，活动板远离弹簧二一端的前端设有通槽二，通槽二的内部活动插接有插杆，上夹板和下夹板上设有若干第一通孔，活动板上设有若干第二通孔，两立板之间的下部设有支撑座，支撑座上设有若干与第一通孔对应的第三通孔，下夹板上设置的第一通孔和与其对应的第三通孔之间设有保温套，支撑座的下表面设有与第三通孔相对应的金属伸缩管，且金属伸缩管的底部封闭。所述挡板的外侧固定连有拉手，拉手的另一端固定连有防脱块。所述插杆的顶部固定连有软绳，软绳的另一端固定连有固定在立板上的固定块。所述第一通孔、第二通孔和第三通孔的内壁都设有橡胶软垫。所述金属伸缩管的底部通过橡胶垫封闭，橡胶垫的底部设有配重块。所述底座的底部设有锯齿形结构的橡胶防滑纹。与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术由于不同长度试管的重力不同，从而使金属伸缩管的伸长程度不同，故而适合放置不同长度的试管；且在需要取出试管时，可以向上推动金属伸缩管使其收缩，即可使试管的上端伸出上夹板上设置的第一通孔的外侧，方便试管的拿取；而且放好试管后，可将插杆从通槽二中拔出，弹簧二收缩带动活动板移动，进而将试管夹紧，防止试管晃动，避免了由于溶液泼洒而导致的不准确性。附图说明图1为本技术的结构示意图；图中：1、底板；2、凹槽；3、弹簧一；4、缓冲板；5、支撑杆；6、底座；7、立板；8、上夹板；9、下夹板；10、弹簧二；11、活动板；12、通槽一；13、挡板；14、插杆；15、第一通孔；16、第二通孔；17、支撑座；18、第三通孔；19、保温套；20、金属伸缩管；21、拉手；22、防脱块；23、软绳；24、固定块；25、橡胶垫；26、配重块；27、橡胶防滑纹。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作进一步说明：如图1所示，一种原子荧光光度计用进样试管架，包括底板1，底板1的下表面设有若干凹槽2，凹槽2的内顶部设有弹簧一3，弹簧一3的下端固定连有缓冲板4，缓冲板4的下表面中央设有支撑杆5，支撑杆5的下端伸出凹槽2并连有底座6，底板1的上表面两侧设有立板7，两立板7之间的上部设有上夹板8和下夹板9，上夹板8和下夹板9之间设有弹簧二10，弹簧二10的一端固定在一个立板7上，弹簧二10的另一端连有活动板11，另外一个立板7上设有与活动板11相对应的通槽一12，活动板11的另一端伸出通槽一12并连有挡板13，活动板11远离弹簧二10一端的前端设有通槽二，通槽二的内部活动插接有插杆14，上夹板8和下夹板9上设有若干第一通孔15，活动板11上设有若干第二通孔16，两立板7之间的下部设有支撑座17，支撑座17上设有若干与第一通孔15对应的第三通孔18，下夹板9上设置的第一通孔15和与其对应的第三通孔18之间设有保温套19，支撑座17的下表面设有与第三通孔18相对应的金属伸缩管20，且金属伸缩管20的底部封闭。所述挡板13的外侧固定连有拉手21，拉手21的另一端固定连有防脱块22。所述插杆14的顶部固定连有软绳23，软绳23的另一端固定连有固定在立板7上的固定块24。所述第一通孔15、第二通孔16和第三通孔18的内壁都设有橡胶软垫。所述金属伸缩管20的底部通过橡胶垫25封闭，橡胶垫25的底部设有配重块26。所述底座6的底部设有锯齿形结构的橡胶防滑纹27。本技术使用时，将插杆14插入通槽二中，此时弹簧二10处于拉伸状态，且第一通孔15、第二通孔16和第三通孔18处于同一竖直线上，将试管放入第一通孔15、第二通孔16和第三通孔18中，放置好试管后，再将插杆14从通槽二中拔出，弹簧二10收缩带动活动板11移动，活动板11上设置的第二通孔16随之移动，第一通孔15和第二通孔16的位置发生变化，将试管夹紧，能防止试管晃动；在需要取出试管时，可以向上推动金属伸缩管20使其收缩，即可使试管的上端伸出上夹板8上设置的第一通孔15的外侧，方便试管的拿取；而且设置的弹簧一3和橡胶防滑纹27能有效的降低试管取放过程中产生的振动，提高了试管架的使用安全性。上面结合附图对本技术进行了示例性描述，显然本技术具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本技术的方法构思和技术方案进行的各种改进，或未经改进直接应用于其它场合的，均在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种原子荧光光度计用进样试管架，包括底板(1)，其特征在于，底板(1)的下表面设有若干凹槽(2)，凹槽(2)的内顶部设有弹簧一(3)，弹簧一(3)的下端固定连有缓冲板(4)，缓冲板(4)的下表面中央设有支撑杆(5)，支撑杆(5)的下端伸出凹槽(2)并连有底座(6)，底板(1)的上表面两侧设有立板(7)，两立板(7)之间的上部设有上夹板(8)和下夹板(9)，上夹板(8)和下夹板(9)之间设有弹簧二(10)，弹簧二(10)的一端固定在一个立板(7)上，弹簧二(10)的另一端连有活动板(11)，另外一个立板(7)上设有与活动板(11)相对应的通槽一(12)，活动板(11)的另一端伸出通槽一(12)并连有挡板(13)，活动板(11)远离弹簧二(10)一端的前端设有通槽二，通槽二的内部活动插接有插杆(14)，上夹板(8)和下夹板(9)上设有若干第一通孔(15)，活动板(11)上设有若干第二通孔(16)，两立板(7)之间的下部设有支撑座(17)，支撑座(17)上设有若干与第一通孔(15)对应的第三通孔(18)，下夹板(9)上设置的第一通孔(15)和与其对应的第三通孔(18)之间设有保温套(19)，支撑座(17)的下表面设有与第三通孔(18)相对应的金属伸缩管(20)，且金属伸缩管(20)的底部封闭。...

【技术特征摘要】
1.一种原子荧光光度计用进样试管架，包括底板(1)，其特征在于，底板(1)的下表面设有若干凹槽(2)，凹槽(2)的内顶部设有弹簧一(3)，弹簧一(3)的下端固定连有缓冲板(4)，缓冲板(4)的下表面中央设有支撑杆(5)，支撑杆(5)的下端伸出凹槽(2)并连有底座(6)，底板(1)的上表面两侧设有立板(7)，两立板(7)之间的上部设有上夹板(8)和下夹板(9)，上夹板(8)和下夹板(9)之间设有弹簧二(10)，弹簧二(10)的一端固定在一个立板(7)上，弹簧二(10)的另一端连有活动板(11)，另外一个立板(7)上设有与活动板(11)相对应的通槽一(12)，活动板(11)的另一端伸出通槽一(12)并连有挡板(13)，活动板(11)远离弹簧二(10)一端的前端设有通槽二，通槽二的内部活动插接有插杆(14)，上夹板(8)和下夹板(9)上设有若干第一通孔(15)，活动板(11)上设有若干第二通孔(16)，两立板(7)之间的下部设有支撑座(17)，支撑座(17)上设有若干与第一通孔(15)对应的第三通孔(18)，下夹板(9)上设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚旭，高蕾，赵宇，
申请(专利权)人：天津华勘商品检验有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12