【技术实现步骤摘要】
用于监测传感器功能的方法
本专利技术涉及一种用于监测传感器功能的方法。
技术介绍
对于监测过程而言，出于过程优化的原因或者为了监测并维持极限值，操作简单、安全性和可靠性是对于测量点的重要要求。测量点为操作员提供测量值和有关测量点的当前状态的信息。在这种情况下，例如监测当前是否超过了极限值，或者传感器的特定参数——诸如pH传感器的玻璃阻抗——是否以及如何保持。监测涉及当前的事件。与传感器的价格相比，系统故障或者甚至系统失效都会产生非常高的成本。因此重要的是提前最大程度地解决测量点的这种故障。在这种情况下，正确且安全的测量值是尤为重要的。WO2004/025223描述了一种用于监测传感器功能的方法，其中基于诸如周期性记录的校准数据的传感器参数随时间的变化给出针对传感器的剩余使用寿命直到需要更换的预测。然而，无关剩余使用寿命的问题，有必要在整个的使用寿命期间尽可能可靠地确定传感器的测量精度。为了实现这种可靠性，现在的操作员在重要过程中必须非常频繁地执行重新校准/重新调整，即使传感器系统仍将足够正常地工作。特别是，因此不必要地使用了时间和材料。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种用于监测传感器功能的方法，以及一种具有用于功能监测的集成系统的传感器。该目的通过本专利技术的主题实现。本专利技术的主题是一种用于监测传感器功能的方法，包括：-校准传感器，其中确定并存储至少一个校准参数的校准值，-重复校准，直到可以确定至少一个校准参数的校准值的趋势，-根据至少一个校准参数的校准值确定趋势线，-校准传感器，其中基于趋势线估计的校准值被用作至少一个校准参数的理论校准值。...
【技术保护点】
1.一种用于监测传感器的功能的方法，包括：‑校准所述传感器，其中确定并存储至少一个校准参数的校准值(3)，‑重复所述校准，直到能够确定所述至少一个校准参数的所述校准值(3)的趋势，‑根据所述至少一个校准参数的所述校准值(3)来确定趋势线(1)，‑校准所述传感器，其中基于所述趋势线估计的校准值被用作所述至少一个校准参数的理论校准值。
【技术特征摘要】
2017.10.06 DE 102017123248.61.一种用于监测传感器的功能的方法，包括：-校准所述传感器，其中确定并存储至少一个校准参数的校准值(3)，-重复所述校准，直到能够确定所述至少一个校准参数的所述校准值(3)的趋势，-根据所述至少一个校准参数的所述校准值(3)来确定趋势线(1)，-校准所述传感器，其中基于所述趋势线估计的校准值被用作所述至少一个校准参数的理论校准值。2.根据权利要求1所述的方法，其中，在特定的时间间隔之后进行所述校准。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述至少一个校准参数是例如校准线的校准函...
【专利技术属性】
技术研发人员：通贾伊·GC·利菲拉特，
申请(专利权)人：恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE
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