破片检测装置及破片检测方法制造方法及图纸

技术编号:20863996 阅读:55 留言:0更新日期:2019-04-17 08:55
本发明专利技术提供一种破片检测装置及破片检测方法。该破片检测装置包括:运送单元、第一检测单元、第二检测单元及控制单元,所述运送单元、第一检测单元及第二检测单元均与所述控制单元电性连接;所述第一检测单元和第二检测单元间隔设置,且所述第一检测单元和第二检测单元均为沿第一方向延伸的条状,所述运送单元能带动基板沿不同于第一方向的第二方向穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域,使得条状的第一检测单元和第二检测单元能对所述基板表面进行整面扫描,以实现破片检测,从而提升破片检测的全面性和准确率,避免因破片造成机台损伤。

【技术实现步骤摘要】
破片检测装置及破片检测方法
本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种破片检测装置及破片检测方法。
技术介绍
随着显示技术的发展,液晶显示器(LiquidCrystalDisplay,LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点,而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品,成为显示装置中的主流。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器,其包括液晶显示面板及背光模组(backlightmodule)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子,两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线,通过通电与否来控制液晶分子改变方向,将背光模组的光线折射出来产生画面。通常液晶显示面板由彩膜基板(CF,ColorFilter)、薄膜晶体管基板(TFT,ThinFilmTransistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC,LiquidCrystal)及密封胶框(Sealant)组成,其成型工艺一般包括:前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中,前段Array制程主要是形成TFT基板,以便于控制液晶分子的运动;中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶;后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合,进而驱动液晶分子转动,显示图像。随着发展大尺寸显示面板应用越来越广泛,玻璃基板的尺寸也越来越大,随之而来由于机台的尺寸也需要更大,构造也更加复杂,玻璃基板破片的风险也越来越大,尤其是在上下游机台之间传送玻璃基板时,若无法有效拦截破片,未被拦截的破片进入下游机台,将严重影响多个下游机台的正常工作,甚至对下游机台造成损害,导致生产效率降低,生产成本提升,现有的破片检测通常只对玻璃基板的局部进行检测,例如玻璃基板的四角或一侧边缘,这种局部检测由于检测不够全面,导致检测准确率较低,存在大量的漏检,已无法满足现今的生产要求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种破片检测装置,能够提升破片检测的全面性和准确率,避免因破片造成机台损伤。本专利技术的目的还在于提供一种破片检测方法,能够提升破片检测的全面性和准确率,避免因破片造成机台损伤。为实现上述目的,本专利技术提供了一种破片检测装置,包括:运送单元、第一检测单元、第二检测单元及控制单元,所述运送单元、第一检测单元及第二检测单元均与所述控制单元电性连接;所述第一检测单元和第二检测单元间隔设置,且所述第一检测单元和第二检测单元均为沿第一方向延伸的条状;所述运送单元用于带动基板沿不同于第一方向的第二方向穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域;所述第一检测单元用于在所述基板穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域时,对所述基板靠近所述第一检测单元的一侧表面进行整面扫描;所述第二检测单元用于在所述基板穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域时,对所述基板靠近所述第二检测单元的一侧表面进行整面扫描;所述控制单元用于获取所述第一检测单元及第二检测单元的扫描结果,并根据所述扫描结果判定所述基板是否存在破片。所述第一方向垂直于第二方向。所述第一检测单元及第二检测单元均为相机,所述控制单元从第一检测单元及第二检测单元获取的扫描结果为所述基板靠近所述第一检测单元的一侧表面的图像及所述基板靠近所述第二检测单元的一侧表面的图像;所述控制单元通过将所述基板靠近所述第一检测单元的一侧表面的图像与预设的第一标准图像进行比较以及将所述基板靠近所述第二检测单元的一侧表面的图像与预设的第二标准图像进行比较,判断所述所述基板是否存在破片。所述运送单元还用于在带动基板穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域之前将所述基板从上游制程机台中取出。所述控制单元还用于在判定所述基板未发生破片时,控制所述运送单元将所述基板运送至下游制程机台,以及在判定所述基板发生破片时,控制所述运送单元停止运送所述基板至下游制程机台,并发出破片警告。本专利技术还提供一种破片检测方法,包括如下步骤:步骤S1、提供一破片检测装置,包括:运送单元、第一检测单元、第二检测单元及控制单元,所述运送单元、第一检测单元及第二检测单元均与所述控制单元电性连接;所述第一检测单元和第二检测单元间隔设置,且所述第一检测单元和第二检测单元均为沿第一方向延伸的条状;步骤S2、所述运送单元带动基板沿不同于第一方向的第二方向穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域;步骤S3、所述第一检测单元在所述基板穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域时,对所述基板靠近所述第一检测单元的一侧表面进行整面扫描;步骤S4、所述第二检测单元在所述基板穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域时,对所述基板靠近所述第二检测单元的一侧表面进行整面扫描;步骤S5、所述控制单元获取所述第一检测单元及第二检测单元的扫描结果,并根据所述扫描结果判定所述基板是否存在破片。所述第一方向垂直于第二方向。所述第一检测单元及第二检测单元均为相机,所述步骤S5中,所述控制单元从第一检测单元及第二检测单元获取的扫描结果为所述基板靠近所述第一检测单元的一侧表面的图像及所述基板靠近所述第二检测单元的一侧表面的图像;所述控制单元通过将所述基板靠近所述第一检测单元的一侧表面的图像与预设的第一标准图像进行比较以及将所述基板靠近所述第二检测单元的一侧表面的图像与预设的第二标准图像进行比较,判断所述所述基板是否存在破片。所述步骤S2还包括,运送单元在带动基板穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域之前将所述基板从上游制程机台中取出。所述步骤S5中还包括:所述控制单元在判定所述基板未发生破片时,控制所述运送单元将所述基板运送至下游制程机台,在判定所述基板发生破片时,控制所述运送单元停止运送所述基板至下游制程机台,并发出破片警告。本专利技术的有益效果:本专利技术提供了一种破片检测装置,包括:运送单元、第一检测单元、第二检测单元及控制单元,所述运送单元、第一检测单元及第二检测单元均与所述控制单元电性连接;所述第一检测单元和第二检测单元间隔设置,且所述第一检测单元和第二检测单元均为沿第一方向延伸的条状;所述运送单元用于带动基板沿不同于第一方向的第二方向穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域;所述第一检测单元和第二检测单元用于在所述基板穿越所述第一检测单元和第二检测单元之间的区域时,对所述基板表面进行整面扫描;所述控制单元用于获取所述第一检测单元及第二检测单元的扫描结果,并根据所述扫描结果判定所述基板是否存在破片,通过条状第一检测单元和第二检测单元对所述基板表面进行整面扫描来检测破片,能够提升破片检测的全面性和准确率,避免因破片造成机台损伤。附图说明为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
,请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本专利技术加以限制。附图中,图1为本专利技术的破片检测装置的示意图;图2及图3为本专利技术的破片检测装置的工作过程图;图4为本专利技术的破片检测方法的流程图。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果,以下结合本专利技术本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种破片检测装置,其特征在于,包括:运送单元(10)、第一检测单元(20)、第二检测单元(30)及控制单元(40),所述运送单元(10)、第一检测单元(20)及第二检测单元(30)均与所述控制单元(40)电性连接;所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)间隔设置,且所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)均为沿第一方向延伸的条状;所述运送单元(10)用于带动基板(100)沿不同于第一方向的第二方向穿越所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)之间的区域;所述第一检测单元(20)用于在所述基板(100)穿越所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)之间的区域时,对所述基板(100)靠近所述第一检测单元(20)的一侧表面进行整面扫描;所述第二检测单元(30)用于在所述基板(100)穿越所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)之间的区域时,对所述基板(100)靠近所述第二检测单元(30)的一侧表面进行整面扫描;所述控制单元(40)用于获取所述第一检测单元(20)及第二检测单元(30)的扫描结果,并根据所述扫描结果判定所述基板(100)是否存在破片。

【技术特征摘要】
1.一种破片检测装置,其特征在于,包括:运送单元(10)、第一检测单元(20)、第二检测单元(30)及控制单元(40),所述运送单元(10)、第一检测单元(20)及第二检测单元(30)均与所述控制单元(40)电性连接;所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)间隔设置,且所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)均为沿第一方向延伸的条状;所述运送单元(10)用于带动基板(100)沿不同于第一方向的第二方向穿越所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)之间的区域;所述第一检测单元(20)用于在所述基板(100)穿越所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)之间的区域时,对所述基板(100)靠近所述第一检测单元(20)的一侧表面进行整面扫描;所述第二检测单元(30)用于在所述基板(100)穿越所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)之间的区域时,对所述基板(100)靠近所述第二检测单元(30)的一侧表面进行整面扫描;所述控制单元(40)用于获取所述第一检测单元(20)及第二检测单元(30)的扫描结果,并根据所述扫描结果判定所述基板(100)是否存在破片。2.如权利要求1所述的破片检测装置,其特征在于,所述第一方向垂直于第二方向。3.如权利要求1所述的破片检测装置,其特征在于,所述第一检测单元(20)及第二检测单元(30)均为相机,所述控制单元(40)从第一检测单元(20)及第二检测单元(30)获取的扫描结果为所述基板(100)靠近所述第一检测单元(20)的一侧表面的图像及所述基板(100)靠近所述第二检测单元(30)的一侧表面的图像;所述控制单元(40)通过将所述基板(100)靠近所述第一检测单元(20)的一侧表面的图像与预设的第一标准图像进行比较以及将所述基板(100)靠近所述第二检测单元(30)的一侧表面的图像与预设的第二标准图像进行比较,判断所述基板(100)是否存在破片。4.如权利要求1所述的破片检测装置,其特征在于,所述运送单元(10)还用于在带动基板(100)穿越所述第一检测单元(20)和第二检测单元(30)之间的区域之前将所述基板(100)从上游制程机台中取出。5.如权利要求1所述的破片检测装置,其特征在于,所述控制单元(40)还用于在判定所述基板(100)未发生破片时,控制所述运送单元(10)将所述基板(100)运送至下游制程机台,以及在判定所述基板(100)发生破片时,控制所述运送单元(10)停止运送所述基板(100)至下游制程机台,并发出破片警告。6.一种破片检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨洋梁基惠黄伟
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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