一种镀膜设备的调试方法和调试机台技术

技术编号:20836491 阅读:47 留言:0更新日期:2019-04-13 08:12
本发明专利技术公开了一种镀膜设备的调试方法和调试机台。调试方法步骤包括:准备测试用素玻璃;将测试用素玻璃进行镀膜;对镀膜后的测试用素玻璃进行检测,若符合标准,判定镀膜设备调试成功;若不符合标准,判定镀膜设备调试失败,执行对镀膜后的测试用素玻璃进行拔膜的步骤,并重新执行将测试用素玻璃进行镀膜的步骤。通过循环不断的检测,使镀膜设备调试出最好的参数,进行产品的大量生产,提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种镀膜设备的调试方法和调试机台
本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种镀膜设备的调试方法和调试机台。
技术介绍
随着显示技术的发展,人们对显示面板的需求量越来越大。在显示面板的制作过程中,需要对素玻璃通过镀膜设备,诸如真空离子镀膜设备(PhysicalVaporDeposition,PVD)进行镀膜的操作,镀膜设备镀膜后进行后续的制作,诸如曝光显影蚀刻等,以形成显示面板。在镀膜的过程中,因为镀膜技术以及成膜环境的要求比较高,比如说膜厚要求等,在镀膜设备重启或者产品规格以及镀膜环境发生变化后,镀膜时容易出现不符合预设要求的情况,造成产品不合格和材料的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种防止镀膜设备宕机,提高素玻璃利用率的一种镀膜设备的调试方法和调试机台。本专利技术公开了一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,包括步骤:A:准备测试用素玻璃;B:将测试用素玻璃进行镀膜;C:对镀膜后的测试用素玻璃进行检测,若符合标准,判定镀膜设备调试成功;若不符合标准,判定镀膜设备调试失败,执行步骤D;D:对镀膜后的素玻璃进行拔膜,对镀膜设备进行调试后,重新执行步骤B。可选的,所述步骤B中,还包括初始化当前拔膜次数M=0的步骤;所述步骤D中,还包括记录拔膜次数M=M+1的步骤;所述步骤D中,在对镀膜后的素玻璃进行拔膜的步骤之后,还包括以下步骤:E:判断当前拔膜次数M是否满足条件M≥第一预设阈值,若满足,则执行步骤F;若不满足,则执行步骤G;F:将拔膜后的素玻璃标记为产品用素玻璃,换一片新的素玻璃,作为当前机台测试用素玻璃,重新执行步骤B;G:以当前机台测试用素玻璃,重新执行步骤B。可选的,所述第一预设阈值等于2。可选的,所述步骤B中,包括记录拔膜情况的步骤,所述拔膜情况包括拔膜成功或者拔膜不成功;其中,初始化当前拔膜情况为不成功,在步骤E中,当前拔膜次数M满足条件M≥第一预设阈值,且拔膜情况为拔膜成功时,则执行步骤F;否则,则执行步骤G。可选的,步骤F中,标记为产品用素玻璃的玻璃,放置至镀膜设备调试成功后,作为产品加工用的素玻璃。可选的,所述步骤B中,还包括初始化当前拔膜次数M=0的步骤;所述步骤D中,还包括记录拔膜次数M=M+1的步骤;所述步骤D中,在对镀膜后的素玻璃进行拔膜的步骤之后,还包括以下步骤:E:判断当前拔膜次数M是否满足条件M≥2,若满足,则执行步骤F1;若不满足,则执行步骤G;F1:将拔膜后的测试用素玻璃再次返回B步骤,在执行完步骤B后执行步骤F2;F2:执行步骤C,若步骤C中的检测符合标准则调试成功,将测试用素玻璃作为产品用素玻璃;若步骤C中的检测不符合标准则调试失败,直接将镀膜后的素玻璃报废,换一片新的素玻璃,作为当前机台测试用素玻璃,重新执行步骤B;G:以当前机台测试用素玻璃,重新执行步骤B。可选的,所述步骤C中,判定镀膜设备调试成功后还执行步骤:H:对测试用素玻璃进行清洗;I:将步骤h中清洗后的素玻璃进行拔膜,作为产品用素玻璃。本专利技术还公开了一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,包括步骤:a:准备测试用素玻璃;b:将测试用素玻璃进行镀膜,初始化当前拔膜次数M=0;初始化当前拔膜情况为拔膜不成功;c:对镀膜后的测试用素玻璃进行检测,若符合标准,判定机台调试成功,并执行步骤i;若不符合标准,判定当前调试失败,则执行步骤d;d:对测试用素玻璃进行清洗;e:对清洗后的测试用素玻璃进行拔膜;记录当前拔膜情况,并记录当前拔膜次数M=M+1;f:判断当前拔膜次数M是否满足条件M≥2,若满足,则执行步骤g;若不满足,则执行步骤h;g:将拔膜后的测试用素玻璃标记为产品用素玻璃,换一片新的素玻璃,作为当前机台测试用素玻璃,重新执行步骤b;h:以当前机台测试用素玻璃,重新执行步骤b;i:对测试用素玻璃进行清洗;j:将步骤h中清洗后的素玻璃进行拔膜,作为产品用素玻璃。本专利技术还公开了一种镀膜设备的调试机台,包括:检测装置,对镀膜设备镀膜后的测试用素玻璃进行检测;判断装置,获取检测装置的检测结果,依据预设标准对检测结果进行判断;拔膜装置,对判断装置中判断为不符合预设标准的测试用素玻璃进行拔膜;所述的拔膜装置将拔膜后的测试用素玻璃发送至镀膜设备以进行再次镀膜。可选的,所述调试机台还包括管控系统,所述管控系统对拔膜装置中的拔膜次数或拔膜情况进行记录,所述管控系统包括至少一个字段,记录拔膜次数或拔膜情况。相对于将未调试的真空离子镀膜设备直接镀膜的方案来说,本申请为镀膜设备进行调试,通过准备测试用素玻璃,对镀膜之后的素玻璃进行检测,检测若符合标准,则调试成功,若不符合,则判定当前调试失败,对镀膜后的已经检测的测试用素玻璃进行拔膜,清除之前的镀膜,以免影响检测,对镀膜设备进行调试后,并使镀膜设备再次进行镀膜;之后,再次进行检测,这个过程会持续进行,直到检测符合标准,调试成功。所述的检测标准由本领域技术人员根据具体的情况设置。附图说明所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解,其构成了说明书的一部分,用于例示本申请的实施方式,并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:图1是本专利技术的一实施例的一种调试方法流程的示意图;图2是本专利技术的一实施例的包含拔膜记录的调试方法流程的示意图;图3是本专利技术的一实施例的转产品用的调试方法流程的示意图;图4是本专利技术的一实施例的调试成功转产品用的调试方法流程的示意图;图5是本专利技术的另一实施例的转产品用的调试方法流程的示意图;图6是本专利技术的另一实施例的调试机台与镀膜设备配合的示意图。其中,100、调试机台;110、检测装置;120、判断装置;130、拔膜装置;140、管控系统;200、镀膜设备。具体实施方式需要理解的是,这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节,仅仅是为了描述具体实施例,是代表性的,但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现,不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示相对重要性,或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,除非另有说明,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征;“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形,意为不排他的包含,可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。另外,“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语,是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的,仅是为了便于描述本申请的简化描述,而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。此外,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,包括步骤:A:准备测试用素玻璃;B:将测试用素玻璃进行镀膜;C:对镀膜后的测试用素玻璃进行检测,若符合标准,判定镀膜设备调试成功;若不符合标准,判定镀膜设备调试失败,执行步骤D;D:对镀膜后的素玻璃进行拔膜,对镀膜设备进行调试,重新执行步骤B。

【技术特征摘要】
1.一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,包括步骤:A:准备测试用素玻璃;B:将测试用素玻璃进行镀膜;C:对镀膜后的测试用素玻璃进行检测,若符合标准,判定镀膜设备调试成功;若不符合标准,判定镀膜设备调试失败,执行步骤D;D:对镀膜后的素玻璃进行拔膜,对镀膜设备进行调试,重新执行步骤B。2.如权利要求1所述的一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,所述步骤B中,还包括初始化当前拔膜次数M=0的步骤;所述步骤D中,还包括记录拔膜次数M=M+1的步骤;所述步骤D中,在对镀膜后的素玻璃进行拔膜的步骤之后,还包括以下步骤:E:判断当前拔膜次数M是否满足条件M≥第一预设阈值,若满足,则执行步骤F;若不满足,则执行步骤G;F:将拔膜后的素玻璃标记为产品用素玻璃,换一片新的素玻璃,作为当前机台测试用素玻璃,重新执行步骤B;G:以当前镀膜设备的测试用素玻璃,重新执行步骤B。3.如权利要求2所述的一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,所述第一预设阈值等于2。4.如权利要求3所述的一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,所述步骤B中,包括记录拔膜情况的步骤,所述拔膜情况包括拔膜成功或者拔膜不成功;其中,初始化当前拔膜情况为不成功,在步骤E中,当前拔膜次数M满足条件M≥第一预设阈值,且拔膜情况为拔膜成功时,则执行步骤F;否则,则执行步骤G。5.如权利要求2所述的一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,步骤F中,标记为产品用素玻璃的玻璃,放置至镀膜设备调试成功后,作为产品加工用的素玻璃。6.如权利要求1所述的一种镀膜设备的调试方法,其特征在于,所述步骤B中,还包括初始化当前拔膜次数M=0的步骤;所述步骤D中,还包括记录拔膜次数M=M+1的步骤;所述步骤D中,在对镀膜后的素玻璃进行拔膜的步骤之后,还包括以下步骤:E:判断当前拔膜次数M是否满足条件M≥2,若满足,则执行步骤F1;若不满足,则执行步骤G;F1:将拔膜后的测试用素玻璃再次执行B步骤,在执行完步骤B后执行步...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘柏松
申请(专利权)人:惠科股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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