匀场工装制造技术

技术编号:20818426 阅读:25 留言:0更新日期:2019-04-10 05:34
本发明专利技术公开了一种匀场工装,包括:用于支撑于磁体的中间通孔中的第一定位盘;插接于第一定位盘上的转轴,转轴能够相对于第一定位盘转动;固定连接于转轴上的探头,探头在转轴上的固定位置沿径向可调。该匀场工装中,采用第一定位盘可以对匀场工装可靠支撑定位,通过调节探头的安装位置以及转轴的转动即可实现对所有测量点的磁场强度的测量,操作方便,且结构简单,尤其可以适用于小口径的磁体测量。

【技术实现步骤摘要】
匀场工装
本专利技术涉及超导核磁共振磁体测试
,特别涉及一种匀场工装。
技术介绍
匀场是核磁共振磁体高均匀度磁场的最终实现环节。匀场过程需要匀场软件和硬件的支持。其中,软件是一种匀场优化算法,硬件有匀场工装。匀场过程是:利用匀场工装以及其内探头测量出成像区域表面的24x24点的磁场强度,该表面为球形面,将测量数据输入匀场软件,优化出最佳的贴片数量和贴片空间位置,通过贴片的极化磁场抵消成像区域的不均匀性。目前的匀场工装通常为多探头测量仪-半月板式的匀场工装,通常适用于大口径的磁体,结构较为复杂,且操作复杂。因此,如何提供一种结构简单、便于操作的匀场工装,是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的是提供一种匀场工装,结构较为简单、操作方便。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种匀场工装,包括:用于支撑于磁体的中间通孔中的第一定位盘;插接于所述第一定位盘上的转轴,所述转轴能够相对于所述第一定位盘转动;固定连接于所述转轴上的探头,所述探头在所述转轴上的固定位置沿径向可调。优选地,所述第一定位盘上设有定位孔,所有所述定位孔沿一个以所述转轴的旋转中心为中心的虚拟圆圈依次设置,所述转轴固定连接有转盘,所述转盘上可滑动地插接有插销,所述插销通过与各所述定位孔对应插接以限定所述转轴的旋转角度。优选地,所述探头相对于所述第一定位盘的轴向位置可调。优选地,所述转轴在所述转盘上的连接位置沿轴向可调。优选地,所述转轴包括第一固定轴和固定于所述第一固定轴轴向上一侧的第二固定轴,所述第一固定轴插接于所述第一定位盘中,所述第一固定轴的中心线为所述转轴的旋转中心,所述第二固定轴的中心线平行于所述第一固定轴的中心线,且所述转轴构成弯折轴,所述探头固定于所述第二固定轴上且固定位置沿径向可调。优选地,还包括探头固定杆,所述探头固定于所述探头固定杆上,所述探头固定杆插接固定于所述第二固定轴上且固定位置沿径向可调。优选地,所述第二固定轴上设有锁紧螺纹孔,所述锁紧螺纹孔与所述第二固定轴上插接所述探头固定杆的插孔相连通,所述锁紧螺纹孔上螺纹连接有锁紧螺钉以压紧所述探头固定杆。优选地,所述第一定位盘上还设有用于进行贴片以调节磁场均匀性的贴片孔。优选地,还包括用于配合所述第一定位盘进行支撑的第二定位盘,所述第二定位盘转动连接于所述转轴。优选地,所述第一定位盘包括第一环状板、平行于所述第一环状板的第二环状板和连接于所述第一环状板与所述第二环状板之间的连接板,所述定位孔设于所述第一环状板上,所述贴片孔设于所述第二环状板上。本专利技术提供的匀场工装,包括:用于支撑于磁体的中间通孔中的第一定位盘;插接于第一定位盘上的转轴,转轴能够相对于第一定位盘转动;固定连接于转轴上的探头,探头在转轴上的固定位置沿径向可调。该匀场工装中,采用第一定位盘可以对匀场工装可靠支撑定位,通过调节探头的安装位置以及转轴的转动即可实现对所有测量点的磁场强度的测量,操作方便,且结构简单,尤其可以适用于小口径的磁体测量。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术所提供匀场工装的应用图;图2为本专利技术所提供匀场工装中第一定位盘的结构图。图1和图2中:1-磁体,2-第三固定轴,3-第二定位盘,4-探头固定杆,5-探头,6-贴片孔,7-插销,8-第一固定轴,9-转盘,10-第一定位盘,11-第二固定轴,12-定位孔,13-中间通孔,14-锁紧螺钉。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的核心是提供一种匀场工装,结构较为简单、操作方便。在本专利技术的描述中,轴向、周向、径向以转轴的旋转中心为基准,以便描述,不能理解为对本申请的限制。此外,第一、第二、第三仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。本专利技术所提供匀场工装的一种具体实施例中,请参考图1和图2,包括:第一定位盘10、转轴和探头5。第一定位盘10用于支撑于磁体1的中间通孔13中。转轴插接于第一定位盘10上,转轴能够相对于第一定位盘10转动。探头5固定连接于转轴上,探头5在转轴上的固定位置沿径向可调。其中,匀场工装中各部件的材质可采用铝合金、环氧、电工木或者其他材质。其中,探头可以仅设置一个。在使用时,探头信号连接于分析装置,通过分析装置对探头测得的磁场强度进行分析。一种具体的使用方法中,调整好探头5相对于转轴的径向位置且确定探头5在中间通孔13中的轴向位置后,将匀场工装放入中间通孔13中,第一定位盘10支撑于中间通孔中,可以对匀场工装进行定位,第一定位盘10与磁体1处于相对固定的状态。转动转轴,探头5随着转轴同步运动,探头5的运动轨迹在一个以转轴的旋转中心为圆心的虚拟圆圈上,在该虚拟圆圈上的各设定的测量点进行测量。在转轴转动一周后,从中间通孔13中取出匀场工装,调整探头5相对于转轴的径向位置并重新确定测量的轴向位置,然后重复上述操作,直至该匀场工装测量出成像区域的球形表面上的预设数量的测量点的磁场强度。可选地,测量点的数量可以为24x24,即,沿轴向上为24个轴向位置需要测量,在同一个轴向位置上,沿周向,转轴每转动一圈,探头5测量24个点。其中,调整探头5的径向位置指的是调整探头5沿径向相对于转轴的旋转中心的距离,调整探头5的轴向位置指的是调整探头5所处的垂直于转轴的旋转中心的平面。本实施例所提供的匀场工装中,采用第一定位盘10可以对匀场工装可靠支撑定位,通过调节探头5的安装位置以及转轴的转动即可实现对所有测量点的磁场强度的测量,操作方便,且结构简单,尤其可以适用于小口径的磁体1测量。在上述实施例的基础上,如图2所示,第一定位盘10上可以设有若干个定位孔12,所有定位孔12可以沿一个以转轴的旋转中心为中心的虚拟圆圈依次设置。转轴固定连接有转盘9,转盘9上可滑动地插接有插销7,插销7通过与各定位孔12对应插接以限定转轴的旋转角度。在图1中,匀场工装装入中间通孔13以后,插销7可以伸出于磁体1的外侧,第一定位盘10固定设置于中间通孔13,具体可以通过与中间通孔13之间的摩擦力实现固定,转盘9与第一定位盘10构成旋转副,转盘9可转动。通过沿周向推动插销7可以带动转轴转动,当转动到第一个定位孔12的位置后,插销7相对于转盘滑动并插入定位孔12中,在探头5完成一次测量后,插销7相对于转盘滑动反向滑动脱出第一个定位孔后继续带动转轴转动,在转至第二个定位孔12的位置后,重复插入第二个定位孔12中,直至测量到最后一个定位孔12所确定的位置。其中,为更加明显地使工作人员确定定位孔12的位置,定位孔12在径向上的长度可以较大,定位孔12在径向上包括一部分不被转盘9遮挡。又或者,第一定位盘10的边缘与定位孔12对应的位置可以设置标记线,以确定定位孔12本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种匀场工装,其特征在于,包括:用于支撑于磁体(1)的中间通孔(13)中的第一定位盘(10);插接于所述第一定位盘(10)上的转轴,所述转轴能够相对于所述第一定位盘(10)转动;固定连接于所述转轴上的探头(5),所述探头(5)在所述转轴上的固定位置沿径向可调。

【技术特征摘要】
1.一种匀场工装,其特征在于,包括:用于支撑于磁体(1)的中间通孔(13)中的第一定位盘(10);插接于所述第一定位盘(10)上的转轴,所述转轴能够相对于所述第一定位盘(10)转动;固定连接于所述转轴上的探头(5),所述探头(5)在所述转轴上的固定位置沿径向可调。2.根据权利要求1所述的匀场工装,其特征在于,所述第一定位盘(10)上设有定位孔(12),所有所述定位孔(12)沿一个以所述转轴的旋转中心为中心的虚拟圆圈依次设置,所述转轴固定连接有转盘(9),所述转盘(9)上可滑动地插接有插销(7),所述插销(7)通过与各所述定位孔(12)对应插接以限定所述转轴的旋转角度。3.根据权利要求2所述的匀场工装,其特征在于,所述探头(5)相对于所述第一定位盘(10)的轴向位置可调。4.根据权利要求3所述的匀场工装,其特征在于,所述转轴在所述转盘(9)上的连接位置沿轴向可调。5.根据权利要求4所述的匀场工装,其特征在于,所述转轴包括第一固定轴(8)和固定于所述第一固定轴(8)轴向上一侧的第二固定轴(11),所述第一固定轴(8)插接于所述第一定位盘(10)中,所述第一固定轴(8)的中心线为所述转轴的旋转中心,所述第二固定轴(11)的中心线平行于所述第一固定...

【专利技术属性】
技术研发人员:滕秀荣王兆连杨文晖李培勇张义廷程东芹
申请(专利权)人:潍坊新力超导磁电科技有限公司
类型:发明
国别省市:山东,37

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