AMOLED面板测试电路及测试方法技术

本发明专利技术公开了AMOLED面板测试电路及测试方法，属于显示技术领域。该测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；数据线输出单元具有多条数据线，分别与阵列测试单元和面板测试单元连接；阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，分别与数据线连接，用于将阵列测试信号输出到相应的数据线；面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，且多个面板测试输出端分别与数据线连接，用于在面板测试信号控制下将数据信号输出到相应的数据线。本发明专利技术面板测试过程中，每个数据信号只需通过一个开关元件就能输出到数据线，因此通过对电路设计进行改进，可以减少面板测试时的负载，从而可以驱动60Hz以上的数据信号。

AMOLED Panel Test Circuit and Test Method

The invention discloses an AMOLED panel test circuit and a test method, belonging to the display technology field. The test circuit includes: data line output unit, array test unit and panel test unit; data line output unit has multiple data lines, which are connected with array test unit and panel test unit respectively; array test unit has multiple array test output terminals, which are connected with data lines respectively to output array test signal to corresponding data lines; panel test unit There are multiple test output terminals and data signal input terminals, and multiple test output terminals of the panel are connected with the data lines respectively, which are used to output the data signals to the corresponding data lines under the control of the test signals of the panel. In the panel testing process of the invention, each data signal can be output to the data line through only one switch element. Therefore, by improving the circuit design, the load during panel testing can be reduced and the data signal above 60 Hz can be driven.

【技术实现步骤摘要】
AMOLED面板测试电路及测试方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及AMOLED面板测试电路及测试方法。
技术介绍
目前针对AMOLED(ActiveMatrixOrganicLightEmittingDiode，有源矩阵有机发光二极管)，阵列基板测试电路和面板显示测试电路是分开的：阵列基板测试电路是用于测量在镀OLED前基板的性能，面板显示测试电路是用于测量蒸镀OLED后贴上上盖板再切割成显示面板后的性能。两种测试电路的目的也是不同的，阵列基板测试电路用于检测每一根数据线的接通情况，而面板显示测试电路用于检测面板的点亮效果，即可以采用图形产生器测量相同信号(如单色红色或单色绿色)。近年来随着PPI(PixelsPerInch，像素数)越来越多，可以采用渲染(rendering)方式，即一根数据线上有不同的颜色(如红色和绿色)，那么数据线的信号就是AC(AlternatingCurrent，连续交流)信号，这样面板显示测试电路的负载就不能太大，否则面板显示测试电路就无法驱动一些现实面板，比如无法驱动频率60HZ以上的数据信号。基于上述，还需要提供一种新的测试电路来解决上述问题。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路，具有一个提供阵列测试信号的阵列测试信号输入端和一个提供面板测试信号的面板测试信号输入端，其特征在于，所述AMOLED面板测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；所述数据线输出单元具有多条数据线，分别与所述阵列测试单元和所述面板测试单元连接；所述阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，且所述多个阵列测试输出端分别与所述数据线连接，用于将所述阵列测试信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线；以及所述面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，所述数据信号输入端用于提供数据信号，且所述多个面板测试输出端分别与所述数据线连...

【技术特征摘要】
1.一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路，具有一个提供阵列测试信号的阵列测试信号输入端和一个提供面板测试信号的面板测试信号输入端，其特征在于，所述AMOLED面板测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；所述数据线输出单元具有多条数据线，分别与所述阵列测试单元和所述面板测试单元连接；所述阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，且所述多个阵列测试输出端分别与所述数据线连接，用于将所述阵列测试信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线；以及所述面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，所述数据信号输入端用于提供数据信号，且所述多个面板测试输出端分别与所述数据线连接，用于在所述面板测试信号控制下将所述数据信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线。2.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述阵列测试单元包括：一个一级开关元件和M个二级开关元件，所述一级开关元件和所述二级开关元件均具有控制端、输入端和输出端；所述一级开关元件的控制端与开关信号连接，输入端与所述阵列测试信号输入端连接，输出端与所述二级开关元件的输入端连接，所述一级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号分别输出到所述M个二级开关元件的输入端，其中M≥1；所述M个二级开关元件的控制端分别与M个独立的开关信号连接，输出端分别与所述数据线连接，所述二级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号输...

【专利技术属性】
技术研发人员：周思思，
申请(专利权)人：上海和辉光电有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31