AMOLED面板测试电路及测试方法技术

本发明专利技术公开了AMOLED面板测试电路及测试方法，属于显示技术领域。该测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；数据线输出单元具有多条数据线，分别与阵列测试单元和面板测试单元连接；阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，分别与数据线连接，用于将阵列测试信号输出到相应的数据线；面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，且多个面板测试输出端分别与数据线连接，用于在面板测试信号控制下将数据信号输出到相应的数据线。本发明专利技术面板测试过程中，每个数据信号只需通过一个开关元件就能输出到数据线，因此通过对电路设计进行改进，可以减少面板测试时的负载，从而可以驱动60Hz以上的数据信号。

AMOLED Panel Test Circuit and Test Method

The invention discloses an AMOLED panel test circuit and a test method, belonging to the display technology field. The test circuit includes: data line output unit, array test unit and panel test unit; data line output unit has multiple data lines, which are connected with array test unit and panel test unit respectively; array test unit has multiple array test output terminals, which are connected with data lines respectively to output array test signal to corresponding data lines; panel test unit There are multiple test output terminals and data signal input terminals, and multiple test output terminals of the panel are connected with the data lines respectively, which are used to output the data signals to the corresponding data lines under the control of the test signals of the panel. In the panel testing process of the invention, each data signal can be output to the data line through only one switch element. Therefore, by improving the circuit design, the load during panel testing can be reduced and the data signal above 60 Hz can be driven.

【技术实现步骤摘要】
AMOLED面板测试电路及测试方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及AMOLED面板测试电路及测试方法。
技术介绍
目前针对AMOLED(ActiveMatrixOrganicLightEmittingDiode，有源矩阵有机发光二极管)，阵列基板测试电路和面板显示测试电路是分开的：阵列基板测试电路是用于测量在镀OLED前基板的性能，面板显示测试电路是用于测量蒸镀OLED后贴上上盖板再切割成显示面板后的性能。两种测试电路的目的也是不同的，阵列基板测试电路用于检测每一根数据线的接通情况，而面板显示测试电路用于检测面板的点亮效果，即可以采用图形产生器测量相同信号(如单色红色或单色绿色)。近年来随着PPI(PixelsPerInch，像素数)越来越多，可以采用渲染(rendering)方式，即一根数据线上有不同的颜色(如红色和绿色)，那么数据线的信号就是AC(AlternatingCurrent，连续交流)信号，这样面板显示测试电路的负载就不能太大，否则面板显示测试电路就无法驱动一些现实面板，比如无法驱动频率60HZ以上的数据信号。基于上述，还需要提供一种新的测试电路来解决上述问题。在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本专利技术的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
针对现有技术中存在的问题，本专利技术的目的为提供一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路及测试方法，以解决现有技术中面板测试时负载太大的技术问题。本专利技术的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本专利技术的实践而习得。根据本专利技术的一方面，提供一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路，具有一个提供阵列测试信号的阵列测试信号输入端和一个提供面板测试信号的面板测试信号输入端，所述AMOLED面板测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；所述数据线输出单元具有多条数据线，分别与所述阵列测试单元和所述面板测试单元连接；所述阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，且所述多个阵列测试输出端分别与所述数据线连接，用于将所述阵列测试信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线；以及所述面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，所述数据信号输入端用于提供数据信号，且所述多个面板测试输出端分别与所述数据线连接，用于在所述面板测试信号控制下将所述数据信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线。根据本专利技术的一实施方式，所述阵列测试单元包括：一个一级开关元件和M个二级开关元件，所述一级开关元件和所述二级开关元件均具有控制端、输入端和输出端；所述一级开关元件的控制端与开关信号连接，输入端与所述阵列测试信号输入端连接，输出端与所述二级开关元件的输入端连接，所述一级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号分别输出到所述M个二级开关元件的输入端，其中M≥1；所述M个二级开关元件的控制端分别与M个独立的开关信号连接，输出端分别与所述数据线连接，所述二级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号输出到对应的数据线。根据本专利技术的一实施方式，所述阵列测试信号输入端与N个所述一级开关元件的输入端连接，其中N≥1。根据本专利技术的一实施方式，N＝1或N＝2或N＝4。根据本专利技术的一实施方式，所述面板测试单元包括：M个面板测试开关元件，每个所述面板测试开关元件均具有控制端、输入端和输出端；所述M个面板测试开关元件的控制端均与所述面板测试信号输入端连接，输入端分别与所述数据信号连接，输出端分别与所述数据线连接，所述面板测试开关元件用于在所述面板测试信号控制下将输入的所述数据信号输出到相应的数据线。根据本专利技术的一实施方式，所述数据信号为红色像素的数据信号、绿色像素的数据信号或蓝色像素的数据信号的其中一种。根据本专利技术的一实施方式，所述数据信号的频率大于或等于60Hz。根据本专利技术的一实施方式，M＝6。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试方法，包括：当进行阵列基板测试时，在各个开关信号的控制下将阵列测试信号输入端的阵列测试信号经过分级后分别输出到相应的数据线；当进行面板测试时，在面板测试信号的控制下将数据信号分别输出到相应的数据线。根据本专利技术的一实施方式，所述数据信号的频率大于或等于60Hz。基于上述的实施例，本专利技术的有益效果在于：AMOLED面板测试电路通过将阵列基板测试电路和面板测试电路集成在一起，而且在进行面板测试过程中，每个数据信号只需通过一个开关元件就能输出到数据线，因此通过对电路设计进行改进，可以减少面板测试时的负载，从而可以驱动60Hz以上的数据信号。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。图1示意性示出根据本专利技术示例实施方式提供的一种AMOLED面板测试电路的框图。图2示意性示出根据本专利技术示例实施方式提供N＝1时的AMOLED面板测试电路的电路设计图。图3示意性示出根据本专利技术示例实施方式提供N＝2时的AMOLED面板测试电路的电路设计图。图4示意性示出根据本专利技术示例实施方式提供N＝4时的AMOLED面板测试电路的电路设计图。图5为示意性示出根据本专利技术的另一实施例中提供的一种AMOLED面板测试方法的流程图。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本专利技术将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本专利技术的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本专利技术的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本专利技术的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免喧宾夺主而使得本专利技术的各方面变得模糊。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本专利技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本专利技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。在本公开一相关实施例中，进行面板测试过程中，数据信号往往需要经过两个晶体管才能到达相应的数据线，将会由于测试时的负载过大而对于频率在60Hz以上的数据信号无法进行测试，为解决上述问题，本公开以下实施例对电路设计进行改进。图1示意性示出根据本专利技术示例实施方式提供的一种AMOLED面板测试电路的框图。如图1所示，该AMOLED面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路，具有一个提供阵列测试信号的阵列测试信号输入端和一个提供面板测试信号的面板测试信号输入端，其特征在于，所述AMOLED面板测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；所述数据线输出单元具有多条数据线，分别与所述阵列测试单元和所述面板测试单元连接；所述阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，且所述多个阵列测试输出端分别与所述数据线连接，用于将所述阵列测试信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线；以及所述面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，所述数据信号输入端用于提供数据信号，且所述多个面板测试输出端分别与所述数据线连接，用于在所述面板测试信号控制下将所述数据信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线。

【技术特征摘要】
1.一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路，具有一个提供阵列测试信号的阵列测试信号输入端和一个提供面板测试信号的面板测试信号输入端，其特征在于，所述AMOLED面板测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；所述数据线输出单元具有多条数据线，分别与所述阵列测试单元和所述面板测试单元连接；所述阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，且所述多个阵列测试输出端分别与所述数据线连接，用于将所述阵列测试信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线；以及所述面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，所述数据信号输入端用于提供数据信号，且所述多个面板测试输出端分别与所述数据线连接，用于在所述面板测试信号控制下将所述数据信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线。2.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述阵列测试单元包括：一个一级开关元件和M个二级开关元件，所述一级开关元件和所述二级开关元件均具有控制端、输入端和输出端；所述一级开关元件的控制端与开关信号连接，输入端与所述阵列测试信号输入端连接，输出端与所述二级开关元件的输入端连接，所述一级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号分别输出到所述M个二级开关元件的输入端，其中M≥1；所述M个二级开关元件的控制端分别与M个独立的开关信号连接，输出端分别与所述数据线连接，所述二级开关元件用于在其控制端输入的控制信号控制下将输入的所述阵列测试信号输...

【专利技术属性】
技术研发人员：周思思，
申请(专利权)人：上海和辉光电有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31