一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术为了解决现有技术中时钟信号测试受ledge影响边沿斜率值的问题，提出一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，通过采用此方法，可通过沿用现有的量测波形方案，在芯片封装外围采集波形，并对量测波形进行求取一阶导数并对一阶导数求取平均值，得到斜率波形后经过加法运算，以此计算出等效于芯片封装Die终端上的信号边沿斜率值，本发明专利技术还提出一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的装置，消除信号反射带来的测量信号波形边沿产生的Ledge对量测数据准确度的影响，提高了时钟信号测试数据的精度，准确地判断评估研发设计的信号质量。

A Method and Device for Eliminating the Slope of Signal Edge Affected by Ledge

In order to solve the problem of clock signal testing edge slope value affected by ledge in the prior art, a method of eliminating edge slope value affected by ledge is proposed. By using this method, waveforms can be collected on the periphery of chip packaging by using the existing measurement waveform scheme, and the first derivative of the measured waveform can be obtained, and the average value of the first derivative can be obtained. The slope waveform is added to calculate the slope of the signal edge equivalent to the Die terminal of the chip package. The invention also proposes a device for eliminating the slope of the signal edge affected by the Ledge, eliminating the influence of the Ledge produced by the edge of the measured signal waveform caused by the signal reflection on the accuracy of the measured data, improving the accuracy of the clock signal test data and accurately judging it. Evaluate the signal quality of R&D design.

【技术实现步骤摘要】
一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法及装置
本专利技术涉及一种消除信号边沿斜率值的方法，尤其是涉及一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法及装置。
技术介绍
在服务器产品设计开发时，对于系统互连的CLK时钟周期信号通常会进行时域波形的斜率等指标测量，以判断信号质量是否满足系统性能评估测试要求，避免其因边沿斜率指标不满足要求，引起高速链路传输信号在芯片接收端采集信号码元失效以及导致有效信号误码率提升等问题，造成其整高速链路有效传输系统带宽降低及系统互连设备检测不到等现状问题发生。因而，系统CLK时钟信号设计质量在测试阶段的管控，在产品开发阶段中是很重要的一个信号质量监控环节。然而，在目前现有技术的主板CLK时钟系统测试时，其测量时钟波形的探测点无法放到接收芯片的终端，也就是接收芯片内部的Die(芯片封装内部的半导体芯片裸片)上，而只能在PCB板上芯片封装器件的外围找对应能接触信号网络的测试点，同时，此测试点建议尽可能靠近芯片接收端，如图1所示，对系统互连CLK时钟波形会按图1所示的拓扑架构图以芯片接收端外围靠近芯片引脚的附近网络点作为量测点，同时，建议芯片外围的量测点距离尽本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，其特征是，包括：对采集的信号的时钟波形求取一阶导数并对一阶导数求取平均值，得到信号的时钟波形的斜率波形；选取信号时钟波形的斜率波形的两个波峰值或两个波谷值相加，得到的数值之和即为等效芯片接收端的信号边沿斜率数值。

【技术特征摘要】
1.一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，其特征是，包括：对采集的信号的时钟波形求取一阶导数并对一阶导数求取平均值，得到信号的时钟波形的斜率波形；选取信号时钟波形的斜率波形的两个波峰值或两个波谷值相加，得到的数值之和即为等效芯片接收端的信号边沿斜率数值。2.根据权利要求1所述的消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，其特征是，在所述对采集的信号的时钟波形求取一阶导数并对一阶导数求取平均值之前，还包括：选取芯片接收端外围的网络点作为量测点，用示波器采集信号的时钟波形。3.根据权利要求2所述的消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，其特征是，所述量测点与芯片接收端引脚的距离为0-1英寸。4.根据权利要求2所述的消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，其特征是，所述用示波器采集信号的时钟波形时，设置每秒至少采集10000个波形。5.根据权利要求2所述的消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，其特征是，所述用示波器采集信号的时钟波形时，每隔4-6秒，采集暂停。6.根据权利要求1所述的消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：武宁，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41