一种确定储层流体性质的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种确定储层流体性质的方法和装置，所述方法包括：获取预设区域的预设深度的T2谱；确定T2谱的形态参数；其中，T2谱的形态参数用于定量描述T2谱的形态特征；根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质。本发明专利技术实施例基于T2谱的形态参数定量确定储层流体性质，而不需要依靠人为经验，从而提高了可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种确定储层流体性质的方法和装置
本专利技术实施例涉及但不限于测井技术，尤指一种确定储层流体性质的方法和装置。
技术介绍
利用测井资料判别储层流体性质是测井解释研究中的一项重要内容，为储层评价提供重要依据。目前利用测井信息判别储层流体性质的方法主要有电阻率测井和核磁共振测井方法等。其中，电阻率测井资料能够较为直观地判别储层流体性质，但受岩石骨架等因素的影响，精度比较低。而核磁共振测井资料直接反映的是储层流体信息，在解释流体性质时具有明显的优势。目前利用核磁共振测井资料识别流体性质的方法主要有差谱法和移谱法。其中，差谱法是人为根据长极化时间和短极化时间下的T2谱相减后得到的T2谱进行流体识别，该方法大多只能用于定性判别地层中的轻烃；移谱法通过人为对比长回波间隔下的T2谱和短回波间隔下的T2谱的差异来区分油层和水层，但该方法也只能作定性识别；上述两种方法均缺乏理论支撑，主要是经验方法，可靠性较低。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种确定储层流体性质的方法和装置，能够提高可靠性。本专利技术实施例提供了一种确定储层流体性质的方法，包括：获取预设区域的预设深度的T2谱；确定T2谱的形态参数；其中，T2谱的形态参数用于定量描述T2谱的形态特征；根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质。在本专利技术实施例中，所述T2谱的形态参数包括以下至少之一：T2谱右边界、T2谱峰值、T2谱峰宽、T2谱峰宽积；其中，所述T2谱右边界为所述T2谱的幅度趋近于0时的右边界；所述T2谱峰值为所述T2谱的幅度最大时对应的T2值；所述T2谱峰宽为所述T2谱的幅度为最大幅度的一半时对应的两个T2值的差值；所述T2谱峰宽积为所述T2谱峰宽和所述T2谱的最大幅度的乘积。在本专利技术实施例中，所述根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质包括：当所述T2谱的形态参数满足以下至少之一时，确定所述预设区域的预设深度为油层：所述T2谱右边界大于或等于第一预设阈值；所述T2谱峰值大于或等于第二预设阈值；所述T2谱峰宽大于或等于第三预设阈值；所述T2谱峰宽积大于或等于第四预设阈值。在本专利技术实施例中，所述根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质包括：当所述T2谱的形态参数满足以下至少之一时，确定所述预设区域的预设深度为水层：所述T2谱右边界小于第五预设阈值；所述T2谱峰值小于第六预设阈值；所述T2谱峰宽小于第七预设阈值；所述T2谱峰宽积小于第八预设阈值。本专利技术实施例提出了一种确定储层流体性质的装置，包括：获取模块，用于获取预设区域的预设深度的T2谱；形态参数确定模块，用于确定T2谱的形态参数；其中，T2谱的形态参数用于定量描述T2谱的形态特征；储层流体性质确定模块，用于根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质。本专利技术实施例提出了一种确定储层流体性质的装置，包括处理器和计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令被所述处理器执行时，实现上述任一种确定储层流体性质的方法。本专利技术实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种确定储层流体性质的方法的步骤。本专利技术实施例包括：获取预设区域的预设深度的T2谱；确定T2谱的形态参数；其中，T2谱的形态参数用于定量描述T2谱的形态特征；根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质。本专利技术实施例基于T2谱的形态参数定量确定储层流体性质，而不需要依靠人为经验，从而提高了可靠性。本专利技术实施例的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术实施例而了解。本专利技术实施例的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本专利技术实施例技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术实施例的实施例一起用于解释本专利技术实施例的技术方案，并不构成对本专利技术实施例技术方案的限制。图1为本专利技术一个实施例提出的确定储层流体性质的方法的流程图；图2为本专利技术实施例T2谱示意图；图3为本专利技术实施例基于T2谱的形态参数定量确定储层流体性质的示意图；图4为本专利技术实施例另一个实施例提出的确定储层流体性质的装置的结构组成示意图。具体实施方式下文中将结合附图对本专利技术实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。参见图1，本专利技术一个实施例提出了一种确定储层流体性质的方法，包括：步骤100、获取预设区域的预设深度的T2谱。在本专利技术实施例中，获得的T2谱是长极化时间、短回波间隔下的标准T2谱。在本专利技术实施例中，T2谱是指区间孔隙度POR和横向弛豫时间T2之间的对应关系。例如，区间孔隙度POR随横向弛豫时间T2的变化曲线，如图2所示，横坐标为横向弛豫时间T2，纵坐标为区间孔隙度POR。其中，横向弛豫时间T2是描述核磁化强度横向分量恢复过程的时间常数。步骤101、确定T2谱的形态参数；其中，T2谱的形态参数用于定量描述T2谱的形态特征。在本专利技术实施例中，如图2所示，T2谱的形态参数包括以下至少之一：T2谱右边界T2max、T2谱峰值T2peak、T2谱峰宽T2wide、T2谱峰宽积PEAKarea；其中，所述T2谱右边界T2max为所述T2谱的幅度(即区间孔隙度)趋近于0时的右边界；所述T2谱峰值T2peak为所述T2谱的幅度最大时对应的T2值；所述T2谱峰宽T2wide为所述T2谱的幅度为最大幅度PORpeak的一半(即图2中的POR1/2)时对应的两个T2值(即图2中的T21/2L和T21/2R)的差值；所述T2谱峰宽积PEAKarea为所述T2谱峰宽和所述T2谱的最大幅度的乘积。步骤102、根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质。在本专利技术实施例中，根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质包括：当所述T2谱的形态参数满足以下至少之一时，确定所述预设区域的预设深度为油层：所述T2谱右边界大于或等于第一预设阈值；所述T2谱峰值大于或等于第二预设阈值；所述T2谱峰宽大于或等于第三预设阈值；所述T2谱峰宽积大于或等于第四预设阈值。当所述T2谱的形态参数满足以下至少之一时，确定所述预设区域的预设深度为水层：所述T2谱右边界小于第五预设阈值；所述T2谱峰值小于第六预设阈值；所述T2谱峰宽小于第七预设阈值；所述T2谱峰宽积小于第八预设阈值。其中，不同区域的第一预设阈值和第五预设阈值可以相同，也可以不同；不同区域的第二预设阈值和第六预设阈值可以相同，也可以不同；不同区域的第三预设阈值和第七预设阈值可以相同，也可以不同；不同区域的第四预设阈值和第八预设阈值可以相同，也可以不同。图3为本专利技术实施例基于T2谱的形态参数定量确定储层流体性质的示意图。如图3所示，第一道为自然伽马，第二道为深度，第三道为T2谱，第四道到第七道为T2谱的形态参数。其中，第四道为T2谱右边界(T2max)，油层的T2谱本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种确定储层流体性质的方法，包括：获取预设区域的预设深度的T2谱；确定T2谱的形态参数；其中，T2谱的形态参数用于定量描述T2谱的形态特征；根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质。

【技术特征摘要】
1.一种确定储层流体性质的方法，包括：获取预设区域的预设深度的T2谱；确定T2谱的形态参数；其中，T2谱的形态参数用于定量描述T2谱的形态特征；根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述T2谱的形态参数包括以下至少之一：T2谱右边界、T2谱峰值、T2谱峰宽、T2谱峰宽积；其中，所述T2谱右边界为所述T2谱的幅度趋近于0时的右边界；所述T2谱峰值为所述T2谱的幅度最大时对应的T2值；所述T2谱峰宽为所述T2谱的幅度为最大幅度的一半时对应的两个T2值的差值；所述T2谱峰宽积为所述T2谱峰宽和所述T2谱的最大幅度的乘积。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据T2谱的形态参数确定预设区域的预设深度的储层流体性质包括：当所述T2谱的形态参数满足以下至少之一时，确定所述预设区域的预设深度为油层：所述T2谱右边界大于或等于第一预设阈值；所述T2谱峰值大于或等于第二预设阈值；所述T2谱峰宽大于或等于第三预设阈值；所述T2谱峰宽积大于或等于第四预设阈值。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：徐大年，成家杰，王文文，祁晓，尹璐，张爱军，刘世明，陈超众，
申请(专利权)人：中国海洋石油集团有限公司，中海油田服务股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11