一种脉冲中子测井时间谱评价示踪陶粒压裂缝宽的方法技术

本发明专利技术公开了一种脉冲中子测井时间谱评价示踪陶粒压裂缝宽的方法，提供一种脉冲中子测井时间谱，评价示踪陶粒压裂缝宽的方法，发明专利技术目的是提供一种利用脉冲中子测井获得的时间谱，从时间谱中提取参数判断示踪陶粒沾污套管内壁或出现在水泥环窜槽，进一步评价示踪陶粒压裂裂缝缝宽的解释方法，其效果是排除井壁沾污示踪陶粒及水泥环窜槽示踪陶粒的干扰，准确评价压开裂缝位置(高度)与宽度，为本井未来措施方案的制定，以及同一区块其它井压裂方案的调整提供有效依据。

【技术实现步骤摘要】
一种脉冲中子测井时间谱评价示踪陶粒压裂缝宽的方法
本专利技术涉及脉冲
，具体为一种脉冲中子测井时间谱评价示踪陶粒压裂缝宽的方法。
技术介绍
示踪陶粒压裂裂缝评价技术主要用于描述垂向裂缝高度(支撑剂铺置高度)。示踪陶粒中含有高中子俘获截面与高俘获伽马截面的钆(Gd)元素，它改变中子-中子或中子-伽马测井响应，通过对比压裂前后测井资料，能够识别人工裂缝高度。虽然压裂是一项高效施工工艺，但仍然有压裂后评价井眼附近裂缝形态的需求：有时由于各种原因(如地层异常、射孔炮眼堵塞等)没有有效地压开某些设计压裂层段；压裂裂缝还可能沿垂向过度延展，超过设计压裂层段。准确评价压开裂缝位置(高度)与宽度有助于本井未来措施方案的制定，也有助于同一区块其它井压裂方案的调整。在压裂过程中，示踪陶粒有时可能出现在异常区域，存在于水泥环或挂井壁上，这些情况均影响测井仪对示踪陶粒所在裂缝的测量，因此需要排除示踪陶粒所在非正常区域的干扰，对裂缝进行监测。中国专利申请201280054944.6公开了“定位诱导的地下岩层裂缝中的示踪支撑剂的与岩性和井眼状况无关的方法”，使用从具有近中子探测器和远中子探测器的测井工具的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种脉冲中子测井时间谱评价示踪陶粒压裂缝宽的方法，其特征在于：利用脉冲中子测井获得的时间谱，对示踪陶粒压裂裂缝宽度进行评价的方法，包括以下步骤： S1、利用脉冲中子测井仪对压裂前地层进行测井，该测井仪至少需要伽马探测器、热中子探测器各一个，分别测量伽马时间谱及热中子时间谱； S2、将地层水力压裂，向地层裂缝中注入混有Gd元素的示踪陶粒支撑剂； S3、使用同一只脉冲中子测井仪对压裂后地层再一次测井(测井速度与压前测井一致)，分别测量近、远伽马时间谱及热中子时间谱；S4、将压裂前后测井参数对比，判断示踪陶粒沾污套管内壁或出现在水泥环窜槽，进一步解释地层裂缝高度及宽度。

【技术特征摘要】
1.一种脉冲中子测井时间谱评价示踪陶粒压裂缝宽的方法，其特征在于：利用脉冲中子测井获得的时间谱，对示踪陶粒压裂裂缝宽度进行评价的方法，包括以下步骤：S1、利用脉冲中子测井仪对压裂前地层进行测井，该测井仪至少需要伽马探测器、热中子探测器各一个，分别测量伽马时间谱及热中子时间谱；S2、将地层水力压裂，向地层裂缝中注入混有Gd元素的示踪陶粒支撑剂；S3、使用同一只脉冲中子测井仪对...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑华，邓茜珊，付勇善，徐翠，张静，王敏，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，大庆油田有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11