【技术实现步骤摘要】
大面积放射性平面源均匀性测量装置
本专利技术属于放射源均匀性测量技术，具体涉及一种大面积放射性平面源均匀性测量装置。
技术介绍
在科学研究、医疗卫生和工业生产等放射源应用领域，常需要放射源均匀性这一重要特性参量。放射源的均匀性，表征了放射源的一种质量特性。实际测量放射源均匀性，测量的是特定范围内由放射源发射的射线引起的效应。这种效应如果能用数字表示，就可用来表征放射源的均匀性。核探测技术中，用得最多的是用气体探测器、闪烁探测器、甚至是用热释光探测器等由射线引起的计数或对应的活度，获取数据时，保持放射源上各线元或面积元相同，对应于放射源的不同部位，由不同的计数或单位质量中所含的放射性活度，获知放射源均匀性的信息。实际应用中，需要的基本上是放射源的线均匀性和面均匀性，或单位质量和单位面积上所含放射性活度的分布。实际做放射源均匀性测量时，获取测量数据的线元或面积元的几何尺寸、每点测量时间和测量距离等互有影响。对于大面积滤膜放射源均匀性的测量，为了保证整个放射源均匀性测量过程中测量响应相同，保持放射源上每个线元或面积元与探测器之间的相对距离相同是十分重要的，特别是在近距离...
【技术保护点】
1.一种大面积放射性平面源均匀性测量装置，其特征在于：包括设置在屏蔽箱(1)内的测量支架和探测器探头(8)，探测器探头(8)通过数据线(3)与设在屏蔽箱外部的电子学系统(10)连接，电子学系统连接用于数据处理的计算机，所述测量支架包括底座(7)、垂直支撑杆(4)、水平可调杆(5)和连接头(6)，制备好的大面积放射性平面源放置在所述底座(7)上，垂直支撑杆(4)的一端与底座(7)固定连接，并通过连接头(6)连接所述水平可调杆(5)，水平可调杆(5)能够沿垂直支撑杆(4)上下移动，并能够沿水平方向步进式移动，所述探测器探头(8)设置在水平可调杆(5)上。
【技术特征摘要】
1.一种大面积放射性平面源均匀性测量装置，其特征在于：包括设置在屏蔽箱(1)内的测量支架和探测器探头(8)，探测器探头(8)通过数据线(3)与设在屏蔽箱外部的电子学系统(10)连接，电子学系统连接用于数据处理的计算机，所述测量支架包括底座(7)、垂直支撑杆(4)、水平可调杆(5)和连接头(6)，制备好的大面积放射性平面源放置在所述底座(7)上，垂直支撑杆(4)的一端与底座(7)固定连接，并通过连接头(6)连接所述水平可调杆(5)，水平可调杆(5)能够沿垂直支撑杆(4)上下移动，并能够沿水平方向步进式移动，所述探测器探头(8)设置在水平可调杆(5)上。2.如权利要求1所述的大面积放射性平面源均匀性测量装置，其特征在于：所述的探测器探头(8)上套有限束圈(9)，限束圈(9)上开有使放射源的射线入射到探测器探头上的限束孔。3.如权利要求1所述的大面积放射性平面源均匀性测量装置，其特征在于：探测器采用离子注入型探测器。4.如权利要求3所述的大面积放射性平面源均匀性测量装置，其特征在于：所述屏蔽箱(1)的框架板包括四层结构，从里到外的材料分别是聚氯乙烯、铅、聚氯乙烯、紫铜；屏蔽箱...
【专利技术属性】
技术研发人员：李明，徐利军，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11
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