伽马能谱与主动式X荧光联合同时测铀钍镭钾的方法技术

本发明专利技术公开一种伽马能谱与主动式X荧光联合同时测铀钍镭钾的方法，其步骤：γ射线探测器的自动刻度实现谱漂校准、地层γ射线探测与分析、同位素伽马源主动式激发地层元素X荧光信息与分析、伽马与X荧光能谱的联合解析；通过X荧光信息得到的地层多元素含量与γ射线探测器的能谱特征峰对比，二次判断地层中铀、钍、镭、钾等放射性核素含量。本发明专利技术的优点在于：采用同位素嵌入，自动进行γ射线探测器的能量刻度校准，克服谱漂问题。解决低能区γ射线的累积效应带来的γ射线探测器饱和与漏计数难题。主动式X荧光实现地层中从Si到U等元素同时进行定性与地层参数解析。伽马能谱与主动式X荧光联合提高解析准确度，实现铀、钍、镭、钾等多核素同时测量。

【技术实现步骤摘要】
伽马能谱与主动式X荧光联合同时测铀钍镭钾的方法
本专利技术属于核测井领域，涉及核技术，尤其是一种伽马能谱与主动式X荧光联合同时测铀钍镭钾的方法。
技术介绍
核电的主要燃料铀，作为国家重大战略物资，影响和制约着我国核电等能源战略发展。我国的核能发电计划使得对铀的需求量急剧增加，为了解决核燃料问题，我国已经在全球范围内寻觅原料，但是为了避免国外市场震荡带来的风险，必须加强我国铀矿资源勘查与勘探开发的力度，以满足我国迅速发展的核能事业对铀资源的需求。目前，我国铀矿勘探一般采用的总量γ测井技术，需要通过大量的岩矿取样和化学分析来修正总量γ测井中铀含量定量解释结果，即修正铀镭平衡、氡射气、钍钾干扰等因素，存在解释效率低、误差大等缺点。γ能谱测井比总量γ测井在性能上先进，但其也受到干扰因素较多，如地层散射到时低能区累积效应，探测器漏计数；谱漂严重；铀、钍、镭、钾等放射性核素相互干扰等难题，严重影响测量精度。因而，现如今急需一种快速、准确的铀、钍、镭、钾同时解析的测井方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种伽马能谱与主动式X荧光联合同时测铀钍镭钾的方法。本专利技术的技术方案为：一种伽马能谱与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种伽马能谱与主动式X荧光联合同时测铀钍镭钾的方法，其步骤：步骤一、γ射线探测器的自动刻度实现谱漂校准根据同位素伽马源释放的伽马射线与伽马探测器反应后形成伽马能谱，在第n道的特征峰的能量为E(i)，则E(i)＝a*n，a为刻度系数，i表示元素种类，实际现场测量时，在第n2道出现了能量为E(i)2的伽马射线特征峰。通过下列过程进行谱漂校准：若E(i)2＝a*n2＝E(i)，则没有发生谱漂，不需校准；若E(i)2＝a*n2>E(i)，则发生谱漂，校准公式

【技术特征摘要】
1.一种伽马能谱与主动式X荧光联合同时测铀钍镭钾的方法，其步骤：步骤一、γ射线探测器的自动刻度实现谱漂校准根据同位素伽马源释放的伽马射线与伽马探测器反应后形成伽马能谱，在第n道的特征峰的能量为E(i)，则E(i)＝a*n，a为刻度系数，i表示元素种类，实际现场测量时，在第n2道出现了能量为E(i)2的伽马射线特征峰。通过下列过程进行谱漂校准：若E(i)2＝a*n2＝E(i)，则没有发生谱漂，不需校准；若E(i)2＝a*n2>E(i)，则发生谱漂，校准公式若E(i)2＝a*n2<E(i)，则发生谱漂，校准公式其中，a为刻度系数，i表示元素种类，E(i)和E(i)2分别为实验室和实际现场测量的特征峰能量，n和n2分别为实验室和实际现场测量时的特征峰的道址位置。利用自动进行γ射线探测器的能量刻度校准，克服谱漂问题；步骤二、地层γ射线探测与分析采用γ射线探测器对能量范围0.5MeV-4MeV的地层γ射线进行采集与信号成形形成能谱，解决能量<0.5MeV的低能区γ射线累积效应带来的γ射线探测器饱和与漏计数难题，并判断此刻地层是否存在放射性核素，当γ射线探测器计数率大于30nps时，认为该地层有放射性核素，降速至10cm/s测量；当γ射线探测器计数率大于30nps时，认为该地层无放射性核素，提速至50cm/s测量；步骤三、同位素伽马源主动式激发地层元素X荧光信息与分析采用同位素源主动式激发地层的元素信息，地层多元素被同位素源激发后产生的X荧光信息穿过铍窗后，1keV-1MeV的X荧光被X荧光探测器采集与信号成形...

【专利技术属性】
技术研发人员：张焱，汤彬，王仁波，张雄杰，
申请(专利权)人：东华理工大学，
类型：发明
国别省市：江西,36