一种用于热室的磁助制样装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于热室的磁助制样装置，其包括有主体和用于放置样品杯的滑块，所述主体包括有主体基座、位于所述主体基座上端面一端的左放置部以及位于所述主体基座上端面另一端的右放置部，其中所述左放置部固定安装在所述主体基座上端面上；本方案中的上述磁助制样装置可以实现在热室中通过控制机械手实现样品杯的移动和夹取等操作，通过此装置，可使用机械手完成样品杯的放置、滑动以及翻转等操作，进而完成磁助制样，达到设计目的。

【技术实现步骤摘要】
一种用于热室的磁助制样装置
本专利技术涉及磁助制样
，具体涉及一种用于热室的磁助制样装置。
技术介绍
X射线荧光法可测量固体、液体及粉体，测量快速、精密度高，操作步骤简单，方法特征性强，处理多元素共存的复杂样品时相互干扰较小，可进行多种元素同时分析。X射线荧光仪器设备简单，易于密封，在后处理分析中具有显著优势。但相比于其它测量方法，X射线荧光检出限高，在方法推广中存在一定局限性。使用磁助制样可有效降低方法检出限，扩大X射线荧光的应用范围。磁助制样方法是使用顺磁性固相分离材料，将溶液中待测元素捕集至固相，在外加磁场作用下快速固液分离，实现捕集、分离及制样同时快速完成的制样方法。参见附图1所示，为现有的磁助制样方法步骤示意图，其操作方法步骤如下：(1)、取一样品杯；(2)、取一定量的磁化树脂和样品溶液加入样品杯中；(3)、振荡混合均匀并保持一段时间；(4)、在杯底部施加磁场，将磁化树脂吸至杯底；(5)、保持磁场强度，将液相从杯口倒出；(6)、加入洗涤液重复步骤(3)-(5)洗涤磁化树脂；(7)将样品杯直接放置在X射线荧光仪器上进行测量并解谱得到分析结果。现有的的上述磁助制样利用双手本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于热室的磁助制样装置，其特征在于：所述磁助制样装置包括有主体和用于放置样品杯的滑块，所述主体包括有主体基座、位于所述主体基座上端面一端的左放置部以及位于所述主体基座上端面另一端的右放置部，其中所述左放置部固定安装在所述主体基座上端面上，所述左放置部包括有其顶端设置有便于样品杯自由移动的左开口部以及设置在其上的水平左滑槽；所述右放置部与所述主体基座另一端外边缘构成可翻转的铰接连接，所述右放置部包括有其顶端设置有的便于样品杯放置的右开口部、设置在其底端上的用于产生磁场的磁构件以及设置在其上的水平右滑槽，所述右开口部其开口尺寸小于所述左开口部开口尺寸，用于形成对所述样品杯的夹持功能，所述滑...

【技术特征摘要】
1.一种用于热室的磁助制样装置，其特征在于：所述磁助制样装置包括有主体和用于放置样品杯的滑块，所述主体包括有主体基座、位于所述主体基座上端面一端的左放置部以及位于所述主体基座上端面另一端的右放置部，其中所述左放置部固定安装在所述主体基座上端面上，所述左放置部包括有其顶端设置有便于样品杯自由移动的左开口部以及设置在其上的水平左滑槽；所述右放置部与所述主体基座另一端外边缘构成可翻转的铰接连接，所述右放置部包括有其顶端设置有的便于样品杯放置的右开口部、设置在其底端上的用于产生磁场的磁构件以及设置在其上的水平右滑槽，所述右开口部其开口尺寸小于所述左开口部开口尺寸，用于形成对所述样品杯的夹持功能，所述滑块包括有滑块主体、设置在所述滑块主体上用于竖直放置样品杯...

【专利技术属性】
技术研发人员：张彤，郑维明，康海英，陶苗苗，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11