折射率测定装置及折射率测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种折射率测定装置及折射率测定方法，可缩短以多波长测定试样的折射率时的测定时间。检测器(2)检测透过了试样的测定光的强度。照相机(200)拍摄通过透过试样而分光成多种颜色的测定光的彩色图像。扫描处理部(101)通过使接受透过了试样的测定光的角度、或射入至试样中的测定光的角度变化来进行扫描。波长特定处理部(102)根据伴随由扫描处理部(101)所进行的扫描而变化的检测器(2)的检测强度、及由照相机(200)所拍摄的彩色图像中的对应于射入至检测器(2)中的测定光的位置的颜色信息，使对应于检测强度的各峰值的波长进行特定。

【技术实现步骤摘要】
折射率测定装置及折射率测定方法
本专利技术涉及一种针对保持在V形块(V-block)棱镜中所形成的V字状的槽中的试样，经由所述V形块棱镜而照射测定光，由此检测透过了试样的测定光来测定试样的折射率的折射率测定装置及折射率测定方法。
技术介绍
在作为折射率测定装置的一例的V形块方式的折射率测定装置中，将试样载置在V形块棱镜中所形成的V字状的槽中，并经由V形块棱镜而对试样照射测定光。而且，以对应于波长的角度从V形块棱镜中射出的测定光在固定的范围内进行扫描并通过检测器来检测，由此根据其检测结果来测定试样的折射率(例如，参照下述专利文献1)。在此种折射率测定装置中具备可插入至测定光的光路中的多种滤光器。多种滤光器分别仅使不同的特定的波长的光透过。通过将从这些滤光器中选择的一个滤光器插入至测定光的光路中，而仅对试样照射对应于此滤光器的波长的测定光(单色光)。[现有技术文献][专利文献][专利文献1]国际公开第2014/207809号
技术实现思路
[专利技术所要解决的问题]在如上所述的现有的V形块方式的折射率测定装置中，通过切换插入至测定光的光路中的滤光器的种类，可测定各波长中的试样的折射率。但是，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种折射率测定装置，其是针对保持在V形块棱镜中所形成的V字状的槽中的试样，经由所述V形块棱镜而照射测定光，由此检测透过了试样的测定光来测定试样的折射率的折射率测定装置，其特征在于，包括：检测器，检测透过了试样的测定光的强度；拍摄部，拍摄通过透过试样而分光成多种颜色的测定光的彩色图像；扫描处理部，通过使接受透过了试样的测定光的角度、或射入至试样中的测定光的角度变化来进行扫描；以及波长特定处理部，根据伴随由所述扫描处理部所进行的扫描而变化的所述检测器的检测强度、及由所述拍摄部所拍摄的彩色图像中的对应于射入至所述检测器中的测定光的位置的颜色信息，使对应于检测强度的各峰值的波长进行特定。

【技术特征摘要】
2017.09.26 JP 2017-1852881.一种折射率测定装置，其是针对保持在V形块棱镜中所形成的V字状的槽中的试样，经由所述V形块棱镜而照射测定光，由此检测透过了试样的测定光来测定试样的折射率的折射率测定装置，其特征在于，包括：检测器，检测透过了试样的测定光的强度；拍摄部，拍摄通过透过试样而分光成多种颜色的测定光的彩色图像；扫描处理部，通过使接受透过了试样的测定光的角度、或射入至试样中的测定光的角度变化来进行扫描；以及波长特定处理部，根据伴随由所述扫描处理部所进行的扫描而变化的所述检测器的检测强度、及由所述拍摄部所拍摄的彩色图像中的对应于射入至所述检测器中的测定光的位置的颜色信息，使对应于检测强度的各峰值的波长进行特定。2.根据权利要求1所述的折射率测定装置，其特征在于：还包括存储部，所述存储部将由所述波长特定处理部所特定的检测强度的各峰值与波长的关系相互建立对应来存储。3.根据权利要求1或2所述的折射率测定装置，其特征在于：还包括折射率算出处理部，所述折射率算出处理部根据由所述波长特定处理部所特定的检测强度的各峰值与波长的关系，算出...

【专利技术属性】
技术研发人员：永井彻也，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP