【技术实现步骤摘要】
用于检测联合误差的标准器及联合误差检测方法
本专利技术涉及一种标准器，尤其是一种用于检测多传感器测量系统的联合误差检测的标准器。本专利技术还涉及一种联合误差检测方法。
技术介绍
随着汽车摩托车、航空航天、高铁、船舶、医疗器械等先进制造领域的飞速发展，大量高端产品使用了复杂零件，这些零件具有多尺度特征尺寸和测量难度大的特点，其精度直接影响产品最终质量及使用寿命。任何单一传感器都不能完成此类零件的全部特征测量。在几何量测量领域，多传感器坐标测量系统利用光学-影像-接触式传感器之间的互补性，成为了复杂零部件多要素高精度测量的重要手段，而集成不同类型传感器的复合式测量方式也正成为工业检测的重要发展趋势。据统计，多传感器坐标测量机大都分布在各企业的高端产品制造加工领域。以重庆先进制造产业为例，长安汽车、力帆、长安工业、四联仪器仪表、重庆机床、綦江齿轮等多家企业都引进了不同类型的多传感器坐标测量机，用于汽车模具、汽缸盖、涡轮、叶片、凸轮、机身及不规则空间型面的复杂零件多要素三维几何测量。标准器是坐标测量系统验证检测和复检检测的关键。由于图像传感器、光学传感器多属于2D测头，采...
【技术保护点】
1.一种用于检测联合误差的标准器，其特征在于：包括下表面为平面的底座，在所述底座上表面围绕同一中心点O环形分布有至少3个竖直的测量孔，并且测量孔的中心均在以中心点O为圆心、R为半径的圆形曲线上；所述测量孔由同轴线的锥孔和圆孔构成，锥孔的小端与圆孔一端连接，锥孔的小端直径等于圆孔直径；所述圆孔直径d为10mm≤d≤51mm，圆孔的高度c≤0.3mm，圆孔的圆度小于1μm；所述锥孔的锥角θ为30°≤θ≤60°。
【技术特征摘要】
1.一种用于检测联合误差的标准器，其特征在于：包括下表面为平面的底座，在所述底座上表面围绕同一中心点O环形分布有至少3个竖直的测量孔，并且测量孔的中心均在以中心点O为圆心、R为半径的圆形曲线上；所述测量孔由同轴线的锥孔和圆孔构成，锥孔的小端与圆孔一端连接，锥孔的小端直径等于圆孔直径；所述圆孔直径d为10mm≤d≤51mm，圆孔的高度c≤0.3mm，圆孔的圆度小于1μm；所述锥孔的锥角θ为30°≤θ≤60°。2.根据权利要求1所述的用于检测联合误差的标准器，其特征在于：所述测量孔的数量为3个，相邻测量孔之间的夹角为120°。3.根据权利要求1所述的用于检测联合误差的标准器，其特征在于：所述底座上表面为平面，测量孔上表面与底座上表面齐平；各测量孔的深度均不相同，并且依次以相等差值进行递增。4.根据权利要求1所述的用于检测联合误差的标准器，其特征在于：单个测量孔被加工在单孔标准器上，各单孔标准器按照测量孔的分布方式安装在底座上表面，从而使得各测量孔绕同一中心O环形分布。5.根据权利要求4所述的用于检测联合误差的标准器，其特征在于：底座上表面为平面；所述各单孔标准器通过对应的圆柱支架安装在底座上表面；各圆柱支架的高度均不相同，并且依次以相等高度差值进行递增。6.根据权利要求5所述的用于检测联合误差的标准器，其特征在于：所述底座下表面设有水平调节机构；所述水平调节机构包括对应各圆柱支架设置的支撑脚；所述支撑脚包括带有外螺纹的螺纹杆与半球形顶头，螺纹杆下端与半球形顶头的圆形平面连接；所述圆柱支架上设有用于连接支撑脚的内螺纹孔；所述支撑脚的螺纹杆通过底座上的通孔贯穿底座并旋入圆柱支架的内螺纹孔中，从而与圆柱支架螺纹连接。7.根据权利要求5或6所述的用于检测联合误差的标准器，其特征在于：还包括封装在底座上的封装盖，所述封装盖对应于各圆柱位置处设有相应的凸罩，各凸罩的顶面与相应单孔标准器顶面齐平，并且凸罩的顶面开有能够露出单孔标准器上的测量孔的过孔；所述封装盖与底座均采用铝制成；所述单孔标准器采用高速钢制成，所述圆柱支架采用磁性材料制成，从而使得单孔标准器能够被磁力吸合定位在圆柱支架顶面。8.一种联合误差检测方法，用于检测多传感器测量系统的联合误差，所述多传感器测量系统具有n种用于尺寸测量的传感器，其特征在于：采用权利要求1所述的用于检测联合误差的标准器；所述标准器具有m个测量孔，m≥3；包括以下步骤：步骤1：以所述传感器中测量精度最高的传感器作为参考传感器；步骤2：将标准器水平放置在多传感器测量系统的工作台上，然后各传感器依次对标准器上的各测量孔进行采样，采样点在圆锥孔与圆孔所交界的圆形曲线上；令第i种传感器对第j个测量孔的采样点集合为并且令参考传感器对第j个测量孔的采样点...
【专利技术属性】
技术研发人员：周森，徐健，陶磊，颜宇，黄勇，
申请(专利权)人：重庆市计量质量检测研究院，
类型：发明
国别省市：重庆,50
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