【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】在成像系统中控制透镜失准
本专利技术整体涉及成像系统,更具体地讲,涉及检测成像光学器件的失准。
技术介绍
紧凑的数字成像系统在诸如移动电话和平板电脑的便携式数字设备中普遍存在。典型的系统包括成像透镜和图像传感器,例如位于光学器件的图像平面中的感测元件阵列。在一些应用中,有利的是让图像传感器引导成像透镜的聚焦。
技术实现思路
下文描述的本专利技术的实施方案提供用于检测光学成像系统中透镜失准的方法和装置。因此,根据本专利技术的实施方案,提供了一种用于成像的方法。该方法包括使用成像系统对场景成像,该成像系统包括辐射感测元件的阵列。该阵列包括具有对称角响应的第一感测元件和散布于第一感测元件之间、具有非对称角响应的第二感测元件,以及配置为将来自场景的辐射聚焦到阵列上的光学器件。该方法包括处理由第一感测元件输出的第一信号,以便识别阵列上均匀辐照度的一个或多个区域;并处理位于所识别区域中的第二感测元件输出的第二信号,以便检测光学器件与阵列的失准。在一个实施方案中,第二感测元件包括形成于衬底中的光敏区,设置于光敏区上方的微镜头,以及插入衬底和微镜头之间、部分地覆盖光敏区的不透明屏蔽件 ...
【技术保护点】
1.一种用于成像的方法,包括:使用成像系统对场景成像,所述成像系统包括辐射感测元件的阵列和被配置为将来自所述场景的辐射聚焦到所述阵列上的光学器件,所述辐射感测元件的阵列包括具有对称角响应的第一感测元件和散布于所述第一感测元件之中、具有非对称角响应的第二感测元件;处理由所述第一感测元件输出的第一信号,以便识别所述阵列上均匀辐照度的一个或多个区域;以及处理由位于所识别区域中的所述第二感测元件输出的第二信号,以便检测所述光学器件与所述阵列的失准。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.08.02 US 62/369,773;2017.04.27 US 15/498,5071.一种用于成像的方法,包括:使用成像系统对场景成像,所述成像系统包括辐射感测元件的阵列和被配置为将来自所述场景的辐射聚焦到所述阵列上的光学器件,所述辐射感测元件的阵列包括具有对称角响应的第一感测元件和散布于所述第一感测元件之中、具有非对称角响应的第二感测元件;处理由所述第一感测元件输出的第一信号,以便识别所述阵列上均匀辐照度的一个或多个区域;以及处理由位于所识别区域中的所述第二感测元件输出的第二信号,以便检测所述光学器件与所述阵列的失准。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二感测元件包括:光敏区,所述光敏区形成于衬底中;微镜头,所述微镜头设置于所述光敏区上方;和不透明屏蔽件,所述不透明屏蔽件置于所述衬底和所述微镜头之间、部分地覆盖所述光敏区。3.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二感测元件包括:至少一个光敏区,所述至少一个光敏区形成于衬底中;和微镜头,所述微镜头设置于光敏区上方,其中所述至少一个光敏区相对于通过所述微镜头指向所述感测元件的主光线是偏移的。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中处理所述第二信号包括监测所述光学器件相对于所述阵列的横向偏移。5.根据权利要求4所述的方法,其中监测所述横向偏移包括:通过使所述第二信号相对于所述所识别区域中的所述第一感测元件输出的所述第一信号规格化来计算所述所识别区域中的所述第二感测元件的增益;评估所计算增益与所存储增益的偏差值;以及基于所述偏差来估计所述横向偏移。6.根据权利要求4所述的方法,其中所述第二感测元件包括具有不同相应非对称角度的不同组的第二感测元件,并且其中监测所述横向偏移包括比较所述不同组输出的第二信号,以便评估所述横向偏移的方向。7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中处理所述第二信号包括监测所述光学器件相对于所述阵列的倾斜度。8.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中处理所述第二信号包括:存储针对多个类型的失准的相应增益图;通过使所述第二信号相对于所述所识别区域中的所述第一感测元件输出的所述第一信号规格化来计算所述所识别区域中的所述第二感测元件的增益;以及将所计算的增益与所存储的增益图进行比较,以便识别所述失准的类型和量值。9.根据权利要求1至3中任一项所述的方法...
【专利技术属性】
技术研发人员:D·J·费题格,G·A·阿干诺夫,G·罗森布拉姆,
申请(专利权)人:苹果公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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