温度测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种温度测试装置，该温度测试装置用于光模块的温度检测，所述温度测试装置包括：测试箱，所述测试箱形成有容置腔，所述容置腔形成有进风口和出风口；测试控制组件，所述测试控制组件的至少部分容置于所述容置腔内，并与所述光模块电性连接；以及冷热冲击组件，所述冷热冲击组件所述冲击头固定在测试箱上，并与所述进风口连通。本实用新型专利技术技术方案旨在在短时间内完成光模块需要检测的温度的变换，缩短光模块的测试时间，提高测试效率，方便用户使用。

Temperature Testing Device

The utility model discloses a temperature testing device, which is used for temperature detection of an optical module. The temperature testing device comprises a test box, which forms a capacitive cavity, the capacitive cavity forms an air inlet and an air outlet, and a test control component, in which at least part of the test control component is contained and electrically connected with the optical module. The impact head of the cold and heat shock assembly is fixed on the test box and connected with the air inlet. The technical scheme of the utility model aims at completing the temperature transformation of the optical module which needs to be detected in a short time, shortening the testing time of the optical module, improving the testing efficiency and facilitating the user's use.

【技术实现步骤摘要】
温度测试装置
本技术涉及光学检测
，特别涉及一种温度测试装置。
技术介绍
光模块的光电性能测试一般需按照高温、低温、常温分为三次进行高低温测试，目前主要是将待测试的光模块放在可控制温度的恒温箱中进行光电性能测试，或在冷热冲击箱进行测试。如此，每次对光模块进行测量时都需要将光模块取出，再放入不同温度的测试箱进行测量，但是随着生产的产量提升需求，需要缩短光模块的温度测试时间，并且提高测试箱的升温和降温速率，以便保证在短时间内完成测试。现有的光模块测试箱不能在短时间内完成光模块需要的测试温度的变换，从而导致光模块的测试时间较长，测试效率较低，不方便用户使用。
技术实现思路
本技术的主要目的是提供一种温度测试装置，旨在在短时间内完成光模块需要检测的温度的变换，缩短光模块的测试时间，提高测试效率，方便用户使用。为实现上述目的，本技术提供的温度测试装置，用于光模块的温度检测，所述温度测试装置包括：测试箱，所述测试箱形成有容置腔，所述容置腔形成有进风口和出风口；测试控制组件，所述测试控制组件的至少部分容置于所述容置腔内，并与所述光模块电性连接；以及冷热冲击组件，所述冷热冲击组件包括冲击头，所述冲击头固定在测试箱上，并与所述进风口连通。可选地，所述冷热冲击组件包括压缩机和输气管，所述输气管的一端与所述压缩机连通，另一端与所述冲击头连通，所述输气管形成有第一进气通道，所述冲击头形成有第一出气通道和位于所述第一出气通道内的第二进气通道，所述第二进气通道连通所述第一进气通道和所述进风口。可选地，所述温度测试装置还包括衔接板，所述衔接板环绕所述冲击头设置，并将所述冲击头和所述测试箱的连接处密封连接。可选地，所述温度测试装置还包括排气管和消声器，所述排气管与所述冲击头固定连接，所述消声器固定于所述排气管背离所述冲击头的端部，所述排气管内形成有第二出气通道，所述第二出气通道与所述第一出气通道连通。可选地，测试控制组件包括：测试板，所述测试板容置于所述容置腔内，并形成有用于与所述光模块连接的插拔接口；测温件，所述测温件测试所述光模块的温度，所述测温件容置于所述容置腔内；以及控制器，所述测试板和所述测温件均与所述控制器电性连接。可选地，所述测温件包括：固定支架，所述固定支架容置于所述容置腔内，并与所述测试箱固定连接；驱动部，所述驱动部用于驱动所述热电偶靠近或远离所述插拔接口运动，所述驱动部与所述固定支架固定连接；以及热电偶，所述热电偶与所述固定支架活动连接，并测试所述光模块的温度，所述驱动部驱动所述热电偶靠近或远离所述插拔接口运动，所述热电偶与所述控制器电性连接。可选地，所述温度测试装置还包括连接线缆，所述测试箱还形成有过线孔，所述连接线缆穿过所述过线孔件将所述测试板和所述控制器电性连接，将测试板的信号及时传输至外部的测试仪器；所述温度测试装置还包括防水接头，所述防水接头套接于所述过线孔，将所述连接线缆和所述过线孔的连接处密封。可选地，所述驱动部包括：避位汽缸，所述避位汽缸与所述固定支架固定连接；第一杆体，所述第一杆体与所述避位汽缸固定连接，所述第一杆体呈圆筒状设置，第二杆体，所述第二杆体可伸缩地套接于所述第一杆体的内部，所述第二杆体背离所述第一杆体的端部与所述热电偶固定连接；以及弹性件，所述弹性件容置于第一杆体内，所述弹性件的一端与第一杆体固定连接，另一端与所述第二杆体固定连接。可选地，所述测试箱包括底板、自所述底板延伸的多个侧板及与所述侧板连接的顶板，所述底板、所述侧板和所述顶板共同围合形成所述容置腔；所述冲击头与所述顶板固定连接，所述出风口设于所述底板。可选地，所述温度测试装置还包括消音海绵，所述消音海绵设于所述底板，并位于所述容置腔内；且/或，所述消音海绵设于所述侧板，并位于所述容置腔内。本技术的技术方案通过设置具有容置腔的测试箱，并在容置腔内容置测试控制组件的部分，并将冷热冲击组件的输气管与进风口连通，将光模块与测试控制组件电连接，从而光模块正常工作。当需要对光模块进行温度较高的检测时，调整压缩机的出风温度使其输气管从进风口向容置腔输送高温气体，容置腔内的低温气体则从出风口流出，以使容置腔内的空气温度迅速升高，并保持在某个温度范围内，从而光模块与容置腔内的空气进行热传导，温度升高。测试控制组件测试当前温度，并检测光模块在该温度下的工作状态，从而完成在高温下对光模块的测试。当需要对光模块进行温度较低的检测时，调整压缩机的出风温度使其输气管从进风口向容置腔输送低温气体，容置腔内的高温气体则从出风口流出，以使容置腔内的空气温度迅速降低，并保持在某个温度范围内，从而光模块与容置腔内的空气进行热传导，温度降低。测试控制组件测试当前温度，并检测光模块在该温度下的工作状态，从而完成在低温下对光模块的测试。由于采用了冷热冲击组件，可以迅速切换容置腔内的温度，并且无需更换测试箱即可实现在同一个测试箱进行冷热测试。如此，本技术的技术方案可以在短时间内完成光模块需要检测的温度的变换，缩短光模块的测试时间，提高测试效率，方便用户使用。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本技术温度测试装置一实施例的结构示意图；图2为本技术温度测试装置的容置腔内部一实施例的结构示意图；图3为本技术温度测试装置的内部气流循环一实施例的结构示意图；图4为本技术温度测试装置一实施例的局部剖视示意图；图5为本技术温度测试装置的冲击头一实施例的结构示意图；图6为本技术温度测试装置的冲击头一实施例的仰视示意图。附图标号说明：本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。本技术提出一种温度测试装置100。参照图1至图6，本技术技术方案提出的温度测试装置100用于光模块200的温度检测，所述温度测试装置100包括：测试箱10，所述测试箱10本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度测试装置，用于光模块的温度测试，其特征在于，所述温度测试装置包括：测试箱，所述测试箱形成有容置腔，所述容置腔形成有进风口和出风口；测试控制组件，所述测试控制组件的至少部分容置于所述容置腔内，并与所述光模块电性连接；以及冷热冲击组件，所述冷热冲击组件包括冲击头，所述冲击头固定在测试箱上，并与所述进风口连通。

【技术特征摘要】
1.一种温度测试装置，用于光模块的温度测试，其特征在于，所述温度测试装置包括：测试箱，所述测试箱形成有容置腔，所述容置腔形成有进风口和出风口；测试控制组件，所述测试控制组件的至少部分容置于所述容置腔内，并与所述光模块电性连接；以及冷热冲击组件，所述冷热冲击组件包括冲击头，所述冲击头固定在测试箱上，并与所述进风口连通。2.如权利要求1所述的温度测试装置，其特征在于，所述冷热冲击组件包括压缩机和输气管，所述输气管的一端与所述压缩机连通，另一端与所述冲击头连通，所述输气管形成有第一进气通道，所述冲击头形成有第一出气通道和位于所述第一出气通道内的第二进气通道，所述第二进气通道将所述第一进气通道和所述进风口连通。3.如权利要求1所述的温度测试装置，其特征在于，所述温度测试装置还包括衔接板，所述衔接板环绕所述冲击头设置，并将所述冲击头和所述测试箱的连接处密封连接。4.如权利要求1所述的温度测试装置，其特征在于，所述温度测试装置还包括排气管和消声器，所述排气管与所述冲击头固定连接，所述消声器固定于所述排气管背离所述冲击头的端部。5.如权利要求1至4中任一项所述的温度测试装置，其特征在于，测试控制组件包括：测试板，所述测试板容置于所述容置腔内，并形成有用于与所述光模块连接的插拔接口；测温件，所述测温件测试所述光模块的温度，所述测温件容置于所述容置腔内；以及控制器，所述测试板和所述测温件均与所述控制器电性连接。6.如权利要求5所述的温度测试装置，其特征在于，所述测温件包括：固定支架，所述固定支架容置于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢小飞，
申请(专利权)人：深圳市亚派光电器件有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44