一种位置检测机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种位置检测机构。该位置检测机构包括支架、旋转拨片、传感器和限位件；旋转拨片与支架转动连接，旋转拨片上设有接触部和触发部；旋转拨片具有检测位；限位件安装在支架上。本公开的位置检测机构灵敏度高，检测精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种位置检测机构
本技术涉及位置检测领域，更具体地，本技术涉及一种位置检测机构。
技术介绍
在产品自动化生产过程中，常常要检测物料的位置，以确保可对处于相应位置上的物料进行相关工艺处理。现有物料位置检测的方式通常通过单一的光电传感器实现。但是单一的光电传感器检测位置存在着精度低的问题。以检测摆放有物料的料盘为例，单一的光电传感器检测料盘的位置时精度较低，易影响到工艺处理的效率。特别是当料盘由薄而透明材料制成时，单一的光电传感器检测料盘存在着较高的漏检率。因此，如何提高检测精度成为本领域亟需解决的技术难题。
技术实现思路
本技术的一个目的是提供一种检测精度高的位置检测机构。根据本技术的一个方面，提供了一种位置检测机构。该位置检测机构包括支架、旋转拨片、传感器和限位件；其中，所述旋转拨片与所述支架转动连接，所述旋转拨片上设有接触部和触发部，所述接触部被设置为用于与检测对象相接触，以使得所述旋转拨片转动；所述旋转拨片具有检测位，所述触发部被配置为在所述旋转拨片转动至所述检测位时触发所述传感器。可选地，所述位置检测机构还包括旋转轴；所述旋转拨片通过所述旋转轴与所述支架转动连接；所述接触部和所述触发部位于所述旋转轴的两侧。可选地，所述位置检测机构还包括复位件，所述复位件安装在所述支架上；所述复位件被设置为用于向所述旋转拨片提供弹性力，以使得所述接触部脱离检测对象后所述旋转拨片复位至所述初始位置。可选地，所述复位件为压缩弹簧；所述压缩弹簧的一端与所述旋转拨片相连接或相抵。可选地，还包括限位件；所述限位件安装在所述支架上，所述限位件被设置为用于限定所述旋转拨片未与检测对象相接触时的初始位置。可选地，所述位置检测机构还包括限位件定位块；所述限位件定位块与所述支架固定连接，所述限位件与所述限位件定位块螺纹连接，以通过调整所述限位件在所述限位件定位块上的位置调整所述旋转拨片的初始位置。可选地，所述限位件为紧固螺钉；所述紧固螺钉的一端与所述旋转拨片相抵。可选地，所述位置检测机构还包括复位件，所述复位件为压缩弹簧；所述限位件定位块上设有复位件固定槽；所述压缩弹簧的一端位于所述复位件固定槽内，所述压缩弹簧的另一端与所述旋转拨片相连接或相抵。可选地，所述传感器为光电开关，所述旋转拨片由非透明材料制成。可选地，所述旋转拨片具有拨片主体；所述接触部自所述拨片主体的一端向外延伸，所述触发部位于所述拨片主体的另一端。本技术的一个技术效果在于，检测对象可在与旋转拨片的接触部接触后推动旋转拨片转动至检测位，使得旋转拨片的触发部触发传感器，从而检测到检测对象的位置。本公开的位置检测机构灵敏度高，检测精度高。通过以下参照附图对本技术的示例性实施例的详细描述，本技术的其它特征及其优点将会变得清楚。附图说明构成说明书的一部分的附图描述了本技术的实施例，并且连同说明书一起用于解释本技术的原理。图1为本公开位置检测机构实施例的结构示意图。图2为本公开位置检测机构实施例的剖示图。图中标示如下：支架-1，旋转拨片-2，接触部-21，触发部-22，拨片主体-23，传感器-3，限位件-4，旋转轴-5，复位件-6，限位件定位块-7，复位件固定槽-70。具体实施方式现在将参照附图来详细描述本技术的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本技术的范围。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本技术及其应用或使用的任何限制。对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。如图1和图2所示，本公开的位置检测机构包括支架1、旋转拨片2、传感器3。位置检测机构可通过支架1安装至装置或设备上。传感器3可例如为光电传感器等。此外，传感器3可安装在支架1上，或者安装在位置检测机构所安装的装置或设备上。旋转拨片2与支架1转动连接。旋转拨片2与支架1之间的转动连接可通过轴连接或球窝连接等方式实现。旋转拨片2上设有接触部21和触发部22。接触部21可与检测对象相接触。旋转拨片2具有检测位，触发部22可在旋转拨片2转动至检测位时触发传感器3。该检测位指旋转拨片2旋转到的特定位置姿态，例如当旋转拨片2旋转到图2所示的姿态时，触发部22正好处在触发传感器3的位置。即图2所示的姿态，即为旋转拨片2的检测位。本技术并限制所述检测位必须为旋转拨片的某一特定位置姿态。在其它具体实施方式中，旋转拨片旋转到触发传感器的位置姿态，即可以作为所述检测位。通过检测对象施加给旋转拨片2的作用力，旋转拨片2可相对于支架1转动。当旋转拨片2转动至检测位时，触发部22触发传感器3。所述位置检测机构还可以包括限位件4，所述限位件4安装在支架1上。限位件4在支架1的安装方式可通过焊接或螺栓连接等方式实现。限位件4可限定旋转拨片2未与检测对象相接触时的初始位置。也即是，当旋转拨片2与限位件4相接触时，旋转拨片2处于未与检测对象相接触时的初始位置。使用时，旋转拨片2先处于初始位置。检测对象移动直至与旋转拨片2的接触部21相接触。随着检测对象的继续移动，旋转拨片2可在检测对象的作用力下转动。当旋转拨片2转动至检测位时，旋转拨片的触发部22可触发传感器3。传感器3被触发后发出信号，根据该信号可判断检测对象处于需求位置处。具体实施时，根据工艺处理需求可对检测对象进行相关操作。当检测对象完成相关操作，并离开旋转拨片2的接触部21后，旋转拨片2可通过人工操作或通过旋转拨片2自身的重力恢复至由限位件4所限定的初始位置。根据本公开的一个实施例，检测对象可在与旋转拨片2的接触部21接触后推动旋转拨片2转动至检测位，使得旋转拨片2的触发部22触发传感器3，从而检测到检测对象的位置。本专利技术的位置检测机构灵敏度高，检测精度高。此外，当传感器3的位置和旋转拨片2的转动轴均固定不变时，通过调整旋转拨片2的尺寸，可调整旋转拨片2的检测精度。本领域技术人员可根据检测精度需求调整位置检测机构。以检测料盘在升降支架上的位置为例，位置检测机构安装于升降支架上。位置检测机构的旋转拨片2最初处于初始位置。料盘可移动至与旋转拨片2的接触部21相接触。随着料盘的继续移动，旋转拨片2可在料盘的推动下转动。当旋转拨片2转动至检测位时，旋转拨片的触发部22可触发传感器3。传感器3被触发后发出信号，根据该信号可判断料盘处于需求位置处。此时可控制料盘停止移动，并将料盘取走。料盘离开旋转拨片2的接触部21后，旋转拨片2可恢复至由限位件4所限定的初始位置，以进行下一次料盘的位置检测。对于一些需要重复利用的料盘，由于长期的使用，料盘容易出现裙边变形和破裂的现象。对于这种料盘，本公开的位置检测机构可检测料盘不易变形的内腔表面，从而提高检测精度。对于堆叠的料盘水平不一致的问题，本公开通过与料盘的表面相触实现检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种位置检测机构，其特征在于，包括支架、旋转拨片、传感器；其中，所述旋转拨片与所述支架转动连接，所述旋转拨片上设有接触部和触发部，所述接触部被设置为用于与检测对象相接触，以使得所述旋转拨片转动；所述旋转拨片具有检测位，所述触发部被配置为在所述旋转拨片转动至所述检测位时触发所述传感器。

【技术特征摘要】
1.一种位置检测机构，其特征在于，包括支架、旋转拨片、传感器；其中，所述旋转拨片与所述支架转动连接，所述旋转拨片上设有接触部和触发部，所述接触部被设置为用于与检测对象相接触，以使得所述旋转拨片转动；所述旋转拨片具有检测位，所述触发部被配置为在所述旋转拨片转动至所述检测位时触发所述传感器。2.根据权利要求1所述的位置检测机构，其特征在于，所述位置检测机构还包括旋转轴；所述旋转拨片通过所述旋转轴与所述支架转动连接；所述接触部和所述触发部位于所述旋转轴的两侧。3.根据权利要求1所述的位置检测机构，其特征在于，所述位置检测机构还包括复位件，所述复位件安装在所述支架上；所述复位件被设置为用于向所述旋转拨片提供弹性力，以使得所述接触部脱离检测对象后所述旋转拨片复位至初始位置。4.根据权利要求3所述的位置检测机构，其特征在于，所述复位件为压缩弹簧；所述压缩弹簧的一端与所述旋转拨片相连接或相抵。5.根据权利要求1所述的位置检测机构，其特征在于，还包括限位件；所述限位件安装在所述支架上，所述限位件被设置为用...

【专利技术属性】
技术研发人员：马正建，
申请(专利权)人：歌尔科技有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37