天线测试系统技术方案

本申请提供了一种天线测试系统，用于对电子装置的多个待测试天线进行测试。其包括屏蔽装置、多个测试天线、第一测试仪及第二测试仪，屏蔽装置收容电子装置及测试天线，每个测试天线测试至少一个待测试天线的性能；测试待测试天线的发射性能时，待测试天线发射第一电磁波信号，与待测试天线相对应的测试天线接收第一电磁波信号并根据第一电磁波信号得到第一电信号，并传输至第一测试仪，第一测试仪根据第一电信号的参数信息判断待测试天线的性能；当测试待测试天线的接收性能时，与待测试天线对应的测试天线发射第二电磁波信号，待测试天线根据第二电磁波信号产生第二电信号，第二测试仪根据第二电信号的参数信息判断待测试天线的性能。

【技术实现步骤摘要】
天线测试系统
本申请涉及测试
，尤其涉及一种天线测试系统。
技术介绍
随着技术的进步，手机等电子装置得到了广泛的普及。电子装置通常包括天线，以与其他电子装置进行通信。在电子装置出厂之前，或者在对电子进行维修的时候，常常会对电子装置中的天线的性能进行测试，以判断天线是否合格。传统技术中，对电子装置中的天线进行测试的时候通常会用到较多的测试仪器，且测试流程比较繁琐。
技术实现思路
本申请提供一种天线测试系统，用于对电子装置中的多个待测试天线的性能进行测试。所述天线测试系统包括屏蔽装置、多个测试天线、第一测试仪及第二测试仪，所述屏蔽装置包括收容空间，所述收容空间用于收容电子装置及所述测试天线，所述屏蔽装置用于屏蔽所述收容空间外的电磁波信号的干扰，每个测试天线用于测试至少一个待测试天线的性能；当测试所述待测试天线的发射性能时，所述待测试天线发射第一电磁波信号，与所述待测试天线相对应的测试天线接收所述第一电磁波信号并根据所述第一电磁波信号得到第一电信号，并将所述第一电信号传输至所述第一测试仪，所述第一测试仪根据所述第一电信号的参数信息以判断所述待测试天线的性能；当测试所述待测试天线的接收性能时，与所述待测试天线对应的测试天线发射第二电磁波信号，所述待测试天线根据所述第二电磁波信号产生第二电信号，所述第二测试仪根据所述第二电信号的参数信息以判断所述待测试天线的性能。相较于现有技术，本申请的天线测试系统在一个屏蔽装置内设置多个测试天线，以对电子装置中的多个待测试天线进行测试。从而减少了对天线进行测试的时候使用的测试仪器的数量，简化了测试流程。附图说明为了更清楚地说明本申请实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施方式一提供的天线测试系统的结构示意图。图2为本申请实施方式一提供的天线测试系统的电路示意图。图3为本申请实施例一提供的天线测试系统的具体电路示意图。图4为本申请实施例二提供的天线测试系统的具体电路示意图。图5为本申请实施例三提供的天线测试系统的具体电路示意图。图6为本申请实施方式二提供的天线测试系统的结构示意图。图7为本申请实施方式三提供的天线测试系统的结构示意图。图8为本申请实施方式四提供的天线测试系统的结构示意图。具体实施方式请一并参阅图1及图2，图1为本申请实施方式一提供的天线测试系统的结构示意图；图2为本申请实施方式一提供的天线测试系统的电路示意图。本申请提供的天线测试系统1用于对电子装置3中的多个待测试天线30的性能进行测试。所述电子装置3包括但不仅限于手机、平板电脑等具有通信功能的装置。所述天线测试系统1对所述电子装置3中的多个待测试天线30的性能进行测试时，可以测试所述待测试天线30的射频通路是否导通等；此外，当所述待测试天线30为发射天线时，所述天线测试系统1用于测试所述待测试天线30的发射性能时，用于测试所述待测试天线30的最大发射功率等；当所述待测试天线30为接收天线时，所述天线测试系统1用于测试所述待测试天线30的接收性能时，用于测试所述待测试天线30接收信号的强度等。所述天线测试系统1包括屏蔽装置100、多个测试天线200、第一测试仪300及第二测试仪400。所述屏蔽装置100包括收容空间，所述收容空间用于收容电子装置3及所述测试天线200，所述屏蔽装置100用于屏蔽所述收容空间外的电磁波信号的干扰。每个测试天线200用于测试至少一个待测试天线30的性能。当测试所述待测试天线30的发射性能时，所述待测试天线30发射第一电磁波信号，与所述待测试天线30相对应的测试天线200接收所述第一电磁波信号并根据所述第一电磁波信号得到第一电信号，并将所述第一电信号传输至所述第一测试仪300，所述第一测试仪300根据所述第一电信号的参数信息以判断所述待测试天线30的性能；当测试所述待测试天线30的接收性能时，与所述待测试天线30对应的测试天线200发射第二电磁波信号，所述待测试天线30根据所述第二电磁波信号产生第二电信号，所述第二测试仪400根据所述第二电信号的参数信息以判断所述待测试天线30的性能。所述屏蔽装置100可以为但不仅限于为金属材质的箱体。可以理解地，当对所述待测试天线30进行测试时，当所述待测试天线30为主集天线，则，需要对所述待测试天线30的发射性能以及所述待测试天线30的接收性能进行测试。其中，主集天线为既能够发射电磁波信号又能够接收电磁波信号的天线。当所述待测试天线30为分集天线时，则仅仅需要对所述待测试天线30的接收性能进行测试。其中，所述分集天线为仅仅能够接收电磁波信号的天线，但是所述分集天线不能够发射电磁波信号。相较于现有技术，本申请的天线测试系统1在一个屏蔽装置100内设置多个测试天线200，以对电子装置3中的多个待测试天线30进行测试。从而减少了对天线进行测试的时候使用的测试仪器的数量，简化了测试流程。具体地，所述第一测试仪300设置于所述屏蔽装置100的外部，所述屏蔽装置100开设有第一通孔110，所述第一通孔110连通所述收容空间，所述第一测试仪300通过射频线与所述收容空间内的测试天线200电连接，其中，所述射频线穿过所述第一通孔110。所述第一测试仪300可以为但不仅限于为非信令综测仪。结合图1、图2以及前面对天线测试系统1的描述，对本申请天线测试系统1的具体电路进行描述。请一并参阅图3，图3为本申请实施例一提供的天线测试系统的具体电路示意图。在本实施方式中，所述天线测试系统1还包括可调滤波器500。每个测试天线200分别通过第一连接线510电连接所述可调滤波器500的一端，所述可调滤波器500的另一端通过第二连接线520电连接至第一测试仪300。所述可调滤波器500用于通过与当前待测试天线30对应的测试天线200产生的第一电信号，并滤除当前测试天线200以外的其他测试天线200根据第一电磁波信号产生的杂波电信号。具体地，当测试天线200的数目为多个的时候，对当前测试的待测试天线30的发射性能进行测试的时候，所述待测试天线30发射第一电磁波信号，与所述待测试天线30相对应的测试天线200接收所述第一电磁波信号并根据所述第一电磁波信号得到第一电信号，此时，当前测试天线200以外的其他测试天线200也会耦合第一电磁波信号而产生杂波电信号，杂波电信号会影响对待测试天线30性能的评估，对测试结果造成干扰。因此，本申请通过将可调滤波器500电连接在测试天线200和第一测试仪300之间，从而滤除了杂波电信号，提高了测量待测试天线30性能的精度。结合图1、图2以及前面对天线测试系统1的描述，对本申请天线测试系统1的具体电路进行描述。请一并参阅图4，图4为本申请实施例二提供的天线测试系统的具体电路示意图。在本实施方式中，所述天线测试系统1还包括调制解调器600。每个测试天线200分别通过第三连接线610电连接所述调制解调器600的一端，所述调制解调器600的另一端通过第四连接线620电连接所述第一测试仪300，所述调制解调器600用于解调出与当前待测试天线30对应的测试天线200本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种天线测试系统，用于对电子装置中的多个待测试天线的性能进行测试，其特征在于，所述天线测试系统包括屏蔽装置、多个测试天线、第一测试仪及第二测试仪，所述屏蔽装置包括收容空间，所述收容空间用于收容电子装置及所述测试天线，所述屏蔽装置用于屏蔽所述收容空间外的电磁波信号的干扰，每个测试天线用于测试至少一个待测试天线的性能；当测试所述待测试天线的发射性能时，所述待测试天线发射第一电磁波信号，与所述待测试天线相对应的测试天线接收所述第一电磁波信号并根据所述第一电磁波信号得到第一电信号，并将所述第一电信号传输至所述第一测试仪，所述第一测试仪根据所述第一电信号的参数信息以判断所述待测试天线的性能；当测试所述待测试天线的接收性能时，与所述待测试天线对应的测试天线发射第二电磁波信号，所述待测试天线根据所述第二电磁波信号产生第二电信号，所述第二测试仪根据所述第二电信号的参数信息以判断所述待测试天线的性能。

【技术特征摘要】
1.一种天线测试系统，用于对电子装置中的多个待测试天线的性能进行测试，其特征在于，所述天线测试系统包括屏蔽装置、多个测试天线、第一测试仪及第二测试仪，所述屏蔽装置包括收容空间，所述收容空间用于收容电子装置及所述测试天线，所述屏蔽装置用于屏蔽所述收容空间外的电磁波信号的干扰，每个测试天线用于测试至少一个待测试天线的性能；当测试所述待测试天线的发射性能时，所述待测试天线发射第一电磁波信号，与所述待测试天线相对应的测试天线接收所述第一电磁波信号并根据所述第一电磁波信号得到第一电信号，并将所述第一电信号传输至所述第一测试仪，所述第一测试仪根据所述第一电信号的参数信息以判断所述待测试天线的性能；当测试所述待测试天线的接收性能时，与所述待测试天线对应的测试天线发射第二电磁波信号，所述待测试天线根据所述第二电磁波信号产生第二电信号，所述第二测试仪根据所述第二电信号的参数信息以判断所述待测试天线的性能。2.如权利要求1所述的天线测试系统，其特征在于，所述第一测试仪设置于所述屏蔽装置的外部，所述屏蔽装置开设有第一通孔，所述第一通孔连通所述收容空间，所述第一测试仪通过射频线与所述收容空间内的测试天线电连接，其中，所述射频线穿过所述第一通孔。3.如权利要求1或2所述的天线测试系统，其特征在于，所述天线测试系统还包括可调滤波器，每个测试天线分别通过第一连接线电连接所述可调滤波器的一端，所述可调滤波器的另一端通过第二连接线电连接至第一测试仪，所述可调滤波器用于通过与当前待测试天线对应的测试天线产生的第一电信号，并滤除当前测试天线以外的其他测试天线根据第一电磁波信号产生的杂波电信号。4.如权利要求1或2所述的天线测试系统，其特征在于，所述天线测试系统还包括调制解调器，每个测试天线分别通过第三连接线电连接所述调制解调器的一端，所述调制解调器的另一端通过第四连接线电连接所述第一测试仪，所述调制解调器用于解调出与当前待测试天线对应的测试天线产生的第一电信号。5.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振腾，
申请(专利权)人：OPPO重庆智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆,50