光发射机中IQ延时差的测量方法、装置和光发射机制造方法及图纸

一种光发射机中的IQ延时差的测量方法、装置和光发射机，其中，所述测量方法包括：探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。通过该测量方法，可以简单地实现对光发射机中的IQ延时差的测量。

Measurement Method, Device and Optical Transmitter of IQ Delay Difference in Optical Transmitter

A measurement method, device and optical transmitter for IQ delay difference in an optical transmitter, in which the measurement method includes: detecting the mirror spectrum of the modulated signal output by the optical transmitter; measuring the moving range of the mirror spectrum of the modulated signal by adjusting the modulator bias of the optical transmitter; and measuring the moving range of the mirror spectrum of the modulated signal according to the moving range of the mirror spectrum of the modulated signal and the modulation thereof. The IQ delay difference in the optical transmitter is calculated by adjusting the modulator bias. Through this measurement method, IQ delay difference in optical transmitter can be simply measured.

【技术实现步骤摘要】
光发射机中IQ延时差的测量方法、装置和光发射机
本专利技术涉及光通信领域，特别涉及一种光发射机中同相正交(IQ，In-phaseQuadrature)延时差的测量方法、装置和光发射机。
技术介绍
光发射机是超高速光通信系统中一种常用的发射机，通过在光的两个正交分量上加载信号来提高传输比特率。加载在光的两个正交分量上的信号称为I路信号和Q路信号，各自由不同的电路产生，因此可能会产生一定的延时差，称为IQ延时差，如图1所示。在高波特率和复杂调制格式的光通信系统中，光发射机中的IQ延时差是一个很头疼的问题，因为IQ延时差产生在发射机中，接收机的算法难以对抗。如果可以在发射机端把IQ延时差测量出来，就可以采用数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)预补偿算法等手段把该IQ延时差消除掉。应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本专利技术的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本专利技术的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
技术实现思路
专利技术人发现，在光发射机端精确地测量IQ延时差，目前还没有比较成熟的技术。实验室中通常是采用高精度的电光接口矢量网络分析仪，但是这种方法受限于其极度昂贵的成本。近年来一些论文报导了一些测量IQ延时差的方法，但是都不大理想。为了解决上述问题，本专利技术实施例提供一种光发射机中IQ延时差的测量方法、装置和光发射机。根据本专利技术实施例的第一方面，提供了一种光发射机中的IQ延时差的测量装置，其中，所述装置包括：探测单元，其探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；调节单元，其对所述光发射机的调制器偏置进行调节；测量单元，其测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；计算单元，其根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。根据本专利技术实施例的第二方面，提供了一种光发射机，其中，所述光发射机包括前述第一方面所述的装置。根据本专利技术实施例的第三方面，提供了一种光发射机中的IQ延时差的测量方法，其中，所述方法包括：探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。根据本专利技术实施例的第四方面，提供了一种计算机可读程序，其中当在光发射机中执行所述程序时，所述程序使得所述光发射机执行前述第三方面所述的方法。根据本专利技术实施例的第五方面，提供了一种存储有计算机可读程序的存储介质，其中所述计算机可读程序使得光发射机执行前述第三方面所述的方法。本专利技术实施例的有益效果在于：本专利技术实施例通过调节光发射机的调制器偏置、观测调制信号的镜像谱的移动范围来计算光发射机中的IQ延时差，简单地实现了对光发射机中IQ延时差的测量。参照后文的说明和附图，详细公开了本专利技术的特定实施方式，指明了本专利技术的原理可以被采用的方式。应该理解，本专利技术的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的条款的范围内，本专利技术的实施方式包括许多改变、修改和等同。针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。附图说明在本专利技术实施例的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。此外，在附图中，类似的标号表示几个附图中对应的部件，并可用于指示多于一种实施方式中使用的对应部件。所包括的附图用来提供对本专利技术实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本专利技术的实施方式，并与文字描述一起来阐释本专利技术的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：图1是光发射机中I路信号和Q路信号产生延时差的示意图；图2是实施例1的测量装置的示意图；图3是实施例1的测量装置中探测单元的一个实施方式的示意图；图4是镜像谱探测的一个实施方式的示意图；图5是实施例1的测量装置中测量单元的一个实施方式的示意图；图6是镜像谱的移动范围的测量的一个实施方式的示意图；图7是通过实施例1的测量装置进行镜像谱的移动范围的测量的一个示意图；图8是实施例1的测量装置的计算单元计算IQ延时差的一个实施方式的示意图；图9是实施例1的测量装置的计算单元计算IQ延时差的另一个实施方式的示意图；图10是实施例1的测量装置的计算单元计算IQ延时差的再一个实施方式的示意图；图11是实施例2的测量方法的示意图；图12是实施例2的测量方法中进行镜像谱的移动范围的测量的一个示意图；图13是实施例3的光发射机的示意图。具体实施方式参照附图，通过下面的说明书，本专利技术的前述以及其它特征将变得明显。在说明书和附图中，具体公开了本专利技术的特定实施方式，其表明了其中可以采用本专利技术的原则的部分实施方式，应了解的是，本专利技术不限于所描述的实施方式，相反，本专利技术包括落入所附权利要求的范围内的全部修改、变型以及等同物。在本专利技术实施例中，术语“第一”、“第二”等用于对不同元素从称谓上进行区分，但并不表示这些元素的空间排列或时间顺序等，这些元素不应被这些术语所限制。术语“和/或”包括相关联列出的术语的一种或多个中的任何一个和所有组合。术语“包含”、“包括”、“具有”等是指所陈述的特征、元素、元件或组件的存在，但并不排除存在或添加一个或多个其他特征、元素、元件或组件。在本专利技术实施例中，单数形式“一”、“该”等包括复数形式，应广义地理解为“一种”或“一类”而并不是限定为“一个”的含义；此外术语“所述”应理解为既包括单数形式也包括复数形式，除非上下文另外明确指出。此外术语“根据”应理解为“至少部分根据……”，术语“基于”应理解为“至少部分基于……”，除非上下文另外明确指出。在本专利技术实施例中，首先在光发射机端产生单边带的IQ调制信号并测量其对应的光发射机输出镜像谱，然后调节调制器的偏置点，同时观测镜像谱的移动，最后利用偏置点的调节量和镜像谱的移动范围，来计算得到IQ延时差。下面结合附图对本专利技术实施例的各种实施方式进行说明。这些实施方式只是示例性的，不是对本专利技术的限制。实施例1本实施例提供了一种光发射机中的IQ延时差的测量装置，图2是该测量装置200的示意图，如图2所示，该测量装置200包括：探测单元201、调节单元202、测量单元203、以及计算单元204。探测单元201用于探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；调节单元202用于对所述光发射机的调制器偏置进行调节；测量单元203用于测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；计算单元204用于根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。图3是该探测单元201的一个实施方式的示意图，如图3所示，该探测单元201包括提取单元301和组合单元302，获取单元301基本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光发射机中的IQ延时差的测量装置，其中，所述装置包括：探测单元，其探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；调节单元，其对所述光发射机的调制器偏置进行调节；测量单元，其测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；计算单元，其根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。

【技术特征摘要】
1.一种光发射机中的IQ延时差的测量装置，其中，所述装置包括：探测单元，其探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；调节单元，其对所述光发射机的调制器偏置进行调节；测量单元，其测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；计算单元，其根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述探测单元包括：获取单元，基于所述光发射机产生的正频率的单边带信号，得到负频率处的镜像谱；基于所述光发射机产生的负频率的单边带信号，得到正频率处的镜像谱；组合单元，其将所述负频率处的镜像谱和所述正频率处的镜像谱组合，得到所述调制信号的镜像谱。3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述测量单元包括：获取单元，其根据所述调制信号的当前镜像谱获取第一预设功率处的频率fbefore，并根据所述调制信号的移动后镜像谱获取第二预设功率处的频率fafter；所述移动后镜像谱为所述探测单元在所述调节单元对调制器偏置以预设的调节量Δθ进行调节后探测到的；确定单元，其根据所述第一预设功率处的频率fbefore和所述第二预设功率处的频率fafter，得到对应所述调节量Δθ的所述调制信号的镜像谱的移动范围Δf＝fafter-fbefore。4.根据权利要求3所述的装置，其中，所述第一预设功率为所述当前镜像谱的最低功率，所述第二预设功率为所述移动后镜像谱的最低功率。5.根据权利要求3所述的装置，其中，所述获取单元根据预设的最大测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈浩，陶振宁，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP