槽深测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及测距仪的技术领域，提供了一种槽深测量装置，包括：基座、X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨、用于固定待测物体的夹具，基座上设置有支撑架，支撑架包括架设于基座上方的横梁和设置在基座上并支撑在横梁下方的支撑柱，夹具滑设在X轴滑轨上，Y轴滑轨设置在横梁上，Z轴滑轨通过连接件滑设在Y轴滑轨上，Z轴滑轨上滑设有用于在夹具滑动至Z轴滑轨正下方时获取顶面与凹槽底面之间高度差的激光测距仪。本实用新型专利技术提供的槽深测量装置，激光测距仪能够对准待测量物体顶面上的任意一点进行测量，激光测距仪在测试的过程中不需要与待测物体直接接触，省去了调试激光测距仪与待测物体之间进行物理接触所需的时间，测量速度非常快。

【技术实现步骤摘要】
槽深测量装置
本技术属于测距仪的
，更具体地说，是涉及一种槽深测量装置。
技术介绍
在机械加工的过程中，经常需要在产品上刻一些凹槽，比如说刻制商标的时候，通常是在待测物体的顶面上刻出多条用于组成该商标的凹槽。凹槽刻完之后通常需要对凹槽的深度进行测量，目前，通常采用三坐标测量机或高度规来测量凹槽深，可是三坐标测量机和高度规分别需要将自身一抵接件机械式地先后抵接在待测物体的顶面和凹槽底面上后才能够获取凹槽深，整个测试的速度非常慢。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种槽深测量装置，以解决现有技术中存在的在机械式测量槽深的过程中速度慢的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种槽深测量装置，用于测量待测物体的顶面上的凹槽深度，包括：基座、X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨、用于固定待测物体的夹具，所述基座上设置有支撑架，所述支撑架包括架设于所述基座上方的横梁和设置在所述基座上并支撑在所述横梁下方的支撑柱，所述横梁与所述基座之间具有用于供所述夹具穿过的容置间隙，所述X轴滑轨设置在所述基座上并穿过所述容置间隙，所述夹具滑设在所述X轴滑轨上，所述Y轴滑轨设置在所述横梁上，所述Z轴滑轨通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.槽深测量装置，用于测量待测物体的顶面上的凹槽深度，包括：基座、X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨、用于固定待测物体的夹具，其特征在于：所述基座上设置有支撑架，所述支撑架包括架设于所述基座上方的横梁和设置在所述基座上并支撑在所述横梁下方的支撑柱，所述横梁与所述基座之间具有用于供所述夹具穿过的容置间隙，所述X轴滑轨设置在所述基座上并穿过所述容置间隙，所述夹具滑设在所述X轴滑轨上，所述Y轴滑轨设置在所述横梁上，所述Z轴滑轨通过连接件滑设在所述Y轴滑轨上，所述Z轴滑轨上滑设有用于在所述夹具滑动至所述Z轴滑轨正下方时获取所述顶面与所述凹槽底面之间高度差的激光测距仪。

【技术特征摘要】
1.槽深测量装置，用于测量待测物体的顶面上的凹槽深度，包括：基座、X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨、用于固定待测物体的夹具，其特征在于：所述基座上设置有支撑架，所述支撑架包括架设于所述基座上方的横梁和设置在所述基座上并支撑在所述横梁下方的支撑柱，所述横梁与所述基座之间具有用于供所述夹具穿过的容置间隙，所述X轴滑轨设置在所述基座上并穿过所述容置间隙，所述夹具滑设在所述X轴滑轨上，所述Y轴滑轨设置在所述横梁上，所述Z轴滑轨通过连接件滑设在所述Y轴滑轨上，所述Z轴滑轨上滑设有用于在所述夹具滑动至所述Z轴滑轨正下方时获取所述顶面与所述凹槽底面之间高度差的激光测距仪。2.如权利要求1所述的槽深测量装置，其特征在于：所述激光测距仪包括用于朝所述Z轴滑轨延伸方向向下发射激光束的激光发射器和用于接收所述激光束照射在所述待测物体上时被所述待测物体反射的反射光束的激光接收器。3.如权利要求2所述的槽深测量装置，其特征在于：还包括设置在所述基座上的防护罩，所述激光发射器和所述激光...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖勇，吴元凯，胡博文，
申请(专利权)人：欧朋达科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44