A test system for checking the electrical connection between the electronic structure components of the circuit board to be checked and the circuit board, especially the brazing connection part, is presented. The test system is characterized by a temperature measuring device for measuring the temperature of the electrical connection parts of the circuit board and/or the electronic components and/or for obtaining the thermal characteristic value.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检查电子连接部的测试系统
本专利技术涉及一种根据权利要求1的前序部分所述的测试系统。
技术介绍
EP0633478A2公开了一种用于检查电子的结构组件与所要检查的电路板的电子连接部的测试系统。这种测试系统被渐渐发展。因此,电极能通过铰接部和/或机械臂被引近到电路板上,并且例如通过电阻测量来获知钎焊连接部是否被正确地定位以及是否能经由该钎焊连接部实现电路板的电子的结构组件的电接触。对电接触的测试通过电阻测量来进行。由于错误定位、由于错误的装备或其它原因,可能会在电路板的表面上出现过度的发热。在用电阻测量的现有的测试系统中没有设置对该发热的检查。
技术实现思路
基于迄今的现有技术,现在本专利技术的任务是,说明一种紧凑的结构形式的按类属的测试系统,以便拓展另外的功能。本专利技术通过具有权利要求1的特征的测试系统来解决该任务。根据本专利技术的用于检查在电子的结构组件与所要检查的或所要查验的电路板之间的电子连接部、尤其是钎焊连接部的测试系统可以有利地通过电阻测量来进行。附加地,测试系统具有用于对电连接部进行温度测量和/或用于获知电路板的或在电路板上的构件的电连接部的、即例如钎焊连接部的热特性值的温度测量装置。通过该温度测量可以在一个检验进程内以时间高效的方式并以节省空间的设计方案来对构件与电路板的电接合部进行冗余检查以及进行对构件的检查。因此,测试系统可以同时执行多种检查,这既节省了结构空间又节省了时间。此外还可以在所要查验的电路板上一次性地识别和消除多个故障。本专利技术的有利的设计方案是从属权利要求的主题。温度测量装置有利地以能朝至少两个空间方向、优选朝三个空间方 ...
【技术保护点】
1.用于检查在所要检查的电路板(6)的电子的构件与所述电路板(6)之间的电连接部、尤其是钎焊连接部的测试系统(1),其特征在于,所述测试系统(1)具有用于对所述电路板的电连接部进行获知热特性值和/或用于温度测量的和/或用于对电子的构件进行获知热特性值和/或用于温度测量的温度测量装置(30)。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.08.01 DE 102016114146.11.用于检查在所要检查的电路板(6)的电子的构件与所述电路板(6)之间的电连接部、尤其是钎焊连接部的测试系统(1),其特征在于,所述测试系统(1)具有用于对所述电路板的电连接部进行获知热特性值和/或用于温度测量的和/或用于对电子的构件进行获知热特性值和/或用于温度测量的温度测量装置(30)。2.根据权利要求1所述的测试系统(1),其特征在于,所述温度测量装置能沿至少两个空间方向运动地布置在所述测试系统(1)的壳体(1a)内。3.根据权利要求1或2所述的测试系统(1),其特征在于,通过所述温度测量装置进行无接触的温度测量。4.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1),其特征在于,通过热敏成像系统、尤其是通过红外相机进行温度测量。5.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1),其特征在于,所述测试系统(1)具有通信接口(5),所述通信接口具有至少三个导电的触针(22、32),所述触针能够通过与在所述电路板(6)上的具有多个接触位置(11)的接触装置(12)的接触实现与所要检查的电路板(6)的数据存储器的数据交换,其中,所述数据交换根据通信协议进行。6.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1),其特征在于,所述通信接口(5...
【专利技术属性】
技术研发人员:托马斯·伯勒尔,马蒂亚斯·布鲁德曼,克里斯托夫·韦勒,马库斯·武赫,丹尼尔·科尔默,卢多维克·亚当,
申请(专利权)人:恩德斯豪斯流量技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:瑞士,CH
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。