用于电子装置的平整度检测治具制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于电子装置的平整度检测治具，电子装置包括上盖和显示屏，上盖上具有与显示屏连接的连接平面，平整度检测治具用于检测连接平面的平整度且包括：测量部，测量部具有相邻的第一表面和第二表面，第一表面和第二表面具有相交直线M，在相交直线M至第一表面或第二表面的远离相交直线M的一端的方向上，第一表面和第二表面之间的距离逐渐增大，当测量连接平面的平整度时，相交直线M与连接平面接触；及握持部，握持部连接在测量部远离相交直线M的一端。根据本实用新型专利技术的平整度检测治具，在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与连接平面接触，可以通过观察相交直线M与连接平面之间的缝隙判定连接平面的平整度。

Flatness Testing Tool for Electronic Devices

The utility model discloses a smoothness testing fixture for electronic devices, which comprises an upper cover and a display screen. The upper cover has a connecting plane connected with the display screen. The smoothness testing fixture is used to detect the smoothness of the connecting plane and comprises a measuring part, which has adjacent first and second surfaces, and the first and second surfaces have intersecting straight lines M. In the direction from the intersecting line M to the end of the first or second surface away from the intersecting line M, the distance between the first surface and the second surface gradually increases. When the flatness of the connecting plane is measured, the intersecting line M contacts the connecting plane; and the gripping part is connected to the end of the measuring part away from the intersecting line M. According to the flatness detection fixture of the utility model, when measuring the flatness of the connecting plane, the intersecting line M contacts the connecting plane, and the flatness of the connecting plane can be determined by observing the gap between the intersecting line M and the connecting plane.

【技术实现步骤摘要】
用于电子装置的平整度检测治具
本技术涉及电子装置的检测
，尤其是涉及一种用于电子装置的平整度检测治具。
技术介绍
电子装置例如手机常常因为手机上盖变形导致屏内团类不良，因此需要检测上盖的平整度。相关技术中，主要是通过操作人员目视检测上盖的平整度，由于操作人员在检测时，没有参照物，只能靠感觉判断平整度是否有问题，很容易漏检。
技术实现思路
本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种用于电子装置的平整度检测治具，所述平整度检测治具结构简单且便于检测上盖的平整度。根据本技术实施例的用于电子装置的平整度检测治具，所述电子装置包括上盖和显示屏，所述上盖上具有与显示屏连接的连接平面，所述平整度检测治具用于检测所述连接平面的平整度，所述平整度检测治具包括：测量部，所述测量部具有相邻的第一表面和第二表面，所述第一表面和所述第二表面具有相交直线M，在所述相交直线M至所述第一表面或所述第二表面的远离所述相交直线M的一端的方向上，所述第一表面和所述第二表面之间的距离逐渐增大，当测量所述连接平面的平整度时，所述相交直线M与所述连接平面接触；及握持部，所述握持部连接在所述测量部远离所述相交直线M的一端。根据本技术实施例的用于电子装置的平整度检测治具，测量部上具有相邻的第一表面和第二表面，第一表面和第二表面具有相交直线M，在相交直线M至第一表面或第二表面远离相交直线M的一端的方向上，使第一表面和第二表面之间的距离逐渐增大。在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与连接平面接触，可以通过观察相交直线M与连接平面之间的缝隙判定连接平面的平整度。另外，握持部连接在测量部远离相交直线M的一端，便于操作人员操作。此外，上述平整度检测治具结构简单，检测结果准确性高。根据本技术的一些实施例，所述测量部形成为长条形，所述第一表面和所述第二表面均沿所述测量部的长度方向延伸。根据本技术的一些实施例，所述第一表面和所述第二表面中的至少一个为平面或曲面。根据本技术的一些实施例，所述测量部的横截面大体形成为三角形，所述第一表面和所述第二表面之间具有第三表面，所述握持部与所述第三表面连接。在本技术的一些实施例中，所述握持部沿所述测量部的长度方向延伸。在本技术的一些实施例中，所述握持部长度方向的两端分别与所述测量部长度方向的两端平齐。在本技术的一些实施例中，所述握持部宽度方向的两侧中的至少一侧设有凹槽，所述凹槽的底壁与侧壁为均为曲面，且所述凹槽的底壁与所述凹槽的侧壁圆滑过渡。在本技术的一些实施例中，所述握持部的长度方向的两端中的至少一端的远离所述测量部的一端具有缺口。在本技术的一些实施例中，所述握持部形成为长方体状。根据本技术的一些实施例，所述握持部与所述测量部为一体成型件。本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。附图说明本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是根据本技术实施例的用于电子装置的平整度检测治具的主视图；图2是根据本技术实施例的用于电子装置的平整度检测治具的侧视图；图3是根据本技术实施例的用于电子装置的平整度检测治具的仰视图。附图标记：平整度检测治具100，测量部1，第一表面11，第二表面12，第三表面13，握持部2，缺口21。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。下面参考图1-图3描述根据本技术实施例的用于电子装置的平整度检测治具100。其中，电子装置包括上盖和显示屏，上盖上具有用于连接显示屏的连接平面，平整度检测治具100用于检测连接平面的平整度以防止显示屏发生鼓包等现象，从而避免显示屏上出现白团等。如图1-图3所示，根据本技术实施例的用于电子装置的平整度检测治具100，包括测量部1和握持部2。具体而言，如图1-图3所示，测量部1具有相邻的第一表面11和第二表面12，第一表面11和第二表面12具有相交直线M，即第一表面11和第二表面12之间形成的棱线。在相交直线M至第一表面11或第二表面12的远离相交直线M的一端的方向上，第一表面11和第二表面12之间的距离逐渐增大。由此可以使得相交直线M凸出于第一表面11和第二表面12组成的表面上。当测量连接平面的平整度时，相交直线M与连接平面接触。具体的，在测量连接平面的平整度时，可以使相交直线M与连接平面接触，并且移动测量部1以使相交直线M与连接平面的不同位置接触，观察相交直线M与连接平面之间是否有缝隙，从而判定连接平面是否平整，且判定结果准确性高。如图1和图2所示，握持部2连接在测量部1远离相交直线M的一端。由此操作人员在测量连接平面的平整度时，可以握持在握持部2上，便于操作人员操作。另外，握持部2连接在测量部1的远离相交直线M的一端，可以避免握持部2影响操作人员观察相交直线M与连接平面之间的是否有缝隙，便于操作人员使用。根据本技术实施例的用于电子装置的平整度测量治具，测量部1上具有相邻的第一表面11和第二表面12，第一表面11和第二表面12具有相交直线M，在相交直线M至第一表面11或第二表面12远离相交直线M的一端的方向上，使第一表面11和第二表面12之间的距离逐渐增大。在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与连接平面接触，可以通过观察相交直线M与连接平面之间的缝隙判定连接平面的平整度，提高了检出率，降低不良品漏检的风险。另外，握持部2连接在测量部1远离相交直线M的一端，便于操作人员操作。此外，上述平整度检测治具100结构简单，检测结果准确性高。在本技术的一些实施例中，如图1和图3所示，测量部1形成为长条形，第一表面11和第二表面12均沿测量部1的长度方向延伸。由此可以使得第一表面11和第二表面12的相交直线M沿测量部1的长度方向延伸，增加平整度检测治具100一次测量的测量长度，提高平整度检测治具100的测量效率，并且可以提高平整度检测治具100的测量结果的准确性。其中，测量部1的长度可以根据电子装置的连接平面的长度和宽度进行相应的设置。例如，当测量连接平面在宽度方向上是否平整时，可以使测量部1的长度与连接平面的宽度大体相同，在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与连接平面的宽度方向平行，并沿着连接平面的长度方向移动平整度检测治具100以在长度方向的不同位置测量宽度方向的平整度。再如，当测量连接平面在长度方向上是否平整时，可以使测量部1的长度与连接平面的长度大体相同，在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于电子装置的平整度检测治具，其特征在于，所述电子装置包括上盖和显示屏，所述上盖上具有与显示屏连接的连接平面，所述平整度检测治具用于检测所述连接平面的平整度，所述平整度检测治具包括：测量部，所述测量部具有相邻的第一表面和第二表面，所述第一表面和所述第二表面具有相交直线M，在所述相交直线M至所述第一表面或所述第二表面的远离所述相交直线M的一端的方向上，所述第一表面和所述第二表面之间的距离逐渐增大，当测量所述连接平面的平整度时，所述相交直线M与所述连接平面接触；及握持部，所述握持部连接在所述测量部远离所述相交直线M的一端。

【技术特征摘要】
1.一种用于电子装置的平整度检测治具，其特征在于，所述电子装置包括上盖和显示屏，所述上盖上具有与显示屏连接的连接平面，所述平整度检测治具用于检测所述连接平面的平整度，所述平整度检测治具包括：测量部，所述测量部具有相邻的第一表面和第二表面，所述第一表面和所述第二表面具有相交直线M，在所述相交直线M至所述第一表面或所述第二表面的远离所述相交直线M的一端的方向上，所述第一表面和所述第二表面之间的距离逐渐增大，当测量所述连接平面的平整度时，所述相交直线M与所述连接平面接触；及握持部，所述握持部连接在所述测量部远离所述相交直线M的一端。2.根据权利要求1所述的用于电子装置的平整度检测治具，其特征在于，所述测量部形成为长条形，所述第一表面和所述第二表面均沿所述测量部的长度方向延伸。3.根据权利要求1所述的用于电子装置的平整度检测治具，其特征在于，所述第一表面和所述第二表面中的至少一个为平面或曲面。4.根据权利要求1所述的用于电子装置的平整度检测治具，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭康，
申请(专利权)人：OPPO重庆智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆,50