光测量装置制造方法及图纸

光测量装置(1)是对试样照射激发光而检测测量光的光测量装置。光测量装置(1)具备：积分器(20)，其形成有入射激发光的入射开口(22)、及出射测量光的出射开口(23)，且配置有试样；导光部(30)，其引导自出射开口(23)出射的测量光；及光检测部(40)，其检测由导光部(30)引导的测量光。导光部(30)具有以入射端面(32a)经由出射开口(23)而朝向积分器(20)内的方式配置的多个导光构件(32)。光检测部(40)检测由多个导光构件(32)的至少一个引导的测量光。多个导光构件(32)的入射端面(32a)侧的受光区域在积分器(20)内彼此重叠。

Optical measuring device

The light measuring device (1) is a light measuring device which detects and measures the light emitted by the sample irradiation. The light measuring device (1) has an integrator (20), which forms an incident opening (22) of incident excitation light and an exit opening (23) of emitted measurement light, and is equipped with a sample; a light guiding part (30), which guides the measuring light emitted from the exit opening (23); and a light detecting part (40), which detects the measuring light guided by the light guiding part (30). The light guide section (30) has a plurality of light guide members (32) arranged in a way that the incident end surface (32a) is directed towards the integrator (20) through an exit opening (23). The light detection unit (40) detects the measured light guided by at least one of a plurality of light guide components (32). The light-receiving areas on the incident end surface (32a) side of a plurality of light guide members (32) overlap with each other in the integrator (20).

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光测量装置
本专利技术的一个方面涉及一种光测量装置。
技术介绍
一直以来，已知有对作为测定对象的试样照射激发光并检测测量光的光测量装置。作为该种技术，例如在专利文献1、2中记载有一种光测量装置，其具备：积分器，其配置有试样；及光检测器，其检测自积分器的出射开口出射的测量光。在专利文献1、2所记载的光测量装置中，为了可进行宽波长区域上的测量，使用分光灵敏度特性彼此不同的多个光检测器。在积分器形成有与光检测器对应的多个出射开口。现有技术文献专利文献专利文献1：国际公开第2015/151233号专利文献2：日本特开2006-23284号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题在如上所述的光测量装置中，由于与光检测器对应的多个出射开口形成于积分器，因而积分器中的开口面积增大，因此，有积分器内的测量光的多重扩散反射特性降低的担忧。再者，由于各光检测器对来自形成于彼此不同的位置的出射开口的测量光进行检测，因而有使入射于各光检测器的测量光的强度分布产生不均的担忧。因此，在如上所述的光测量装置中，有测量光的检测精度降低的顾虑。本专利技术的一个方面鉴于上述情况而完成，其目的在于，提供一种可精度良好地本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光测量装置，其特征在于，是对试样照射激发光并检测测量光的光测量装置，具备：积分器，其形成有所述激发光被入射的入射开口、及出射所述测量光的出射开口，且配置有所述试样；导光部，其引导自所述出射开口出射的所述测量光；及光检测部，其检测由所述导光部引导的所述测量光，所述导光部具有以入射端面经由所述出射开口而朝向所述积分器内的方式配置的多个导光构件，所述光检测部检测由多个所述导光构件的至少一个引导的所述测量光，多个所述导光构件的所述入射端面侧的受光区域在所述积分器内彼此重叠。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.07.25 JP 2016-1454001.一种光测量装置，其特征在于，是对试样照射激发光并检测测量光的光测量装置，具备：积分器，其形成有所述激发光被入射的入射开口、及出射所述测量光的出射开口，且配置有所述试样；导光部，其引导自所述出射开口出射的所述测量光；及光检测部，其检测由所述导光部引导的所述测量光，所述导光部具有以入射端面经由所述出射开口而朝向所述积分器内的方式配置的多个导光构件，所述光检测部检测由多个所述导光构件的至少一个引导的所述测量光，多个所述导光构件的所述入射端面侧的受光区域在所述积分器内彼此重叠。2.如权利要求1所述的光测量装置，其特征在于，多个所述导光构件的所述入射端面上的光轴在所述积分器内彼此相交。3.如权利要求1或2所述的光测量装置，其特征在于，还具备配置于所述积分器内的与所述出射开口相对的位置的挡板。4.如权利要求3所述的光测量装置，其特征在于，多个所述导光构件的所述入射端面上的光轴在所述出射开口与所述挡板之间彼此相交。5.如权利要求3或4所述的光测量装置，其特征在于，所述挡板由配置于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：铃木健吾，井口和也，田边康行，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP