一种用于主动式电离辐射剂量仪测试的脉冲X射线照射装置制造方法及图纸

技术编号:20587072 阅读:34 留言:0更新日期:2019-03-16 06:34
本发明专利技术提供了一种用于主动式电离辐射剂量仪测试的脉冲X射线照射装置,该照射装置采用脉冲X光射线机作为辐射源,通过调节脉冲X光射线机的管电压可以获得不同能量的X射线,能够为主动式电离辐射剂量仪提供不同能量脉冲X射线的测试服务。根据本发明专利技术的照射装置能够为主动式电离辐射剂量仪提供脉冲X射线的测试,提高辐射测量的精度和有效性。

A Pulsed X-ray Irradiation Device for Measuring Active Ionization Radiation Dosimeter

The invention provides a pulsed X-ray irradiation device for testing an active ionizing radiation dosimeter. The irradiation device uses a pulsed X-ray machine as a radiation source. By adjusting the tube voltage of the pulsed X-ray machine, different energy X-rays can be obtained, and different energy pulsed X-ray testing services can be provided for the active ionizing radiation dosimeter. The irradiation device according to the present invention can provide pulsed X-ray testing for an active ionizing radiation dosimeter and improve the accuracy and effectiveness of radiation measurement.

【技术实现步骤摘要】
一种用于主动式电离辐射剂量仪测试的脉冲X射线照射装置
本专利技术涉及一种脉冲X射线照射装置,更特别地涉及一种用于主动式电离辐射剂量仪测试的脉冲X射线照射装置。
技术介绍
主动式电离辐射剂量仪广泛用于辐射场的剂量监测,其直读式显示方式和报警功能给从业人员提供安全保障。主动式电离辐射剂量仪在测量脉冲辐射场剂量时存在以下几个问题。首先,高剂量率问题,例如一个ms级的辐射脉冲,其单次脉冲剂量往往会达到1μSv甚至更高,脉冲辐射瞬时剂量率可达100Sv/h以上,然而对于像G-M计数器、半导体探测器等均存在测量堆积和探测死时间问题,难以达到如此高的剂量率响应,即仪表存在过响应问题,这必然影响监测结果的准确性;其次,响应时间问题,主动式电离辐射剂量仪存在测量时间周期,两次测量周期间隔可达几秒,如果脉冲辐射刚好发生在仪表测量周期间隔时间内,很可能发生漏记事件从而极大地影响测量结果的准确性,造成测量结果严重偏低;最后,事故报警问题,如果一次大剂量的脉冲刚好发生在仪表的测量间隔时间内,必然会发生漏报事件,给射从业人员带来极大地安全隐患。
技术实现思路
为了解决上述问题,本专利技术针对主动式电离辐射剂量仪的脉本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于主动式电离辐射剂量仪测试的脉冲X射线照射装置,其特征在于包括放射系统、调整系统、支撑系统、监测系统、控制系统;支撑系统包括试验平台以及垫板,该实验平台为圆台状支撑架,该垫板设置在试验平台的底部,用以降低地面的散射辐射;放射系统设置在试验平台顶部,调整系统设置在试验平台上、放射系统正下方,测试时被测试仪器放置在试验平台的测试区中,该测试区位于调整系统的下方;所述监测系统用于对脉冲X射线照射装置产生的X射线进行监测;所述控制装置用以控制放射系统的开启与关闭。

【技术特征摘要】
1.一种用于主动式电离辐射剂量仪测试的脉冲X射线照射装置,其特征在于包括放射系统、调整系统、支撑系统、监测系统、控制系统;支撑系统包括试验平台以及垫板,该实验平台为圆台状支撑架,该垫板设置在试验平台的底部,用以降低地面的散射辐射;放射系统设置在试验平台顶部,调整系统设置在试验平台上、放射系统正下方,测试时被测试仪器放置在试验平台的测试区中,该测试区位于调整系统的下方;所述监测系统用于对脉冲X射线照射装置产生的X射线进行监测;所述控制装置用以控制放射系统的开启与关闭。2.根据权利要求1的脉冲X射线照射装置,其特征在于:所述放射系...

【专利技术属性】
技术研发人员:高飞徐阳
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:北京,11

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