一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备技术

本发明专利技术涉及AD检测领域，特别涉及一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备。AD检测电路包括处理单元，其包括第一端口和内部上拉电阻，第一端口包括I/O状态和AD检测状态，内部上拉电阻的一端用于与电源连接，内部上拉电阻的另一端与所述第一端口连接。基于此，防止失效误检的方法包括：上电后，将第一端口的状态置于I/O状态，电源通过内部上拉电阻为充电电容充电；当充电电容的两端电压等于电源电压，将第一端口的状态置于AD检测状态，采集AD电压值；获取至少一个周期的AD电压值；判断AD电压值是否均等于电源电压；若是，检测出AD检测电路工作在异常状态；若否，检测出AD检测电路工作在正常状态。本发明专利技术可防止AD检测电路失效误检，提升安全性。

A Method to Prevent Failure Misdetection, AD Detection Circuit and Electronic Equipment

The invention relates to the field of AD detection, in particular to a method for preventing failure misdetection, an AD detection circuit and an electronic device. The AD detection circuit includes a processing unit, which includes a first port and an internal pull-up resistance. The first port includes an I/O state and an AD detection state. One end of the internal pull-up resistance is used to connect with the power supply, and the other end of the internal pull-up resistance is connected with the first port. Based on this, the methods to prevent failure misdetection include: after power-on, the first port is placed in the I/O state, and the power supply is charged by the internal pull-up resistance; when the voltage of the charging capacitor is equal to the power supply voltage, the first port is placed in the AD detection state, and the AD voltage value is collected; the AD voltage value of at least one cycle is obtained; and whether the AD voltage value is equal to the AD voltage value is judged. Power supply voltage; if so, detect that the AD detection circuit works in abnormal state; if not, detect that the AD detection circuit works in normal state. The invention can prevent the failure and misdetection of the AD detection circuit and improve the safety.

【技术实现步骤摘要】
一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备
本专利技术涉及AD检测
，特别是涉及一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备。
技术介绍
目前，大部分AD检测电路是通过电阻分压来采集电压，由于AD采集端口极易受到干扰，当电路出现失效状态时，AD采集端口状态不稳定，导致检测数据错误，尤其是温度检测方面，甚至可能造成严重的后果。请参阅图1，图1是现有技术提供一种AD检测电路的电路结构示意图。如图1所示，通过MCU的AD采集端口采集电阻R2和电阻R3组成分压电路的电压值，由于电路不稳定，极易受噪声干扰，导致采集的数据不准确，故而，增加电阻R1和电容C1组成的抗干扰电路，滤除高频异常信号，提高了采集数据的准确性和稳定性。专利技术人在实现本专利技术的过程中，发现传统技术至少存在以下问题：在图1中，当电阻R1失效开路时，即抗干扰电路失效开路时，此时，电容C1上的电压随机且易受干扰，导致AD检测电路失效误检。比如，在检测负载温度时，当R1失效开路时，检测温度有可能在持续低温范围内变动，但此时实际负载温度有可能因为检测错误而失控，甚至引起安全事故。
技术实现思路
本专利技术实施例旨在提供一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备，其解决了AD检测电路失效误检的技术问题。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供以下技术方案：在第一方面，本专利技术实施例提供一种防止失效误检的方法，应用于AD检测电路，所述AD检测电路包括处理单元、充电电容、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述处理单元包括第一端口，所述第一端口包括I/O状态和AD检测状态，所述充电电容的一端与所述第一端口连接，所述充电电容的另一端与地端连接，所述第一电阻的一端与所述充电电容的一端连接，所述第一电阻的另一端分别与所述第二电阻的一端和所述第三电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端用于与电源连接，所述第三电阻的一端与所述地端连接，其特征在于，所述处理单元还包括内部上拉电阻，所述内部上拉电阻的一端用于与电源连接，所述内部上拉电阻的另一端与所述第一端口连接，所述方法包括：上电后，将所述第一端口的状态置于所述I/O状态，所述电源通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电；若所述充电电容的两端电压等于电源电压，则将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值；获取至少一个周期的所述AD电压值；判断所述至少一个周期的所述AD电压值是否均等于所述电源电压；若是，则确定出所述AD检测电路工作在异常状态；若否，则确定出所述AD检测电路工作在正常状态。可选地，所述将所述第一端口的状态置于所述I/O状态之后,所述方法还包括：开启所述内部上拉电阻。可选地，所述当所述充电电容的两端电压等于电源电压，将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值包括：判断所述充电电容的两端电压是否等于电源电压；若是，则关闭所述内部上拉电阻，将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值；若否，则继续通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电。可选地，当所述第一电阻正常工作时，所述充电电容通过所述第一电阻和所述第三电阻进行放电，所述第二电阻和所述第三电阻对所述充电电容的电压进行钳位。可选地，当所述第一电阻开路时，所述第一端口采集的所述AD电压值等于电源电压。可选地，在检测出所述AD检测电路工作在异常状态之后，所述方法还包括：产生提示信息。在第二方面，本专利技术实施例提供一种防止失效误检的装置，应用于AD检测电路，所述AD检测电路包括处理单元、充电电容、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述处理单元包括第一端口，所述第一端口包括I/O状态和AD检测状态，所述充电电容的一端与所述第一端口连接，所述充电电容的另一端与地端连接，所述第一电阻的一端与所述充电电容的一端连接，所述第一电阻的另一端分别与所述第二电阻的一端和所述第三电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端用于与电源连接，所述第三电阻的一端与所述地端连接，其特征在于，所述处理单元还包括内部上拉电阻，所述内部上拉电阻的一端用于与电源连接，所述内部上拉电阻的另一端与所述第一端口连接，所述装置包括：充电模块，用于上电后，将所述第一端口的状态置于所述I/O状态，所述电源通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电；采集模块，用于当所述充电电容的两端电压等于电源电压，将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值；获取模块，用于获取至少一个周期的所述AD电压值；判断模块，用于判断所述AD电压值是否均等于所述电源电压；若是，检测出所述AD检测电路工作在异常状态；若否，检测出所述AD检测电路工作在正常状态。可选地，所述充电模块具体包括：状态设置单元，用于上电后，将所述第一端口的状态置于所述I/O状态；开启单元，用于开启所述内部上拉电阻；充电单元，用于所述电源通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电。可选地，所述采集模块具体用于：判断所述充电电容的两端电压是否等于电源电压；若是，关闭所述内部上拉电阻，将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值；若否，继续通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电。可选地，所述装置还包括提示模块，用于在检测出所述AD检测电路工作在异常状态之后，产生提示信息。在第三方面，本专利技术实施例提供一种AD检测电路，包括处理单元、充电电容、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述处理单元包括第一端口，所述第一端口包括I/O状态和AD检测状态，所述充电电容的一端与所述第一端口连接，所述充电电容的另一端与地端连接，所述第一电阻的一端与所述充电电容的一端连接，所述第一电阻的另一端分别与所述第二电阻的一端和所述第三电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端用于与电源连接，所述第三电阻的一端与所述地端连接，其特征在于，所述处理单元包括内部上拉电阻，所述内部上拉电阻的一端用于与电源连接，所述内部上拉电阻的另一端与所述第一端口连接；其中，所述处理单元还包括：模数转换器；至少一个处理器，与所述模数转换器连接；以及与所述至少一个处理器连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令程序，所述指令程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的防止失效误检的方法。可选地，当所述第一电阻正常工作时，所述充电电容通过所述第一电阻和所述第三电阻进行放电，所述第二电阻和所述第三电阻对所述充电电容的电压进行钳位；当所述第一电阻开路时，所述第一端口采集的所述AD电压值等于电源电压。可选地，所述第三电阻为NTC电阻。在第四方面，本专利技术实施例提供一种电子设备，包括如上所述的AD检测电路。在第五方面，本专利技术实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使电子设备执行如上任一项所述的防止失效误检的方法。本专利技术的有益效果是：与现有技术相比较，本专利技术实施例提供了一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备。其中，所述防止失效误检的方法应用于AD检测电路，通过处理单元的内部上拉电阻对充电电容进行充电，可以检测出AD检测电路是否工作在异常状态，因此，本专利技术可以防止AD检测电路失效误检，提升了AD检测电路的安全性。附图说明一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种防止失效误检的方法，应用于AD检测电路，所述AD检测电路包括处理单元、充电电容、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述处理单元包括第一端口，所述第一端口包括I/O状态和AD检测状态，所述充电电容的一端与所述第一端口连接，所述充电电容的另一端与地端连接，所述第一电阻的一端与所述充电电容的一端连接，所述第一电阻的另一端分别与所述第二电阻的一端和所述第三电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端用于与电源连接，所述第三电阻的一端与所述地端连接，其特征在于，所述处理单元还包括内部上拉电阻，所述内部上拉电阻的一端用于与电源连接，所述内部上拉电阻的另一端与所述第一端口连接，所述方法包括：上电后，将所述第一端口的状态置于所述I/O状态，所述电源通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电；若所述充电电容的两端电压等于电源电压，则将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值；获取至少一个周期的所述AD电压值；判断所述至少一个周期的所述AD电压值是否均等于所述电源电压；若是，则确定所述AD检测电路工作在异常状态；若否，则确定所述AD检测电路工作在正常状态。

【技术特征摘要】
1.一种防止失效误检的方法，应用于AD检测电路，所述AD检测电路包括处理单元、充电电容、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述处理单元包括第一端口，所述第一端口包括I/O状态和AD检测状态，所述充电电容的一端与所述第一端口连接，所述充电电容的另一端与地端连接，所述第一电阻的一端与所述充电电容的一端连接，所述第一电阻的另一端分别与所述第二电阻的一端和所述第三电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端用于与电源连接，所述第三电阻的一端与所述地端连接，其特征在于，所述处理单元还包括内部上拉电阻，所述内部上拉电阻的一端用于与电源连接，所述内部上拉电阻的另一端与所述第一端口连接，所述方法包括：上电后，将所述第一端口的状态置于所述I/O状态，所述电源通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电；若所述充电电容的两端电压等于电源电压，则将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值；获取至少一个周期的所述AD电压值；判断所述至少一个周期的所述AD电压值是否均等于所述电源电压；若是，则确定所述AD检测电路工作在异常状态；若否，则确定所述AD检测电路工作在正常状态。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一端口的状态置于所述I/O状态之后,所述方法还包括：开启所述内部上拉电阻。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当所述充电电容的两端电压等于电源电压，将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值包括：判断所述充电电容的两端电压是否等于电源电压；若是，则关闭所述内部上拉电阻，将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值；若否，则继续通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述第一电阻正常工作时，所述充电电容通过所述第一电阻和所述第三电阻进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：石鸾，彭原，
申请(专利权)人：深圳和而泰小家电智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44