一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统技术方案

本发明专利技术提供一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，系统包括：计算机设备和逻辑控制软件；所述计算机设备包括存储设备和通断路控制装置；使用所述通断路控制装置对所述计算机的通断路进行控制，辅助以所述逻辑控制软件，对计算机进行模块自启动，之后完成对所述存储设备的性能验证。本测试系统控制整个计算机的通断路，做到完全断电，使用完全断电方式进行验证，可以更深入地模拟计算机、存储设备与系统之间发生关系，更加准确验证存储设备的电稳定性及系统相容性。模拟出传统的验证方式无法模拟的静电干扰，电流激增等对存储设备的影响，更加严谨准确地对存储设备进行验证工作。

An Automatic Test System for Storage Device Programmable Computer Cyclic Power-on and Power-off

The invention provides an automatic test system for programmable computer circulating power-on and power-off of storage equipment, which includes computer equipment and logic control software, the computer equipment includes storage equipment and on-off control device, and the on-off control device of the computer is controlled by the on-off control device, assisted by the logic control software, and the computer is self-modularized. Start, and then complete the performance verification of the storage device. This test system controls the whole computer's on-off and off-circuit, so as to achieve complete power off and verify it by means of complete power off. It can simulate the relationship between computer, storage device and system more deeply, and verify the electrical stability and system compatibility of storage device more accurately. It simulates the influence of electrostatic interference and current surge on storage devices which can not be simulated by traditional verification methods, and verifies storage devices more rigorously and accurately.

【技术实现步骤摘要】
一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统
本专利技术涉及半导体存储类产品稳定性测试系统，具体涉及一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统。
技术介绍
近年来，在半导体存储设备
中，存储设备的发展尤为迅速。由于存储设备是一种非易失性存储设备，但通断电会对影响存储设备的性能，存储设备的稳定性决定了读取和写入数据资料的安全性，在存储设备出厂前，需要对存储设备的可靠性进行测试，存储设备的可靠性测试包括读取、写入、擦除、老化等测试项目。存储设备在使用的过程中，难免会遇到临时通断电的情况，临时的通断电会对存储设备的性能进行很大的影响，目前生产的存储设备在通断电方面的性能得到了很大的改善，现有技术中存储设备通断电性能测试存在各种弊端。可程式计算机循环通断电装置是在控制技术和计算机技术的基础上开发出来的，并逐渐发展成为自动化技术。当前的验证系统中，通常以实时和延时控制进行控制，例如使用定时启动，定时检测，定时交互，为用户提供模式相对简单，操作相对方便的操作设备。缺点是现有的循环通断电技术仅可支持自动通断电，未设定限定值，导致无法判别判别不良与良品，业界的传统验证方式，经由控制待测存储设备的通断路，计算机持续控制存储设备进行有效验证，该验证方式无法完全模拟断电可能造成的静电干扰、设备电流干扰等状况。
技术实现思路
为了解决上述的以及其他潜在的技术问题，本专利技术是控制整个计算机的通断路，做到完全断电，使用完全断电方式进行验证，可以更深入地模拟计算机、存储设备与系统之间发生关系，更加准确验证存储设备的电稳定性及系统相容性。本专利技术提供的技术方案如下：一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，包括：计算机设备和逻辑控制软件；所述计算机设备包括存储设备和通断路控制装置；使用所述通断路控制装置对所述计算机的通断路进行控制，辅助以所述逻辑控制软件，对计算机进行模块自启动，之后完成对所述存储设备的性能验证。通过通断路控制装置，控制计算机的通断路，使用程式控制计算机，完成自启动，并对存储设备自动执行一系列的验证操作，该验证方式，可以模拟出传统的验证方式无法模拟的静电干扰，电流激增等对存储设备的影响，更加严谨准确地对存储设备进行验证工作。于本专利技术的一实施例中，使所述的计算机完成自启动，并对存储设备自动执行一系列的验证操作。计算机中还包括测试结果的存储空间以及验证比对的数据。于本专利技术的一实施例中，所述存储设备为嵌入式闪存装置。于本专利技术的一实施例中，完成验证后，通过程式对比相关验证参数，自动判断验证结果，自动产出报告记录测试项目、过程的数据结果。通过程式对比相关验证参数，自动判断验证结果，合格或不合格，自动产出报告记录测试项目、过程的数据结果，可以节省人力资源，提高验证精确度减少人工可能发生的错误状况。于本专利技术的一实施例中，所述系统还包括时间控制器，所述时间控制器按照预先设置计算机设备通电时间和断开时间。于本专利技术的一实施例中，还包括对所述存储设备的自动对比作出区分判别。于本专利技术的一实施例中，所述性能验证包括存储设备的自动读取验证。于本专利技术的一实施例中，所述性能验证包括存储设备的自动写入验证。于本专利技术的一实施例中，所述性能验证包括存储设备的老化验证。于本专利技术的一实施例中，所述性能验证包括存储设备的擦除验证。如上所述，本专利技术的存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统具有以下有益效果：1.本专利技术是控制整个计算机的通断路，做到完全断电，使用完全断电方式进行验证，可以更深入地模拟计算机、存储设备与系统之间发生关系，更加准确验证存储设备的电稳定性及系统相容性。通过通断路控制装置，控制计算机的通断路，使用程式控制计算机，完成自启动，并对存储设备自动执行一系列的验证操作，该验证方式，可以模拟出传统的验证方式无法模拟的静电干扰，电流激增等对存储设备的影响，更加严谨准确地对存储设备进行验证工作。3.完成验证后，通过程式对比相关验证参数，自动判断验证结果，合格或不合格，自动产出报告记录测试项目、过程的数据结果，可以节省人力资源，提高验证精确度减少人工可能发生的错误状况。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1显示传统验证方式系统。图2显示为本专利技术的测试框架。图3显示为本专利技术测试系统。图4显示为本专利技术验证流程。具体实施方式以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。请参阅图2至图4。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本专利技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本专利技术可实施的范畴。本实施例的目的在于提供一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，用于解决现有技术中：传统的验证方式无法模拟的静电干扰，电流激增等对存储设备的影响，无法将机械与人工分离，以及测试结果需要人工记录和分析的技术问题。本专利技术一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，包括：计算机设备和逻辑控制软件；所述计算机设备包括存储设备和通断路控制装置；系统还包括时间控制器，时间控制器按照预先设置计算机设备通电时间和断开时间。时间控制器的时间设定范围为1s~10min。具体可以设定为10s、1min、5min、10min的时间间隔，也可以设置不同的时间间隔，随机通断电，在不规则的通断电情况下，不断的对存储设备进行读取、写入和擦除操作，进一步通过检测，以判断存储设备的存储性能。存储设备能够承受的通断电次数越多，说明其性能越好。具体的可以判断存储设备的是否损坏以及数据是否丢失。根据设定的通电时间和断开时间，使用所述通断路控制装置对所述计算机的通断路进行控制，辅助以所述逻辑控制软件，对计算机进行模块自启动，之后完成对所述存储设备的性能验证。通过通断路控制装置，控制计算机的通断路，使用程式控制计算机，完成自启动，并对存储设备自动执行一系列的验证操作，该验证方式，可以模拟出传统的验证方式无法模拟的静电干扰，电流激增等对存储设备的影响，更加严谨准确地对存储设备进行验证工作。完成验证后，通过程式对比相关验证参数，自动判断验证结果，自动产出报告记录测试项目、过程的数据结果。通过程式对比相关验证参数，自动判断验证结果，合格或不合格，自动产出报告记录测试项目、过程的数据结果，可以节省本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，其特征在于，系统包括：计算机设备和逻辑控制软件；所述计算机设备包括存储设备、通断路控制装置；使用所述通断路控制装置对所述计算机的通断路进行控制，辅助以所述逻辑控制软件，对计算机进行模块自启动，之后完成对所述存储设备的性能验证。

【技术特征摘要】
1.一种存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，其特征在于，系统包括：计算机设备和逻辑控制软件；所述计算机设备包括存储设备、通断路控制装置；使用所述通断路控制装置对所述计算机的通断路进行控制，辅助以所述逻辑控制软件，对计算机进行模块自启动，之后完成对所述存储设备的性能验证。2.根据权利要求1所述的存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，其特征在于：使所述的计算机完成自启动，并对所述存储设备自动执行一系列的验证操作。3.根据权利要求2所述的存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，其特征在于：完成验证后，通过程式对比相关验证参数，自动判断验证结果，自动产出报告记录测试项目、过程的数据结果。4.根据权利要求1所述的存储设备可程式计算机循环通断电自动测试系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾戌，李庭育，庄健民，孟涛成，
申请(专利权)人：江苏华存电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32