偏振光探测器及偏振光的探测方法技术

本发明专利技术提供了一种偏振光的探测方法，包括：提供一种偏振光探测系统，其包括偏振光探测器，偏振光探测器包括基底、依次设置在基底表面上的隔离层和光敏材料层、以及设置在光敏材料层相对的两端且分别与光敏材料层接触的源极和漏极，源极和漏极之间形成的沟道结构暴露出部分光敏材料层，光敏材料层的材料包括β‑InSe纳米薄片；将一待测偏振光照射到光敏材料层的表面；光敏材料层吸收待测光并进行光电转换，使偏振光探测器产生相应的电流结果；利用电流结果分析得到待测偏振光的偏振信息。本发明专利技术提供的探测方法利用β‑InSe纳米薄片具有各向异性的特点，可直接拾取光偏振信息，不需要用到额外的偏振片。本发明专利技术还提供了一种偏振光探测器。

Polarized Light Detector and Detection Method of Polarized Light

The invention provides a method for detecting polarized light, including a polarized light detection system, which includes a polarized light detector, a polarized light detector including a substrate, an isolation layer and a photosensitive material layer arranged on the surface of the substrate in turn, and a source and a drain pole arranged at opposite ends of the photosensitive material layer and in contact with the photosensitive material layer respectively, and a formation between the source and the drain poles. The channel structure exposes part of the photosensitive material layer. The material of the photosensitive material layer includes beta InSe nano-sheet; illuminates the polarized light to the surface of the photosensitive material layer; absorbs the light to be measured and converts it into photoelectric, so that the polarized light detector produces the corresponding current results; and obtains the polarization information of the polarized light to be measured by the analysis of the current results. The detection method provided by the invention utilizes the anisotropic characteristics of the beta InSe nanosheet, and can directly pick up the polarization information of light without using additional polarizers. The invention also provides a polarized light detector.

【技术实现步骤摘要】
偏振光探测器及偏振光的探测方法
本专利技术涉及偏振光探测领域，具体涉及一种偏振光探测器及偏振光的探测方法。
技术介绍
光在经物体的反射、折射、吸收和散射等作用后将改变自身的偏振特性，同时光的偏振信息中还包含了物体的表面粗糙度、光泽和电导率等信息。偏振探测技术有助于提高目标探测和识别的准确度，在卫星遥感探测、军事目标识别、大气探测、天文探测以及医学诊断等方面具有十分重要的应用价值。实现光的偏振信息的直接获取十分必要。目前对于偏振光的方向探测通常使用三种方法，即单一的线偏振探测法、基于Stokes矢量参数测量法和基于偏振光干涉法。这三种方法都不是直接拾取光的偏振参数的方法，而是通过偏振片和光栅等光学设备间接地得到光的偏振信息。因此，有必要提供一种新的偏振光探测器及偏振光的探测方法。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供了一种偏振光探测器以及一种偏振光的探测方法。本专利技术第一方面提供了一种偏振光的探测方法，包括以下步骤：提供一种偏振光探测系统，其包括偏振光探测器，所述偏振光探测器包括基底、依次设置在所述基底表面上的隔离层和光敏材料层、以及设置在所述光敏材料层相对的两端且分别与所述光敏本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种偏振光的探测方法，其特征在于，包括以下步骤：提供一种偏振光探测系统，其包括偏振光探测器，所述偏振光探测器包括基底、依次设置在所述基底表面上的隔离层和光敏材料层、以及设置在所述光敏材料层相对的两端且分别与所述光敏材料层接触的源极和漏极，所述源极和所述漏极之间形成的沟道结构暴露出部分所述光敏材料层，所述光敏材料层的材料包括β‑InSe纳米薄片；将一待测偏振光照射到所述光敏材料层的表面；所述光敏材料层吸收所述待测光并进行光电转换，使所述偏振光探测器产生相应的电流结果；利用所述电流结果分析得到所述待测偏振光的偏振信息。

【技术特征摘要】
1.一种偏振光的探测方法，其特征在于，包括以下步骤：提供一种偏振光探测系统，其包括偏振光探测器，所述偏振光探测器包括基底、依次设置在所述基底表面上的隔离层和光敏材料层、以及设置在所述光敏材料层相对的两端且分别与所述光敏材料层接触的源极和漏极，所述源极和所述漏极之间形成的沟道结构暴露出部分所述光敏材料层，所述光敏材料层的材料包括β-InSe纳米薄片；将一待测偏振光照射到所述光敏材料层的表面；所述光敏材料层吸收所述待测光并进行光电转换，使所述偏振光探测器产生相应的电流结果；利用所述电流结果分析得到所述待测偏振光的偏振信息。2.如权利要求1所述的偏振光的探测方法，其特征在于，所述偏振光探测系统还包括一计算机分析系统，用于根据所述电流结果分析得到所述待测偏振光的偏振信息。3.如权利要求2所述的偏振光的探测方法，其特征在于，所述计算机分析系统中存储有偏振光的偏振信息与所述偏振光通过所述偏振光探测器探测后产生的电流信息的对应关系表，当所述计算机分析系统分析所述待测偏振光的偏振信息时，将所述偏振光探测器产生的相应电流结果与所述对应关系表进行比对，得到所述待测偏振光的偏振信息。4.如权利要求1所述的偏振光的探测方法，其特征在于，所述偏振光探测系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：张晗，王子谦，王慧德，郭志男，
申请(专利权)人：深圳大学，
类型：发明
国别省市：广东,44