一种基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置及测量方法制造方法及图纸

一种基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置及测量方法，它包括带有滑块的直线导轨，还包括一个V形测量块，该V形测量块具有两个相交的测量面；所述的滑块上吸附有第一磁性表座，在V形测量块上吸附有第二磁性表座，在第一磁性表座上安装有万向杆和夹具，在夹具上安装有位移传感器，位移传感器的探测头与V形测量块的测量面相抵，移动滑块，探测头能划过两个测量面；所述的探测头上安装有角度校准块。本发明专利技术用于双非平行面直线导轨的平行度测量，能准测量出直线导轨的平行度，测量数据信息化，可集成到物联网中。具有结构简单、测量准确度高的优点，有良好的市场前景。

A Parallelism Measuring Device and Method Based on Double Non-Parallel Linear Guide

A parallelism measuring device and measuring method based on double non-parallel plane linear guide is presented. It includes a linear guide with slider and a V-shaped measuring block, which has two intersecting measuring surfaces. The slider is adsorbed with a first magnetic table, a second magnetic table on the V-shaped measuring block, and a universal bar and fixture are installed on the first magnetic table. A displacement sensor is installed on the fixture, and the probe head of the displacement sensor matches the measuring surface of the V-shaped measuring block. The slider is moved and the probe head can cross two measuring surfaces. An angle calibration block is installed on the probe head. The invention is used for measuring the parallelism of double non-parallel straight-line guides, which can measure the parallelism of straight-line guides quasi-accurately, and the measurement data are informationized, and can be integrated into the Internet of Things. It has the advantages of simple structure and high measurement accuracy, and has good market prospects.

【技术实现步骤摘要】
一种基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置及测量方法
本专利技术涉及一种用于直线导轨的平行度测量，具体的说是一种双非平行面直线导轨的平行度测量装置及测量方法。
技术介绍
目前在机械设备生产中直线导轨的装配大体可分为两种，有侧向定位面安装和无侧向定面位安装两种。有侧向定位面安装过程如下，首先将装配面与装配基准面的清洁，然后将基准侧直线导轨安装到装配面上并预紧，再将基准侧直线导轨的安装基准侧面紧贴定在装配定位基准面上再拧紧。该过程结束后往往不再检测基准直线导轨与定位基准面的平行度，会导致从动侧直线导轨相对基准侧直线导轨的平行度的参照标准不够理想。无侧向定面位安装，过程如下，同样将装配面与装配基准面的清洁，然后将基准侧直线导轨安装到装配面上并预紧，再将百分表通过磁座固定在直线导轨滑块上，与基准面进行平行度调整。该过程要求在机床设备上必须加工好基准面。以上方法存在问题如下1、平行度单位为mm/m，以上方法无法确定滑块移动的距离，进而只能估算出平行度。2、测量数据非电子化，无法集成到物联网中。3、百分表和杠杆百分表的测量过程中有存在测量杆和测量表面的角度，该角度会影响测量的精度。中国专利技术专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置，它包括带有滑块（9）的直线导轨（10），其特征在于还包括一个V形测量块（1），该V形测量块（1）具有两个相交的测量面（1.1）；所述的滑块（9）上吸附有第一磁性表座（8），在V形测量块（1）上吸附有第二磁性表座（2），在第一磁性表座（8）上安装有万向杆（7）和夹具（6），在夹具（6）上安装有位移传感器（5），位移传感器（5）的探测头（5.1）与V形测量块（1）的测量面（1.1）相抵，移动滑块（9），探测头（5.1）能划过两个测量面（1.1）；所述的探测头（5.1）上安装有角度校准块（4），该角度校准块（4）的内顶面（4.1）和内侧面（4.2）分别...

【技术特征摘要】
1.一种基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置，它包括带有滑块（9）的直线导轨（10），其特征在于还包括一个V形测量块（1），该V形测量块（1）具有两个相交的测量面（1.1）；所述的滑块（9）上吸附有第一磁性表座（8），在V形测量块（1）上吸附有第二磁性表座（2），在第一磁性表座（8）上安装有万向杆（7）和夹具（6），在夹具（6）上安装有位移传感器（5），位移传感器（5）的探测头（5.1）与V形测量块（1）的测量面（1.1）相抵，移动滑块（9），探测头（5.1）能划过两个测量面（1.1）；所述的探测头（5.1）上安装有角度校准块（4），该角度校准块（4）的内顶面（4.1）和内侧面（4.2）分别与V形测量块（1）的顶面及测量面（1.1）贴合，且角度校准块（4）能相对探测头（5.1）左右摆动。2.根据权利要求1所述的基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置，其特征在于所述两个测量面（1.1）的交角大于90度，小于180度。3.根据权利要求1所述的基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置，其特征在于所述位移传感器（5）的探测头（5.1）上设置有竖直的转轴，在角度校准块（4）的侧边开设有探测孔（4.3），该探测孔（4.3）径向安装有转轴上，探测头（5.1）穿过探测孔（4.3）并显露于角度校准块（4）的内侧面（4.2）。4.根据权利要求1所述的基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置，其特征在于所述的V形测量块（1）上设置有三个调平螺栓（3），分别位于V形测量块（1）的两端及中间弯折部。5.根据权利要求1-4任一所述的基于双非平行面直线导轨的平行度测量装置，其特征在于所述的位移传感器（5）通过AD转换模块（16）与CPU（12）相连，该CPU（12）的输出端设置有液晶驱动器（13）和液晶屏（14），该CPU（12）的输入端设置有按键（15）。6.根据权利要求5所述的基于双非平行面直线导轨的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑小龙，吴斌，俞挺，陈元峰，
申请(专利权)人：宁波第二技师学院，
类型：发明
国别省市：浙江,33