旋转检测装置制造方法及图纸

旋转检测装置具备检测部(30)和判定电路部(40)，多个磁阻元件对(31～35)与偏置磁铁(21)中的转子侧的端部(21a)相比远离转子(10)而配置，且多个磁阻元件对中的第1磁阻元件对(31)、第2磁阻元件对(32)以及第3磁阻元件对(33)与多个磁阻元件对中的第4磁阻元件对(34)以及第5磁阻元件对(35)相比远离端部而配置，第2磁阻元件对配置于被第1磁阻元件对、第3磁阻元件对、第4磁阻元件对、以及第5磁阻元件对包围的范围，检测部基于第1磁阻元件对、第2磁阻元件对以及第3磁阻元件对的输出生成主信号，且基于第4磁阻元件对以及第5磁阻元件对的输出生成子信号。

Rotary Detection Device

The rotating detection device has a detection unit (30) and a determination circuit unit (40), a plurality of reluctance element pairs (31-35) are arranged far from the end of the rotor side (21a) in the bias magnet (21), and the first reluctance element pair (31), the second reluctance element pair (32) and the third reluctance element pair (33) are arranged far from the rotor side (10), and the fourth reluctance element pair (34) and the fifth reluctance element pair are aligned with the third reluctance element pair (33). Reluctance element pair (35) is configured far from the end. The second reluctance element pair is arranged in the range surrounded by the first reluctance element pair, the third reluctance element pair, the fourth reluctance element pair, and the fifth reluctance element pair. The detection unit generates the main signal based on the output of the first reluctance element pair, the second reluctance element pair and the third reluctance element pair, and based on the fourth reluctance element pair and the fifth reluctance element pair. The output generates a sub-signal.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】旋转检测装置
本申请涉及一种检测转子的旋转方式的旋转检测装置。
技术介绍
以往，例如在专利文献1中记载有对转子的旋转方式进行检测的旋转检测装置。具体而言，记载有旋转检测装置的构成，具备形成有多个磁阻元件的传感器芯片、对各磁阻元件施加偏置磁场的偏置磁铁、以及进行基于各磁阻元件的输出的信号处理的处理电路。各磁阻元件配置于与转子对置的位置，构成多个形成半桥电路的磁阻元件对。并且，各磁阻元件对的中点电位与转子的旋转对应地变化。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利第4466355号公报
技术实现思路
这里，考虑根据三个磁阻元件对的输出生成两个第1差动信号以及第2差动信号的构成。若将各磁阻元件对的输出定义为A、B、C，则第1差动信号可根据(A-B)-(B-C)得出。第1差动信号是转子的凸部中心检测用的信号或者转子的凹部中心检测用的信号。另外，第2差动信号可根据(A-C)得出。第2差动信号为凸部凹部辨别用的信号。因此，各磁阻元件对的输出中的A、C成为两个差动信号共用的参数。在上述的构成中，若旋转检测装置与转子间的间隙变大，则针对转子的齿的偏置磁铁的磁场的变化变得迟钝。因此，第1差动信号以及第2差动本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种旋转检测装置，其特征在于，具备：检测部(30)，具有电阻值伴随着在旋转方向上交替设置有凸部(12)及凹部(13)的齿轮型的转子(10)的旋转而变化的多个磁阻元件对(31～35)、以及对所述多个磁阻元件对施加偏置磁场的偏置磁铁(21)，基于伴随着所述转子旋转而产生的所述多个磁阻元件对的电阻值的变化，分别生成与所述凸部以及所述凹部的凹凸构造对应的波形的主信号、以及相对于所述主信号具有相位的波形的子信号；以及判定电路部(40)，具有用于将所述主信号以及所述子信号二值化的二值化阈值，从所述检测部输入所述主信号以及所述子信号，对所述主信号与所述二值化阈值进行比较并生成将所述主信号二值化后的位置信...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种旋转检测装置，其特征在于，具备：检测部(30)，具有电阻值伴随着在旋转方向上交替设置有凸部(12)及凹部(13)的齿轮型的转子(10)的旋转而变化的多个磁阻元件对(31～35)、以及对所述多个磁阻元件对施加偏置磁场的偏置磁铁(21)，基于伴随着所述转子旋转而产生的所述多个磁阻元件对的电阻值的变化，分别生成与所述凸部以及所述凹部的凹凸构造对应的波形的主信号、以及相对于所述主信号具有相位的波形的子信号；以及判定电路部(40)，具有用于将所述主信号以及所述子信号二值化的二值化阈值，从所述检测部输入所述主信号以及所述子信号，对所述主信号与所述二值化阈值进行比较并生成将所述主信号二值化后的位置信号，且对所述子信号与所述二值化阈值进行比较并生成将所述相位信号二值化后的相位信号，将所述位置信号设为所述凸部的中心通过信息，另一方面将所述相位信号设为所述转子的旋转方式信息，所述多个磁阻元件对与所述偏置磁铁中的所述转子侧的端部(21a)相比远离所述转子而配置，且所述多个磁阻元件对中的第1磁阻元件对(31)、第2磁阻元件对(32)以及第3磁阻元件对(33)与所述多个磁阻元件对中的第4磁阻元件对(34)以及第5磁阻元件对(35)相比，远离所述端部而配置，所述第2磁阻元件对配置于被所述第1磁阻元件对、所述第3磁阻元件对、所述第4磁阻元件对以及所述第5磁阻元件对包围的范围，所述检测部基于所述第1磁阻元件对、所述第2磁阻元件对以及所述第3磁阻元件对的输出，生成所述主信号，且基于所述第4磁阻元件对以及所述第5磁阻元件对的输出，生成所述子信号。2.如权利要求1所述的旋转检测装置，其中，所述第2磁阻元件对与所述第1磁阻元件对以及所述第3磁阻元件对相比，配置于所述第4磁阻元件对以及所述第5磁阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：小林笃史，卷田真宏，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：日本,JP