测试数据分析方法及相关产品技术

本申请实施例公开了一种测试数据分析方法及相关产品，其中方法包括：获取多个测试数据，多个测试数据为同一类型的测试数据；依据多个测试数据生成正态分布图，正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，正态分布图为离散图，正态分布图包括对称轴；在正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布；确定多个样本点中低于LCL，以及高于UCL的样本点的目标数量；确定目标数量与多个样本点的总数量之间的比值；在比值大于预设阈值时，进行预警操作。采用本申请实施例可以实现对小概率事件进行预警操作。

【技术实现步骤摘要】
测试数据分析方法及相关产品
本申请涉及电子
，具体涉及一种测试数据分析方法及相关产品。
技术介绍
随着电子设备(如手机、平板电脑等等)的大量普及应用，电子设备能够支持的应用越来越多，功能越来越强大，电子设备向着多样化、个性化的方向发展，成为用户生活中不可缺少的电子用品。在电子设备出厂之前，会对电子设备进行测试，测试的好坏直接决定了产品的良品率或者次品率，但是，目前来看，对小概率事件进行测试的精度较低。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种测试数据分析方法及相关产品，可以提升小概率事件测试精度。第一方面，本申请实施例提供一种测试设备，所述测试设备包括处理器，以及与所述处理电路连接显示屏，其中：所述处理器，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；所述显示屏，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；以及在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；所述处理器，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；所述显示屏，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。第二方面，本申请实施例提供一种测试数据分析方法，应用于测试设备，包括：获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。第三方面，本申请实施例提供了一种测试数据分析装置，应用于测试设备，所述装置包括:获取单元、生成单元、标记单元、确定单元和预警单元，其中，所述获取单元，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；所述生成单元，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；所述标记单元，用于在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；所述确定单元，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；以及确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；所述预警单元，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。第四方面，本申请实施例提供一种测试设备，包括处理器、存储器、通信接口以及一个或多个程序，其中，上述一个或多个程序被存储在上述存储器中，并且被配置由上述处理器执行，上述程序包括用于执行本申请实施例第二方面中的步骤的指令。第五方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中，上述计算机可读存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，上述计算机程序使得计算机执行如本申请实施例第二方面中所描述的部分或全部步骤。第六方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，其中，上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，上述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第二方面中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。可以看出，本申请实施例中所描述的测试数据分析方法及相关产品，获取多个测试数据，多个测试数据为同一类型的测试数据，依据多个测试数据生成正态分布图，正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，正态分布图为离散图，正态分布图包括对称轴，在正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布，确定多个样本点中低于LCL，以及高于UCL的样本点的目标数量，确定目标数量与多个样本点的总数量之间的比值，在比值大于预设阈值时，进行预警操作，由于低于LCL且高于UCL均为小概率事件，从而，可以实现对小概率事件进行预警操作，也提升了小概率事件的测试精度。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1A是本申请实施例提供的一种测试设备的结构示意图；图1B是本申请实施例提供的一种测试数据分析方法的流程示意图；图1C是本申请实施例提供的一种正态分布图的演示示意图；图2是本申请实施例提供的另一种测试数据分析方法的流程示意图；图3是本申请实施例提供的一种测试设备的结构示意图；图4是本申请实施例提供的一种测试数据分析装置的功能单元组成框图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。本申请实施例所涉及到的电子设备可以包括各种具有无线通信功能的手持设备、车载设备、可穿戴设备(智能手表、智能手环、无线耳机、增强现实/虚拟现实设备、智能眼镜)、计算设备或连接到无线调制解调器的其他处理设备，以及各种形式的用户设备(userequipment，UE)，移动台(mobilestation，MS)，终端设备(terminaldevice)等等。为方便描述，上面提到的设备统称为电子设备。测试设备为用于对电子设备进行测试的设备，例如，测试平台，测试机等等，在此不作限定，测试设备也可以为电子设备。需要说明的是，过程能力指数(Processcapabilityindex，CPK)：表示生产过程客观存在着分散的一个参数，过程能力指数的值越大，表明产品的离散程度相对于技术标准的公差范围越小，因而过程能力就越高，生产工序过程保持稳定的能力越充足。稳定过程的能力指数(cap本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括处理器，以及与所述处理电路连接显示屏，其中：所述处理器，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；所述显示屏，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；以及在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；所述处理器，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；所述显示屏，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括处理器，以及与所述处理电路连接显示屏，其中：所述处理器，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；所述显示屏，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；以及在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；所述处理器，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；所述显示屏，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，在所述获取多个测试数据方面，所述处理器具体用于：获取电子设备的预设硬件的预设参数；获取预设时间段内针对所述预设硬件的预设参数的测试数据，得到多个测试数据。3.根据权利要求1或2所述的测试设备，其特征在于，在所述依据所述多个测试数据生成正态分布图方面，所述显示屏具体用于：确定所述多个测试数据的均值；确定所述多个测试数据中每一测试数据与所述均值之间的差值，得到多个差值；根据所述多个差值生成正态分布图。4.根据权利要求1-3任一项所述的测试设备，其特征在于，所述在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL方面，所述显示屏具体用于：将所述多个测试数据由小到大进行排序；从排序后的所述多个测试数据中选取2个临界异常测试数据，所述临界异常测试数据表示测试过程中，异常概率等于预设异常阈值的测试数据；依据所述2个临界异常测试数据确定3σ位置、-3σ位置；在所述正态分布图中标记将3σ位置的轴线作为上控制线UCL、-3σ位置的轴线作为下控制线LCL。5.根据权利要求1-4任一项所述的测试设备，其特征在于，在所述进行预警操作方面，所述显示屏具体用于：确定所述比值与所述预设阈值之间的差值；在所述差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作；在所述差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，所述第一预设范围低于所述第二预设范围。6.一种测试数据分析方法，其特征在于，应用于测试设备，包括：获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄志勇，
申请(专利权)人：OPPO重庆智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆,50