地质断层的封闭性的评价方法、装置和设备制造方法及图纸

技术编号:20425639 阅读:26 留言:0更新日期:2019-02-23 08:39
本发明专利技术实施例提供一种地质断层的封闭性的评价方法、装置和设备,通过对目标地质层中断层的形成过程进行模拟,对于模拟过程中地质模拟层所形成的每一状态,获取每一状态下地质模拟层中断层的断距和断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,并进一步获取地质模拟层中断层的断距和断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系;根据目标地质层的断层的断距和函数关系,获取目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度,根据泥岩涂抹层的厚度评价目标地质层的断层的封闭性。该评价方法、装置和设备将地质模拟层中断层形成过程中的多个状态对应的参数来拟合函数关系,避免随机性的缺陷,提高对断层中泥岩涂抹层的厚度预测的准确性,以提高对断层的封闭性进行评价的准确性。

【技术实现步骤摘要】
地质断层的封闭性的评价方法、装置和设备
本专利技术实施例涉及地质学
,更具体地,涉及一种地质断层的封闭性的评价方法、装置和设备。
技术介绍
在地质学中,断层的封闭性是指断层上下盘岩石或断裂带与断层上下盘岩石由于排替压力的差异,而阻止流体继续流动的性质,使其聚集起来形成新的物性和压力系统,在空间上表现为侧向封闭性和垂向封闭性。断层在油气的运移成藏过程中起双重作用,断层的开启为油气运移提供通道,断层封闭为油气藏形成提供遮挡,断层的封闭性的评价对油气勘探及开发具有重大的意义。地质层在产生断层时,地质层中的泥岩层对断层的封闭性起着重要的作用,泥岩层在断层中会形成泥岩涂抹层,在断层中主要是通过泥岩涂抹层来体现断层的封闭性,泥岩涂抹层的厚度越厚,则断层封的闭性越高。在实际的地质层中测量泥岩涂抹层的厚度,一方面难以确定断层的位置,另一方面存在太大的随机性,造成通过实际测量获得的泥岩涂抹层的厚度这一方式的测量难度比较大,同时测量的准确性不高,导致对地质断层的封闭性的评价不准确。
技术实现思路
为了克服上述问题或者至少部分地解决上述问题,本专利技术实施例提供一种地质断层的封闭性的评价方法、装置和设备。根据本专利技术实施例的第一方面,提供一种地质断层的封闭性的评价方法,包括:对目标地质层的断层的形成过程进行模拟;对于模拟的过程中地质模拟层所形成的每一状态,获取每一状态下地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度;根据每一状态下地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,获取地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系;根据目标地质层的断层的断距和所述函数关系,获取目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度,根据目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度评价目标地质层的断层的封闭性。根据本专利技术实施例的第二方面,提供一种地质断层的封闭性的评价装置,包括:模拟模块、第一获取模块、第二获取模块和评价模块;模拟模块,用于对目标地质层的断层的形成过程进行模拟;第一获取模块,用于对于模拟的过程中地质模拟层所形成的每一状态,获取每一状态下地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度;第二获取模块,用于根据每一状态下地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,获取地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系;评价模块,用于根据目标地质层的断层的断距和函数关系,获取目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度,根据目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度评价目标地质层的断层的封闭性。根据本专利技术实施例的第三方面,提供一种电子设备,包括:至少一个处理器、至少一个存储器和数据总线;其中:处理器与存储器通过数据总线完成相互间的通信;存储器存储有可被处理器执行的程序指令,处理器调用程序指令以执行第一方面的各种可能的实现方式中任一种可能的实现方式所提供的地质断层的封闭性的评价方法。根据本专利技术实施例的第四方面,提供一种非暂态计算机可读存储介质,该非暂态计算机可读存储介质存储计算机程序,该计算机程序使计算机执行第一方面的各种可能的实现方式中任一种可能的实现方式所提供的地质断层的封闭性的评价方法。本专利技术实施例提供的一种地质断层的封闭性的评价方法、装置和设备,通过对目标地质层的断层的形成过程进行模拟,对于模拟过程中地质模拟层所形成的每一状态,获取每一状态下地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,并进一步获取地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系;根据目标地质层的断层的断距和所述函数关系,获取目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度,根据目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度评价目标地质层的断层的封闭性。该评价方法、装置和设备将地质模拟层中断层形成过程中的多个状态对应的参数来拟合函数关系,避免随机性的缺陷,提高对断层中泥岩涂抹层的厚度预测的准确性,以提高对地质断层的封闭性进行评价的准确性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为根据本专利技术实施例提供的地质断层的封闭性的评价方法的流程图;图2为根据本专利技术实施例提供的地质断层的模拟形成装置的示意图;图3为根据本专利技术实施例提供的地质断层的模拟形成过程中地质模拟层的形态图;图4为根据本专利技术实施例提供的泥岩涂抹模拟层的厚度与断距之间的拟合曲线;图5为根据本专利技术实施例提供的地质断层的封闭性的评价装置的示意图;图6为根据本专利技术实施例提供的电子设备的示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。图1为本专利技术实施例提供的地质断层的封闭性的评价方法的流程图,如图1所示,一种地质断层的封闭性的评价方法,包括:S11,对目标地质层的断层的形成过程进行模拟;S12,对于模拟的过程中地质模拟层所形成的每一状态,获取每一状态下地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度;S13,根据每一状态下地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,获取地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系;S14,根据目标地质层的断层的断距和函数关系,获取目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度,根据目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度评价目标地质层的断层的封闭性。具体地,对地质构造变形演化的物理模拟已有200多年的发展历史,被证实是研究地质构造变形演化机制的一种重要方法,这种模拟方法将数学研究和岩石力学的量值关系引入到了地质学之中,。泥岩涂抹形成、发育及保存的地质因素也可通过构造物理模拟进行研究,借助这种研究手段,对泥岩涂抹从定性的描述到定量研究也成为了可能。本实施例中,可通过搭建地质断层的模拟形成装置实施对目标地质层的断层的形成过程进行模拟,模拟过程中遵循几何相似、材料相似、时间相似、动力相似和边界相似原则进行物理模拟,该模拟过程可模拟目标地质层的断层的整个形成过程,每一目标地质层的一个状态对应于模拟过程中地质模拟层所形成的状态,对于模拟的过程中地质模拟层所形成的每一状态,每一状态下,存在一组地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,泥岩涂抹模拟层为地质模拟层中的泥岩模拟层在模拟过程中形成断层时对应的断层中的泥岩模拟层,该泥岩涂抹模拟层用于模拟目标地质层的断层中的泥岩涂抹层,获取每一状态下地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,可基于统计方法获取地质模拟层中断层的断距和地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系。可根据地震资料得到目标地质层的断层的断距,然后根据目标地质层的断层的断距和本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种地质断层的封闭性的评价方法,其特征在于,包括:对目标地质层的断层的形成过程进行模拟;对于所述模拟的过程中地质模拟层所形成的每一状态,获取每一状态下所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度;根据每一状态下所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,获取所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系;根据所述目标地质层的断层的断距和所述函数关系,获取所述目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度,根据所述目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度评价所述目标地质层的断层的封闭性。

【技术特征摘要】
1.一种地质断层的封闭性的评价方法,其特征在于,包括:对目标地质层的断层的形成过程进行模拟;对于所述模拟的过程中地质模拟层所形成的每一状态,获取每一状态下所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度;根据每一状态下所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,获取所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系;根据所述目标地质层的断层的断距和所述函数关系,获取所述目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度,根据所述目标地质层的断层中泥岩涂抹层的厚度评价所述目标地质层的断层的封闭性。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对目标地质层的断层的形成过程进行模拟,包括:将所述地质模拟层铺设于水平面上,所述水平面由至少两个可旋转的刚体的上表面组成,其中,每一刚体的旋转可使对应的刚体的上表面偏离所述水平面;将每一刚体按各自对应的角速度同方向进行旋转,通过每一刚体的旋转造成的对所述地质模拟层的形变,以实现对所述目标地质层的断层的形成过程进行模拟。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取每一状态下所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,包括:在将每一刚体按各自对应的角速度同方向进行旋转的过程中,每隔预设时长采集所述地质模拟层的断层的图片;根据每一图像获取每一状态下所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据每一状态下所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度,获取所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的函数关系,包括:将每一状态下所述地质模拟层中断层的断距作为横坐标,将每一状态下所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度作为纵坐标,拟合每一状态下所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的断层中泥岩涂抹模拟层的厚度之间的拟合曲线;根据所述拟合曲线获取所述地质模拟层中断层的断距和所述地质模拟层的...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈书平冯桂民武刚袁浩伟曹默雷张雨桐王中昱李文泳翟江峰王建王信棚
申请(专利权)人:中国石油大学北京中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院
类型:发明
国别省市:北京,11

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