一种M.2接口信号测试设备制造技术

本发明专利技术公开一种M.2接口信号测试设备，包括测试治具、设置于所述测试治具上并用于与被测设备上的M.2母头适配的M.2公头，以及设置于所述测试治具上并与所述M.2公头信号连接、用于对所述M.2公头的接收信号进行预设测试的测试器。本发明专利技术通过在测试治具上设置M.2公头，再通过M.2公头与M.2母头的接插适配连接，实现M.2母头与M.2公头之间的稳定连接，最后再通过测试器将M.2公头的接收信号进行对应测试，从而方便、快捷地完成对M.2接口的信号测试。相比于现有技术，本发明专利技术无需通过若干个高速探头分别连接M.2母头上的各根PIN，避免出现信号引脚接错或接触不良的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种M.2接口信号测试设备
本专利技术涉及服务器
，特别涉及一种M.2接口信号测试设备。
技术介绍
随着中国电子技术的发展，越来越多的电子设备已得到广泛使用。服务器是电子设备中的重要组成部分，是提供计算服务的设备。由于服务器需要响应服务请求，并进行处理，因此一般来说服务器应具备承担服务并且保障服务的能力。根据服务器提供的服务类型不同，分为文件服务器，数据库服务器，应用程序服务器，WEB服务器等。服务器的主要构成包括处理器、硬盘、内存、系统总线等，和通用的计算机架构类似，但是由于需要提供高可靠的服务，因此在处理能力、稳定性、可靠性、安全性、可扩展性、可管理性等方面要求较高。在大数据时代，大量的IT设备会集中放置在数据中心。这些数据中心包含各类型的服务器、存储、交换机及大量的机柜及其它基础设施。每种IT设备都是由各种硬件板卡组成，如计算模块、存储模块、机箱、风扇模块等等。硬件设备都需要进行安装维护，为提高维护效率及提升设备的使用效率，需要对各类模块在设备中的固定及安装维护方式不断优化，在不增加成本的情况下实现高效率安装维护。目前，服务器随着板卡密度的不断提高，元器件的封装尺寸越来越小，M.2作为一种高密度、小尺寸的连接器得到越来越广泛的使用。M.2接口的信号引脚密度较高且都被包裹，PIN密度大体积小，并且M.2接口的PCIE信号为高速信号，在出厂前必须进行信号完整性测试。在现有技术中一般通过高速信号探头直接在M.2接口上对每根PIN进行点测，但是，由于空间狭窄，且M.2接口PIN很小、很密集，高速探头很容易出现无法正常接触到信号引脚、接错信号引脚或接触不良的问题，从而导致无法顺利、精确地对M.2接口进行测试。因此，如何方便、精确地完成对M.2接口的信号测试，提高信号测试效率和测试精度，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种M.2接口信号测试设备，能够方便、精确地完成对M.2接口的信号测试，提高信号测试效率和测试精度。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种M.2接口信号测试设备，包括测试治具、设置于所述测试治具上并用于与被测设备上的M.2母头适配的M.2公头，以及设置于所述测试治具上并与所述M.2公头信号连接、用于对所述M.2公头的接收信号进行预设测试的测试器。优选地，所述测试治具具体为PCB板，且其上分别设置有用于引出所述M.2母头的时钟信号的第一引出电路，以及用于引出所述M.2母头的数据信号的第二引出电路。优选地，所述M.2公头焊接于所述测试治具的端部，且所述第一引出电路和所述第二引出电路的首端均延伸至与所述M.2公头连接。优选地，所述第一引出电路和所述第二引出电路的末端上均设置有RF连接器，且所述RF连接器与所述测试器通过RF线缆信号连接。优选地，所述测试器上设置有分别用于显示所述第一引出电路和所述第二引出电路的信号波形的显示屏，以及分别用于对所述第一引出电路和所述第二引出电路的信号进行测试的控制按钮。优选地，所述测试器具体为示波器。本专利技术所提供的M.2接口信号测试设备，主要包括测试治具、M.2公头和测试器。其中，测试治具为本测试设备的主体结构，主要用于安装其余零部件，而M.2公头和测试器均设置在测试治具上。该M.2公头可与M.2母头进行适配，两者形成接插配合，从而形成稳定的、正确的物理连接。测试器与M.2公头信号连接，可将M.2母头的输出信号通过M.2公头引入，并对其进行预设项目的测试。如此，本专利技术通过在测试治具上设置M.2公头，再通过M.2公头与M.2母头的接插适配连接，实现M.2母头与M.2公头之间的稳定连接，最后再通过测试器将M.2公头的接收信号进行对应测试，从而方便、快捷地完成对M.2接口的信号测试。相比于现有技术，本专利技术无需通过若干个高速探头分别连接M.2母头上的各根PIN，避免出现信号引脚接错或接触不良的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图。其中，图1中：被测设备—1，M.2母头—2，M.2公头—3，测试治具—4，第一引出电路—401，第二引出电路—402，测试器—5，显示屏—501，控制按钮—502，RF连接器—6，RF线缆—7。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参考图1，图1为本专利技术所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图。在本专利技术所提供的一种具体实施方式中，M.2接口信号测试设备主要包括测试治具4、M.2公头3和测试器5。其中，测试治具4为本测试设备的主体结构，主要用于安装其余零部件，一般的，该测试治具4具体可呈矩形或圆形等形状。M.2公头3设置在测试治具4上。该M.2公头3可与M.2母头2进行适配，两者形成接插配合，从而形成稳定的、正确的物理连接。测试器5也设置在测试治具4上，并且与M.2公头3信号连接，可将M.2母头2的输出信号通过M.2公头3引入，并对其进行预设项目的测试。M.2母头2一般设置在被测设备1上，在进行测试时，该被测设备1可与测试治具4通过螺栓等紧固件实现可拆卸连接。如此，本实施例通过在测试治具4上设置M.2公头3，再通过M.2公头3与M.2母头2的接插适配连接，实现M.2母头2与M.2公头3之间的稳定连接，最后再通过测试器5将M.2公头3的接收信号进行对应测试，从而方便、快捷地完成对M.2接口的信号测试。相比于现有技术，本实施例无需通过若干个高速探头分别连接M.2母头2上的各根PIN，避免出现信号引脚接错或接触不良的问题。考虑到M.2接口的PCIE高速信号一般分为时钟信号和数据信号，为此，本实施例中，测试治具4具体可以采用PCB板，同时在该PCB板上可分别设置第一引出电路401和第二引出电路402。其中，第一引出电路401和第二引出电路402的首端均与M.2公头3信号连接，第一引出电路401主要用于通过M.2公头3引出M.2母头2的时钟信号，而第二引出电路402则用于通过M.2公头3引出M.2母头2的数据信号。同时，时钟信号一般仅有一路，即图示CLK+与CLK-，而数据信号一般有四路，即图示TX0+与TX0-、TX1+与TX1-、TX2+与TX2-、TX3+与TX3-。为方便M.2公头3与第一引出电路401和第二引出电路402的稳定连接，确保信号不失真，本实施例中，M.2公头3可焊接在测试治具4的端部位置，同时第一引出电路401和第二引出电路402的首端可均在测试治具4上延伸到与M.2公头3相连。当然，M.2公头3还可连接在测试治具4的其余位置。基于同样的考虑，为确保测试器5与第一引出电路401和第二引出电路402的稳定连接，本实施例中，在第一引出电路401和第二引出电路402的末端上可均设置RF(Rad本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种M.2接口信号测试设备，其特征在于，包括测试治具(4)、设置于所述测试治具(4)上并用于与被测设备(1)上的M.2母头(2)适配的M.2公头(3)，以及设置于所述测试治具(4)上并与所述M.2公头(3)信号连接、用于对所述M.2公头(3)的接收信号进行预设测试的测试器(5)。

【技术特征摘要】
1.一种M.2接口信号测试设备，其特征在于，包括测试治具(4)、设置于所述测试治具(4)上并用于与被测设备(1)上的M.2母头(2)适配的M.2公头(3)，以及设置于所述测试治具(4)上并与所述M.2公头(3)信号连接、用于对所述M.2公头(3)的接收信号进行预设测试的测试器(5)。2.根据权利要求1所述的M.2接口信号测试设备，其特征在于，所述测试治具(4)具体为PCB板，且其上分别设置有用于引出所述M.2母头(2)的时钟信号的第一引出电路(401)，以及用于引出所述M.2母头(2)的数据信号的第二引出电路(402)。3.根据权利要求2所述的M.2接口信号测试设备，其特征在于，所述M.2公头(3)焊接于所述测试治具(4)的端部，且所述第一引出电路(40...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾永涛，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41