一种芯片的漏电流检测设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种芯片的漏电流检测设备，包括设备本体，所述设备本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，本实用新型专利技术通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理，并判定良品或废品，以待后续工序对待测芯片进行分拣，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的漏电流检测设备
本技术涉及芯片测试设备
，特别涉及一种芯片的漏电流检测设备。
技术介绍
理想条件下，芯片的引脚和大地之间是开路的，但实际情况下，它们之间为高阻状态，加上电压时可能会有微小的电流流过，这种电流称为漏电流。在芯片流片之后，需要测试芯片的漏电流是否达标，如果芯片的漏电流过大，比如应用到手机、笔记本电脑等需要电池供电的电子设备上，芯片会严重的影响待机时间，影响产品的质量，因此漏电流需要慎重考虑。近年来，随着集成电路的发展，各种芯片引脚越来越密，引脚越来越多，引脚间距也越来越小，给生产、维修、组装和测试带来不少的困难。现有的漏电流测量方法，通常为人工采用测试治具和万用表，逐个测试芯片引脚的漏电流，该方法测试效率十分低下，测试精度无法得到保证，大大影响了生产和加工效率。
技术实现思路
(一)解决的技术问题为了解决上述问题，本技术提供了一种芯片的漏电流检测设备，通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理，并判定良品或废品，以待后续工序对待测芯片进行分拣，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率。(二)技术方案一种芯片的漏电流检测设备，包括设备本体，所述设备本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，所述第一从动辊的一端贯穿所述第一侧板的一端并伸出所述第一侧板外，所述第一从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的一端并伸出所述第二侧板外，所述第二从动辊的一端贯穿所述第一侧板的另一端并伸出所述第一侧板外，所述第二从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的另一端并伸出所述第二侧板外，所述第一从动辊和所述第二从动辊之间设有传送带，所述传送带上设有一对挡边，一对所述挡边相对的位于所述传送带的两侧，所述挡边的内侧设有插槽，一对所述挡边之间设有芯片载板，所述芯片载板的两侧设有插块，所述插块与所述插槽相对应，所述芯片载板与所述挡边通过所述插块与所述插槽相连接，所述芯片载板的上表面设有若干放置槽，所述放置槽位于所述芯片载板的中轴线上，所述底座的横部上分别设有第一旋转电机和第二旋转电机，所述第一旋转电机和所述第二旋转电机相背的位于所述底座的横部两端，所述第一旋转电机的第一旋转轴贯穿所述底座的一个竖部并伸出所述底座的一个竖部外，伸出于所述底座的一个竖部外的所述第一旋转轴与所述第一从动辊之间设有第一张紧皮带，所述第二旋转电机的第二旋转轴贯穿所述底座的另一个竖部并伸出所述底座的另一个竖部外，伸出于所述底座的另一个竖部外的所述第二旋转轴与所述第一从动辊之间设有第二张紧皮带，所述传送带上设有测试机构，所述测试机构包括测试架，所述测试架为倒U型结构，所述测试架的一个竖部与所述第一侧板相连接，所述测试架的另一个竖部与所述第二侧板相连接，所述测试架的横部内设有控制模块，所述测试架的横部底侧居中的设有直线电机，所述直线电机的伸缩杆的端部连接测试头，所述测试头包括数据接收板，所述数据接收板内设有多路模拟选择开关，所述数据接收板的底部设有向内凹陷的连接母座，所述多路模拟选择开关与所述连接母座电性连接，所述多路模拟选择开关通过数据传输线与所述控制模块电性连接，所述数据接收板的底部连接集线板，所述集线板的底部设有若干测试探针，所述测试探针的位置和数量与待测芯片的引脚相对应，所述集线板的顶部设有连接公座，所述连接公座与所述连接母座相对应，所述集线板与所述数据接收板通过所述连接公座与所述连接母座相连接，所述测试探针与所述连接公座电性连接，所述测试探针通过所述多路模拟选择开关和所述数据传输线连接所述控制模块的输入端，所述控制模块的输出端分别连接所述第一旋转电机、所述第二旋转电机和所述直线电机，外部电源为系统提供工作电压。进一步的，所述第一旋转电机和所述第二旋转电机均选用RS-380SH型步进电机。进一步的，所述多路模拟选择开关选用16路模拟开关CD4067。进一步的，所述连接母座和所述连接公座均由碳纤维材料制成。进一步的，所述控制模块选用16位单片机MC95S12DJ128。(三)有益效果本技术提供了一种芯片的漏电流检测设备，将待测芯片正面朝下的放入芯片载板的放置槽内，芯片载板通过两侧的插块与挡边的插槽相连接，从而固定在传送带上与传送带一起运动，插块与插槽的安装连接方式非常便于拆装，省时省力，满足了不同型号芯片的测试需求，控制模块控制第一旋转电机和第二旋转电机同步工作，第一旋转电机和第二旋转电机分别通过第一张紧皮带和第二张紧皮带同时驱动第一从动辊转动，第一从动辊通过传送带带动第二从动辊跟随转动，从而使传送机构将待测芯片往测试机构方向传送，当待测芯片进入测试机构内时，直线电机将测试头放下，测试探针通过连接公座与数据接收板的连接母座相连接，从而使测试探针固定安装在数据接收板底部，连接公座和连接母座的安装连接方式也非常便于拆装，可用于更换对应待测芯片的测试探针，满足了不同型号芯片的测试需求，测试探针与待测芯片的引脚相连接，测得待测芯片的引脚的漏电流数据，漏电流数据经数据接收板内的多路模拟选择开关和数据传输线送入控制模块的A/D转换器进行处理，判定引脚的漏电流数据是否达标，从而判定待测芯片为良品或废品，以待后续工序对待测芯片进行分拣，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率，其结构简单，设计巧妙，检测精度高，响应速度快，稳定性和可靠性好，具有良好的实用性和可扩展性，可广泛的应用于芯片测试的其它场合。附图说明图1为本技术所涉及的一种芯片的漏电流检测设备的结构示意图。图2为本技术所涉及的一种芯片的漏电流检测设备的芯片载板与挡边的连接示意图。图3为本技术所涉及的一种芯片的漏电流检测设备的传送机构的正面结构示意图。图4为本技术所涉及的一种芯片的漏电流检测设备的测试机构的正面结构示意图。图5为本技术所涉及的一种芯片的漏电流检测设备的测试头的结构示意图。图6为本技术所涉及的一种芯片的漏电流检测设备的系统工作原理图。具体实施方式下面结合附图对本技术所涉及的实施例做进一步详细说明。结合图1～图6，一种芯片的漏电流检测设备，包括设备本体，设备本体包括底座1，底座1为U型结构，底座1的一个竖部上连接第一侧板2，底座1的另一个竖部上连接第二侧板3，第一侧板2和第二侧板3为水平相对，第一侧板2和第二侧板3之间设有传送机构，传送机构包括第一从动辊4和第二从动辊5，第一从动辊4的一端贯穿第一侧板2的一端并伸出第一侧板2外，第一从动辊4的另一端贯穿第二侧板3的一端并伸出第二侧板3外，第二从动辊5的一端贯穿第一侧板2的另一端并伸出第一侧板2外，第二从动辊5的另一端贯穿第二侧板3的另一端并伸出第二侧板3外，第一从动辊4和第二从动辊5之间设有传送带6，传送带6上设有一对挡边7，一对挡边7相对的位于传送带6的两侧，挡边7的内侧设有插槽8，一对挡边7之间设有芯片载板9，芯片载板9的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片的漏电流检测设备，包括设备本体，其特征在于：所述设备本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，所述第一从动辊的一端贯穿所述第一侧板的一端并伸出所述第一侧板外，所述第一从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的一端并伸出所述第二侧板外，所述第二从动辊的一端贯穿所述第一侧板的另一端并伸出所述第一侧板外，所述第二从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的另一端并伸出所述第二侧板外，所述第一从动辊和所述第二从动辊之间设有传送带，所述传送带上设有一对挡边，一对所述挡边相对的位于所述传送带的两侧，所述挡边的内侧设有插槽，一对所述挡边之间设有芯片载板，所述芯片载板的两侧设有插块，所述插块与所述插槽相对应，所述芯片载板与所述挡边通过所述插块与所述插槽相连接，所述芯片载板的上表面设有若干放置槽，所述放置槽位于所述芯片载板的中轴线上，所述底座的横部上分别设有第一旋转电机和第二旋转电机，所述第一旋转电机和所述第二旋转电机相背的位于所述底座的横部两端，所述第一旋转电机的第一旋转轴贯穿所述底座的一个竖部并伸出所述底座的一个竖部外，伸出于所述底座的一个竖部外的所述第一旋转轴与所述第一从动辊之间设有第一张紧皮带，所述第二旋转电机的第二旋转轴贯穿所述底座的另一个竖部并伸出所述底座的另一个竖部外，伸出于所述底座的另一个竖部外的所述第二旋转轴与所述第一从动辊之间设有第二张紧皮带，所述传送带上设有测试机构，所述测试机构包括测试架，所述测试架为倒U型结构，所述测试架的一个竖部与所述第一侧板相连接，所述测试架的另一个竖部与所述第二侧板相连接，所述测试架的横部内设有控制模块，所述测试架的横部底侧居中的设有直线电机，所述直线电机的伸缩杆的端部连接测试头，所述测试头包括数据接收板，所述数据接收板内设有多路模拟选择开关，所述数据接收板的底部设有向内凹陷的连接母座，所述多路模拟选择开关与所述连接母座电性连接，所述多路模拟选择开关通过数据传输线与所述控制模块电性连接，所述数据接收板的底部连接集线板，所述集线板的底部设有若干测试探针，所述测试探针的位置和数量与待测芯片的引脚相对应，所述集线板的顶部设有连接公座，所述连接公座与所述连接母座相对应，所述集线板与所述数据接收板通过所述连接公座与所述连接母座相连接，所述测试探针与所述连接公座电性连接，所述测试探针通过所述多路模拟选择开关和所述数据传输线连接所述控制模块的输入端，所述控制模块的输出端分别连接所述第一旋转电机、所述第二旋转电机和所述直线电机，外部电源为系统提供工作电压。...

【技术特征摘要】
1.一种芯片的漏电流检测设备，包括设备本体，其特征在于：所述设备本体包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述第一侧板和所述第二侧板之间设有传送机构，所述传送机构包括第一从动辊和第二从动辊，所述第一从动辊的一端贯穿所述第一侧板的一端并伸出所述第一侧板外，所述第一从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的一端并伸出所述第二侧板外，所述第二从动辊的一端贯穿所述第一侧板的另一端并伸出所述第一侧板外，所述第二从动辊的另一端贯穿所述第二侧板的另一端并伸出所述第二侧板外，所述第一从动辊和所述第二从动辊之间设有传送带，所述传送带上设有一对挡边，一对所述挡边相对的位于所述传送带的两侧，所述挡边的内侧设有插槽，一对所述挡边之间设有芯片载板，所述芯片载板的两侧设有插块，所述插块与所述插槽相对应，所述芯片载板与所述挡边通过所述插块与所述插槽相连接，所述芯片载板的上表面设有若干放置槽，所述放置槽位于所述芯片载板的中轴线上，所述底座的横部上分别设有第一旋转电机和第二旋转电机，所述第一旋转电机和所述第二旋转电机相背的位于所述底座的横部两端，所述第一旋转电机的第一旋转轴贯穿所述底座的一个竖部并伸出所述底座的一个竖部外，伸出于所述底座的一个竖部外的所述第一旋转轴与所述第一从动辊之间设有第一张紧皮带，所述第二旋转电机的第二旋转轴贯穿所述底座的另一个竖部并伸出所述底座的另一个竖部外，伸出于所述底座的另一个竖部外的所述第二旋转轴与所述第一从动辊之间设有第二张紧皮带，所述传送带上设有测试机构，所述测试机...

【专利技术属性】
技术研发人员：王淑琴，
申请(专利权)人：深圳市迪尔泰科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44