【技术实现步骤摘要】
一种XRD测试粉末样品前处理装置
本技术涉及XRD测试
,尤其涉及一种XRD测试粉末样品前处理装置。
技术介绍
X射线衍射法是目前测定晶体结构的重要手段,尤其是定量获得材料的微结构参数而言,准确获取反映材料结构特征的XRD谱图非常重要。粉末衍射仪要求样品试片的表面是十分平整的平面。试片装上样品台后其平面必须能与衍射仪轴重合,与聚焦圆相切。试片表面与真正平面的偏离(表面形状不规则、不平整、凸出或凹下、很毛糙等等)会引起衍射线的宽化、位移以及使强度产生复杂的变化,对光学厚度小的(即吸收大的)样品其影响更为严重。但是,制取平整表面的过程常常容易引起择优取向,而择优取向的存在会严重地影响衍射线强度的正确测量。实际实验中,当要求准确测量强度时,一般首先考虑如何避免择优取向的产生而不是追求平整度。通常采用的制作衍射仪试片的方法都很难避免在试片平面中导致表层晶粒有某种程度的择优取向。多数晶体是各向异性的,把它们的粉末压入样品框窗孔中很容易引起择优取向,尤其对那些容易解理成棒状、鳞片状小晶粒的样品,例如云母、黄色氧化铅、β-铝等,对于这类样品,采用普通的压入法制作试片,衍射强度测量的重现性很差,甚至会得到相对强度大小次序颠倒过来的衍射图谱。
技术实现思路
为解决
技术介绍
中存在的技术问题,本技术提出一种XRD测试粉末样品前处理装置。本技术提出的一种XRD测试粉末样品前处理装置,包括:压力传感平板玻璃、空心框样品架和光滑玻璃片;压力传感平板玻璃包括两个平板玻璃片和薄膜压力传感器,三者通过粘结形成平板玻璃片、薄膜压力传感器和平板玻璃片的三明治形式;压力传感平板玻璃设有显示器,显示 ...
【技术保护点】
1.一种XRD测试粉末样品前处理装置,其特征在于,包括:压力传感平板玻璃(1)、空心框样品架(2)和光滑玻璃片(3);压力传感平板玻璃(1)包括两个平板玻璃片(11)和薄膜压力传感器(12),三者通过粘结形成平板玻璃片(11)、薄膜压力传感器(12)和平板玻璃片(11)的三明治形式;压力传感平板玻璃(1)设有显示器,显示器与薄膜压力传感器(12)连接;空心框样品架(2)中部设有用于承载样品的空心通孔;在工作时,压力传感平板玻璃(1)水平放置于工作台上,将空心框样品架(2)水平放置于压力传感平板玻璃(1)上,将待测试粉末样品倒入空心通孔中,擀匀,用光滑玻璃片(3)以一定压力压制样品,通过显示器上显示的压力调整压制压力,将粉末压实,将装置倒置,取下平板玻璃片(11),等待测试。
【技术特征摘要】
1.一种XRD测试粉末样品前处理装置,其特征在于,包括:压力传感平板玻璃(1)、空心框样品架(2)和光滑玻璃片(3);压力传感平板玻璃(1)包括两个平板玻璃片(11)和薄膜压力传感器(12),三者通过粘结形成平板玻璃片(11)、薄膜压力传感器(12)和平板玻璃片(11)的三明治形式;压力传感平板玻璃(1)设有显示器,显示器与薄膜压力传感器(12)连接;空心框样品架(2)中部设有用于承载样品...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭圆圆,张浩,鲁扬,
申请(专利权)人:合肥国轩高科动力能源有限公司,
类型:新型
国别省市:安徽,34
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