一种小型透过率测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种小型透过率测量系统，该小型透过率测量系统包括光源、第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜、第二半透过半反射镜、第二椭球反光镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经所述第一半透过半反射镜和第一椭球反光镜反射准直平行光，该准直平行光经透射式样品透射后经所述第二椭球反光镜和第二半透过半反射镜会聚导入所述光谱仪进行分析。本实用新型专利技术将具有一定厚度的透明材料放置于第一半透过半反射镜和第二半透过半反射镜之间形成的准直平行光中测量其透过率时，能够避免了由于色差问题所带来透过率或吸收率的测量误差问题，提高了透明材料透过率测量的精确度。

【技术实现步骤摘要】
一种小型透过率测量系统
本技术涉及一种用于分析材料透过率的测量系统，具体涉及一种能够消除色差、便于操作的小型透过率测量系统，该系统可以广泛用于具有一定厚度的透明材料的透过率的测量分析之用。
技术介绍
目前，市场上测量带有一定厚度样品的透过率多采用如图1所示的测量支架，其中101是透射式样品，102是测试光的光纤准直器，103是传导测试光的光纤，104是透过光的光纤准直器，105是透过光的光纤，106是固定底座，107是光源，108是小型光纤光谱仪。光源107发出的测试光通过传导测试光的光纤103将测试光导入测试光的光纤准直器102，以准直平行光的形式射入透射式样品101，被透射式样品101吸收后成为透射光，该透射光经透过光的光纤准直器104耦合进入透过光的光纤105，透过光的光纤105将该透射光导入光纤光谱仪108便可以利用下列公式计算出样品101的透过率，T＝I2/I1其中I1是未放置透射式样品101时透过光的光纤105接收的光谱，I2是放置透射式样品101时透过光的光纤105接收的光谱。当具有一定厚度的透明材料放于该准直平行光中，测量其透过率时，因为常规透镜耦合所固有的色差问题而出现了色差所引起透过率的测量误差问题，这种误差随着透明材料的厚度增加而增加。这对于需要精确测量样品透过率的应用场景是不能使用的。
技术实现思路
为了克服上述现有技术存在的问题，本技术的主要目的在于提供一种能够消除色差、便于操作的小型透过率测量系统，该系统解决了常规透镜耦合所固有的色差问题，避免了因色差所引起的透过率的测量误差问题。为了实现上述目的，本技术具体采用以下技术方案：本技术提供了一种小型透过率测量系统，该小型透过率测量系统包括光源、第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜、第二半透过半反射镜、第二椭球反光镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经所述第一半透过半反射镜和第一椭球反光镜反射准直平行光，该准直平行光经透射式样品透射后经所述第二椭球反光镜和第二半透过半反射镜会聚导入所述光谱仪进行分析。优选地，还包括第一光纤，所述第一光纤设置于所述光源和第一半透过半反射镜之间的光路上，所述光源发出的光线通过所述第一光纤发射至所述第一半透过半反射镜。优选地，还包括第二光纤，所述第二光纤设置于所述第二半透过半反射镜和光谱仪之间的光路上，所述准直平行光经所述第二椭球反光镜聚焦后再经所述第二半透过半反射镜、第二光纤导入所述光谱仪。优选地，还包括第一CCD和第一CCD镜头，所述准直平行光依次经所述第二半透过半反射镜、第一CCD镜头成像于所述第一CCD。优选地，还包括第二CCD和第二CCD镜头，当将所述光源与所述第二光纤连接时，所述光源发出的光线依次经所述第二半透过半反射镜和第二椭球反光镜反射平行光，该平行光依次经所述第一半透过半反射镜、第二CCD镜头成像于所述第二CCD。优选地，还包括第三光纤，所述第三光纤的一端用于与光谱仪连接，所述准直平行光经反射式样品反射后经所述第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜及第三光纤导入所述光谱仪进行分析。优选地，所述反射式样品倾斜设置于所述准直平行光中。优选地，所述光谱仪为光纤光谱仪或旋转光栅式光谱仪或滤光片式光谱仪。优选地，所述光源为钨灯或氙灯或LED灯。优选地，所述透射式样品的吸收率a为：a＝1/(H×lnT)。其中，a为透射式样品的吸收率，T为透射式样品的透过率，H为透射式样品的厚度。相比于现有技术，本技术的小型透过率测量系统包括光源、第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜、第二半透过半反射镜、第二椭球反光镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经所述第一半透过半反射镜和第一椭球反光镜反射准直平行光，该准直平行光经透射式样品透射后经所述第二椭球反光镜和第二半透过半反射镜会聚导入所述光谱仪进行分析；在本技术中，将具有一定厚度的透明材料放置于第一半透过半反射镜和第二半透过半反射镜之间形成的准直平行光中测量其透过率时，能够避免了由于色差问题所带来透过率或吸收率的测量误差问题，提高了透明材料透过率测量的精确度。附图说明图1是现有透明材料透过率测量系统；图2是本发实施例1的小型透过率测量系统结构示意图，该图中包括第一CCD和第一CCD镜头；图3是本技术实施例1的小型透过率测量系统结构示意图，该图中包括第一CCD、第一CCD镜头、第二CCD和第二CCD镜头；图4是本技术实施例1的小型透过率测量系统结构示意图，该图中未带有测试样品；图5是本技术实施例1的小型透过率测量系统结构示意图，该图中带有测试样品；图6是采用本技术的小型透过率测量系统对QB2彩色玻璃进行透过率测量的测量结果曲线图；图7是本技术实施例2的小型透过率测量系统结构示意图。图中，101、透射式样品；102、测试光的光纤准直器；103、传导测试光的光纤；104、透过光的光纤准直器；105、透过光的光纤；106、固定底座；107、光源；108、光谱仪；201、第一光纤；202、第一半透过半反射镜；203、第一椭球反光镜；204、第一CCD镜头；205、第一CCD；206、第二半透过半反射镜；207、第二椭球反光镜；208、第二光纤；301、第二CCD镜头；302、第二CCD；601、反射式样品；602、第三光纤。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。实施例1如图2所示,本技术的实施例1公开了一种小型透过率测量系统，该系统包括光源107、第一光纤201、第一半透过半反射镜202、第一椭球反光镜203、第一CCD镜头204、第一CCD205(其中，CCD为电荷耦合器件，其英文全称为：charge-coupleddevice)、第二半透过半反射镜206、第二椭球反光镜207、第二光纤208和光谱仪108。其中，第一半透过半反射镜202按一定角度安放于第一光纤201的出射光路上，第二半透过半反射镜206按一定角度安放于第二光纤208的入射光路上。光源107发出的光线通过第一光纤201发射至第一半透过半反射镜202的反射部，被反射至第一椭球反光镜203，经第一椭球反光镜203的准直后，以准直平行光通过第一半透过半反射镜202的透射部射出，该准直平行光的其中一部分光线经第二半透过半反射镜206的前表面反射至第一CCD镜头204，再成像至第一CCD205。同时，该准直平行光的另一部分光线经第二半透过半反射镜206的透射部，射向第二椭球反光镜207,经第二椭球反光镜207的聚焦后射向第二半透过半反射镜206的反射部，再被反射会聚至第二光纤208,经第二光纤208被导入光谱仪108以完成相关测量。在本技术中，第一光纤201与第二光纤208是共轭关系；第一光纤201与第一CCD205也是共轭关系。第一CCD205用于将第一光纤201装调到第一椭球反光镜203的焦点上。以此保证在第一半透过半反射镜202和第二半透过半反射镜206之间形成准直平行光，该准直平行光用于测量具有一定厚度的透明材料的透过率。如图3所示，还包括第二CCD镜头301和第二CCD302。其中，第二光纤20本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种小型透过率测量系统，其特征在于，包括光源、第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜、第二半透过半反射镜、第二椭球反光镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经所述第一半透过半反射镜和第一椭球反光镜反射准直平行光，该准直平行光经透射式样品透射后经所述第二椭球反光镜和第二半透过半反射镜会聚导入所述光谱仪进行分析。

【技术特征摘要】
1.一种小型透过率测量系统，其特征在于，包括光源、第一半透过半反射镜、第一椭球反光镜、第二半透过半反射镜、第二椭球反光镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经所述第一半透过半反射镜和第一椭球反光镜反射准直平行光，该准直平行光经透射式样品透射后经所述第二椭球反光镜和第二半透过半反射镜会聚导入所述光谱仪进行分析。2.根据权利要求1所述的一种小型透过率测量系统，其特征在于，还包括第一光纤，所述第一光纤设置于所述光源和第一半透过半反射镜之间的光路上，所述光源发出的光线通过所述第一光纤发射至所述第一半透过半反射镜。3.根据权利要求2所述的一种小型透过率测量系统，其特征在于，还包括第二光纤，所述第二光纤设置于所述第二半透过半反射镜和光谱仪之间的光路上，所述准直平行光经所述第二椭球反光镜聚焦后再经所述第二半透过半反射镜、第二光纤导入所述光谱仪。4.根据权利要求3所述的一种小型透过率测量系统，其特征在于，还包括第一CCD和第一CCD镜头，所述准直平行光依次经所述第二半透过半反射镜、第一CCD镜头成像于所述第一CCD。5.根据权利要求4所述的一种小型透过率测量系统，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：苑高强，刘民玉，
申请(专利权)人：高利通科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44