用于光电测量装置的验证方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于光电测量装置的验证方法及装置。所述装置(100)包括：分度尺(1)，该分度尺具有沿测量方向(A)接连分布并且限定了不同代号序列的多个刻度(10)；以及面向所述分度尺(1)的读头(2)，该读头可沿所述测量方向(A)相对于所述分度尺(1)移动。所述方法验证所述读头(2)与所述分度尺(1)之间的布置是否是所需布置并且包括以下步骤：借助沿所述测量方向(A)间隔开的各个发射器(21、22)以交替的方式发射两束光束；根据所述两束光束确定所述头(2)的所述绝对位置；将所述两个绝对位置进行对比并且根据所述对比来确定这两个绝对位置是否正确。

Verification Method and Device for Photoelectric Measuring Device

The present invention relates to a verification method and device for photoelectric measuring device. The device (100) includes a scale (1), which has multiple scales (10) distributed in succession along the measuring direction (A) and defined different code sequences, and a reading head (2) oriented to the scale (1), which can move along the measuring direction (A) relative to the scale (1). The method verifies whether the arrangement between the reading head (2) and the dividing ruler (1) is required and includes the following steps: transmitting two beams alternately by means of each transmitter (21, 22) spaced along the measuring direction (A); determining the absolute position of the head (2) according to the two beams; comparing the two absolute positions and according to the pair. To determine whether these two absolute positions are correct.

【技术实现步骤摘要】
用于光电测量装置的验证方法及装置
本专利技术涉及用于光电测量装置的验证方法，尤其涉及用于验证绝对位置的确定是否正确的方法并且涉及绝对光电测量装置。
技术介绍
光电测量装置包括：分度尺，该分度尺具有标刻在分度尺中的多个刻度：以及面向分度尺的读头，该读头可沿平行于分度尺的测量方向相对于所述分度尺移动。读头包括朝分度尺发射光束的光发射器以及接收透过分度尺或者从分度尺反射的光的检测装置，还包括根据由检测装置接收的光确定分度尺与读头之间的位置的控制器。在绝对光电测量装置中，分度尺上的刻度以既定方式沿测量方向分布，使得刻度沿分度尺形成不同的代号序列，因而读头的绝对位置总能够被确定。专利文件US5754568A公开了此类型的装置，该装置更加肯定确定的绝对位置是正确的。所述装置的读头包括沿测量方向相互邻近的两个检测装置，从而这两个检测装置接收关于分度尺的不同代号的读数。这两个检测装置借助一系列对比确定所确定的位置是否正确。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供用于光电测量装置的验证方法以及相关装置。本专利技术的第一方面涉及用于光电测量装置的验证方法。光电测量装置包括：分度尺，该分度尺具有沿测量方向接连分布并且限定了不同代号序列的多个刻度；以及面向所述分度尺的读头，该读头可沿所述测量方向相对于所述分度尺移动并且包括至少一个检测装置。所述方法包括以下步骤：利用所述读头的第一光发射器朝所述分度尺发射第一光束并且在所述第一光束被从所述分度尺反射之后或者在所述第一光束透过所述分度尺之后根据由所述检测装置接收的所述光确定所述读头的绝对位置；随后利用沿所述测量方向与所述读头的所述第一光发射器隔开的第二光发射器朝所述分度尺发射第二光束，并且在所述第二光束被从所述分度尺反射之后或者在所述第二光束透过所述分度尺之后根据由所述检测装置接收的所述光确定所述读头的绝对位置；将两个确定的绝对位置相互对比；并且根据所述对比确定所述确定的绝对位置是否正确。因此，这是一种验证由所述装置确定的绝对位置是否正确的简单方式。而且，所述方法仅需要使用额外的低成本元件(光发射器)，该额外的低成本元件使得以有成本效益的并且同时简单的方式为装置增添额外的肯定性。本专利技术的第二方面涉及一种光电测量装置，该光电测量装置包括：分度尺，该分度尺具有沿测量方向接连分布并且限定了不同代号序列的多个刻度；以及面向所述分度尺的读头，该读头可沿所述测量方向相对于所述分度尺移动并且包括至少一个检测装置以及与所述检测装置通信的控制器。所述读头进一步包括至少两个光发射器，这些光发射器沿所述测量方向相互间隔开以利用各自的光束照射所述分度尺，所述检测装置适于并且构造成用于接收由两个所述光发射器发射的被所述分度尺反射之后或者透过所述分度尺之后的光。所述控制器构造成用于验证所述读头与所述分度尺之间的布置是否是所需布置，为此目的，所述控制器构造成用于使所述光发射器中的一者利用第一相应光束首先照射所述分度尺并且随后使另一光发射器利用第二相应光束照射所述分度尺，以根据所述检测装置接收的由两个光束产生的所述光来确定所述读头的所述绝对位置，将两个确定的绝对位置相互对比并根据所述对比的结果来确定所述确定的绝对位置是否正确。因此，因为两个光发射器相互间隔开，所以检测装置以有成本效益的并且容易实施的方式接收关于分度尺的不同区域(每个光发射器有一个区域)的光，借此进一步使得能够实施像例如本专利技术的第一方面所述的验证方法那样的验证方法。因此，优势类同于关于本专利技术的第一方面论述的那些优势。鉴于本专利技术的图以及详细描述，本专利技术的这些以及其他优势和特征将会显而易见。附图说明图1示意性地示出了本专利技术的装置的实施方式，该装置被构造成用于基于反射进行相应的对比，所述装置的分度尺被示出了一部分。图2a示出了图1的装置的关于所述装置的两个光发射器之间的既定分离距离的实施例，该图体现了产生的根据所述距离的参照值。图2b示出了图1的装置的关于所述装置的两个光发射器之间的另一既定分离距离的实施例，该图体现了产生的根据所述距离的参照值。图3示出了图1的装置的分度尺的局部平面图，该图示出了所述分度尺的若干不透明刻度。图4示出了图1的装置的读头的示意性仰视图。具体实施方式本专利技术的第一方面涉及用于诸如图1中所示的诸如光电测量装置之类的光电测量装置100的验证方法。装置100包括：分度尺1，该分度尺具有沿测量方向A接连分布并且限定不同代号序列的多个刻度10；以及面向分度尺1的读头2，该读头可沿测量方向A相对于所述分度尺1移动并且包括至少一个检测装置20。该方法验证读头2与分度尺1之间的相对布置是否是所需布置。如果是所需布置，则在装置100的正常操作过程中确定的绝对位置将是正确位置。所述方法包括以下步骤：利用第一光发射器21朝分度尺1发射第一光束并且在所述第一光束被从分度尺1反射(在适于基于反射进行对比的装置100中)之后或者在所述第一光束透过分度尺1(在适于基于透射进行对比的装置100中)之后根据由检测装置20接收的光来确定读头2的绝对位置；随后利用沿测量方向A与第一光发射器21间隔开的第二光发射器22朝向分度尺1发射第二光束，并且在所述第二光束被从分度尺1反射(在适于基于反射进行对比的装置100中)之后或者在所述第二光束透过分度尺1(在适于基于透射进行对比的装置100中)之后根据由检测装置20接收的光来确定读头2的绝对位置；将两个确定的绝对位置相互对比；并且根据所述对比来确定所确定的绝对位置是否正确。这些步骤按表明的顺序进行，并且根据需要可以仅实施一次或者循环实施。而且，该方法使得能在静止状况下实施，即，读头2相对于分度尺1静止，这更进一步简化了对比操作。无论如何，该方法也能在运动中实施，即，读头2相对于分度尺1移动，但是如果读头2在发射第一光束与发射第二光束之间的移动足够小，则能够预先确定出这一限制。在该方法中，两个确定的绝对位置之间的对比是通过从一个中减去另一个来进行的，并且将减法运算结果与根据在测量方向A上光发射器21与22两者之间的距离的储存值进行对比。因为光发射器21与22相互间隔开既定距离，所以由它们发射到分度尺1上的光束照射分度尺1的不同区域，从而每个示例中由检测装置20接收的光将造成确定不同绝对位置。如果一切都正确，并因此确定的绝对位置正确，则减法运算必定会与根据一个光发射器21与另一光发射器22分离的距离的储存值一致，从而通过将所述减法运算的结果与所述储存值对比，能够确定一切是否正确(绝对位置是否已经被正确地确定)。储存值对应这样的值，该值与测量方向A上两个光发射器21与22之间的分离距离有关，并且还与在垂直于测量方向A的方向上分度尺1与读头之间的期望距离DD有关。因为这两个距离是已知的，所以所述储存值被预先确定(自有的，例如)，从而储存在装置100中。图2a以及图2b示出了关于两种不同情形(关于两个光发射器21与22之间的不同分离距离D1与D2的两种情形)的两个实施例，图中示出了两个参照值VREF1与VREF2，这两个参照值表示每个示例中两个确定的绝对位置之间的差并且对应于两个不同的储存值。在装置100构造成用于测量线性移动的情况下(在该情况下，分度尺1是线性的)，优选将分度尺1的一端作为原点(从所述端开始计数)来确定相对于光发射器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于光电测量装置的验证方法，所述光电测量装置(100)包括：分度尺(1)，该分度尺具有沿测量方向(A)接连分布并且限定了不同代号序列的多个刻度(10)；以及面向所述分度尺(1)的读头(2)，该读头能够沿所述测量方向(A)相对于所述分度尺(1)移动并且包括至少一个检测装置(20)，所述方法验证所述光电测量装置(100)的所述读头(2)与所述分度尺(1)之间的布置是否是所需布置，其特征在于，所述方法包括以下步骤：利用所述读头(2)的第一光发射器(21)朝向所述分度尺(1)发射第一光束并且在所述第一光束被从所述分度尺(1)反射之后或者在所述第一光束透过所述分度尺(1)之后根据由所述检测装置(20)接收的光来确定所述读头(2)的绝对位置；随后利用所述读头(2)的沿所述测量方向(A)与所述第一光发射器(21)间隔开的第二光发射器(22)朝向所述分度尺(1)发射第二光束，并且在所述第二光束被从所述分度尺(1)反射之后或者在所述第二光束透过所述分度尺(1)之后根据由所述检测装置(20)接收的光来确定所述读头(2)的绝对位置；将两个确定的绝对位置相互对比；并且根据所述对比来确定所述确定的绝对位置是否正确。...

【技术特征摘要】
2017.08.01 EP 17382528.21.一种用于光电测量装置的验证方法，所述光电测量装置(100)包括：分度尺(1)，该分度尺具有沿测量方向(A)接连分布并且限定了不同代号序列的多个刻度(10)；以及面向所述分度尺(1)的读头(2)，该读头能够沿所述测量方向(A)相对于所述分度尺(1)移动并且包括至少一个检测装置(20)，所述方法验证所述光电测量装置(100)的所述读头(2)与所述分度尺(1)之间的布置是否是所需布置，其特征在于，所述方法包括以下步骤：利用所述读头(2)的第一光发射器(21)朝向所述分度尺(1)发射第一光束并且在所述第一光束被从所述分度尺(1)反射之后或者在所述第一光束透过所述分度尺(1)之后根据由所述检测装置(20)接收的光来确定所述读头(2)的绝对位置；随后利用所述读头(2)的沿所述测量方向(A)与所述第一光发射器(21)间隔开的第二光发射器(22)朝向所述分度尺(1)发射第二光束，并且在所述第二光束被从所述分度尺(1)反射之后或者在所述第二光束透过所述分度尺(1)之后根据由所述检测装置(20)接收的光来确定所述读头(2)的绝对位置；将两个确定的绝对位置相互对比；并且根据所述对比来确定所述确定的绝对位置是否正确。2.根据权利要求1所述的验证方法，其中，两个所述确定的绝对位置相减以将两个所述确定的绝对位置进行对比，减法运算结果进一步与所述光电测量装置(100)中的、和所述测量方向(A)上两个所述光发射器(21、22)之间的距离相关的储存值进行对比，并且如果所述减法运算结果等于所述储存值则确定出两个所述确定的绝对位置是正确的。3.根据权利要求1或2所述的验证方法，其中，如果所述分度尺(1)是线性的，则将所述分度尺(1)的一端作为原点确定关于光发射器(21)的所述绝对位置并且将所述分度尺(1)的相反端作为原点确定关于另一光发射器(22)的所述绝对位置，并且如果所述分度尺(1)是有角度的，则从既定参照点起沿角方向开始确定关于光发射器(21)的所述绝对位置并且从所述既定参照点起但沿相反的角方向开始确定关于另一光发射器(22)的所述绝对位置。4.根据权利要求1至3中任一项所述的验证方法，其中，在实施所述方法的过程中，在所述读头(2)相对于所述分度尺(1)静止的情况下进行所述实施。5.一种光电测量装置，该光电测量装置包括：分度尺(1)，该分度尺...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·C·乌拉·昌迪亚，帕布罗·德拉丰特·普拉多，O·马丁内斯托莱达诺·艾古罗拉，
申请(专利权)人：发格自动化股份合作有限公司，
类型：发明
国别省市：西班牙,ES