The present invention relates to a verification method and device for photoelectric measuring device. The device (100) includes a scale (1), which has multiple scales (10) distributed in succession along the measuring direction (A) and defined different code sequences, and a reading head (2) oriented to the scale (1), which can move along the measuring direction (A) relative to the scale (1). The method verifies whether the arrangement between the reading head (2) and the dividing ruler (1) is required and includes the following steps: transmitting two beams alternately by means of each transmitter (21, 22) spaced along the measuring direction (A); determining the absolute position of the head (2) according to the two beams; comparing the two absolute positions and according to the pair. To determine whether these two absolute positions are correct.
【技术实现步骤摘要】
用于光电测量装置的验证方法及装置
本专利技术涉及用于光电测量装置的验证方法,尤其涉及用于验证绝对位置的确定是否正确的方法并且涉及绝对光电测量装置。
技术介绍
光电测量装置包括:分度尺,该分度尺具有标刻在分度尺中的多个刻度:以及面向分度尺的读头,该读头可沿平行于分度尺的测量方向相对于所述分度尺移动。读头包括朝分度尺发射光束的光发射器以及接收透过分度尺或者从分度尺反射的光的检测装置,还包括根据由检测装置接收的光确定分度尺与读头之间的位置的控制器。在绝对光电测量装置中,分度尺上的刻度以既定方式沿测量方向分布,使得刻度沿分度尺形成不同的代号序列,因而读头的绝对位置总能够被确定。专利文件US5754568A公开了此类型的装置,该装置更加肯定确定的绝对位置是正确的。所述装置的读头包括沿测量方向相互邻近的两个检测装置,从而这两个检测装置接收关于分度尺的不同代号的读数。这两个检测装置借助一系列对比确定所确定的位置是否正确。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供用于光电测量装置的验证方法以及相关装置。本专利技术的第一方面涉及用于光电测量装置的验证方法。光电测量装置包括:分度尺,该分度尺具有沿测量方向接连分布并且限定了不同代号序列的多个刻度;以及面向所述分度尺的读头,该读头可沿所述测量方向相对于所述分度尺移动并且包括至少一个检测装置。所述方法包括以下步骤:利用所述读头的第一光发射器朝所述分度尺发射第一光束并且在所述第一光束被从所述分度尺反射之后或者在所述第一光束透过所述分度尺之后根据由所述检测装置接收的所述光确定所述读头的绝对位置;随后利用沿所述测量方向与所述读头的所述第一光发射 ...
【技术保护点】
1.一种用于光电测量装置的验证方法,所述光电测量装置(100)包括:分度尺(1),该分度尺具有沿测量方向(A)接连分布并且限定了不同代号序列的多个刻度(10);以及面向所述分度尺(1)的读头(2),该读头能够沿所述测量方向(A)相对于所述分度尺(1)移动并且包括至少一个检测装置(20),所述方法验证所述光电测量装置(100)的所述读头(2)与所述分度尺(1)之间的布置是否是所需布置,其特征在于,所述方法包括以下步骤:利用所述读头(2)的第一光发射器(21)朝向所述分度尺(1)发射第一光束并且在所述第一光束被从所述分度尺(1)反射之后或者在所述第一光束透过所述分度尺(1)之后根据由所述检测装置(20)接收的光来确定所述读头(2)的绝对位置;随后利用所述读头(2)的沿所述测量方向(A)与所述第一光发射器(21)间隔开的第二光发射器(22)朝向所述分度尺(1)发射第二光束,并且在所述第二光束被从所述分度尺(1)反射之后或者在所述第二光束透过所述分度尺(1)之后根据由所述检测装置(20)接收的光来确定所述读头(2)的绝对位置;将两个确定的绝对位置相互对比;并且根据所述对比来确定所述确定的绝对位 ...
【技术特征摘要】
2017.08.01 EP 17382528.21.一种用于光电测量装置的验证方法,所述光电测量装置(100)包括:分度尺(1),该分度尺具有沿测量方向(A)接连分布并且限定了不同代号序列的多个刻度(10);以及面向所述分度尺(1)的读头(2),该读头能够沿所述测量方向(A)相对于所述分度尺(1)移动并且包括至少一个检测装置(20),所述方法验证所述光电测量装置(100)的所述读头(2)与所述分度尺(1)之间的布置是否是所需布置,其特征在于,所述方法包括以下步骤:利用所述读头(2)的第一光发射器(21)朝向所述分度尺(1)发射第一光束并且在所述第一光束被从所述分度尺(1)反射之后或者在所述第一光束透过所述分度尺(1)之后根据由所述检测装置(20)接收的光来确定所述读头(2)的绝对位置;随后利用所述读头(2)的沿所述测量方向(A)与所述第一光发射器(21)间隔开的第二光发射器(22)朝向所述分度尺(1)发射第二光束,并且在所述第二光束被从所述分度尺(1)反射之后或者在所述第二光束透过所述分度尺(1)之后根据由所述检测装置(20)接收的光来确定所述读头(2)的绝对位置;将两个确定的绝对位置相互对比;并且根据所述对比来确定所述确定的绝对位置是否正确。2.根据权利要求1所述的验证方法,其中,两个所述确定的绝对位置相减以将两个所述确定的绝对位置进行对比,减法运算结果进一步与所述光电测量装置(100)中的、和所述测量方向(A)上两个所述光发射器(21、22)之间的距离相关的储存值进行对比,并且如果所述减法运算结果等于所述储存值则确定出两个所述确定的绝对位置是正确的。3.根据权利要求1或2所述的验证方法,其中,如果所述分度尺(1)是线性的,则将所述分度尺(1)的一端作为原点确定关于光发射器(21)的所述绝对位置并且将所述分度尺(1)的相反端作为原点确定关于另一光发射器(22)的所述绝对位置,并且如果所述分度尺(1)是有角度的,则从既定参照点起沿角方向开始确定关于光发射器(21)的所述绝对位置并且从所述既定参照点起但沿相反的角方向开始确定关于另一光发射器(22)的所述绝对位置。4.根据权利要求1至3中任一项所述的验证方法,其中,在实施所述方法的过程中,在所述读头(2)相对于所述分度尺(1)静止的情况下进行所述实施。5.一种光电测量装置,该光电测量装置包括:分度尺(1),该分度尺...
【专利技术属性】
技术研发人员:J·C·乌拉·昌迪亚,帕布罗·德拉丰特·普拉多,O·马丁内斯托莱达诺·艾古罗拉,
申请(专利权)人:发格自动化股份合作有限公司,
类型:发明
国别省市:西班牙,ES
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