用来处理薄膜的装置以及方法制造方法及图纸

本发明专利技术揭示一种涉及用来处理薄膜的装置。用来处理薄膜的装置包括：状态量测构件，拍摄薄膜的图像；状态确定构件，基于由状态量测构件拍摄的薄膜的图像来确定薄膜的位置状态；以及状态显示构件，基于由状态确定构件所确定的薄膜的位置状态，在薄膜上显示与薄膜的位置状态对应的标记。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用来处理薄膜的装置以及方法
各实施例涉及一种用来处理薄膜的装置以及一种处理薄膜的方法。更具体而言，各实施例涉及一种用来处理薄膜的装置，其量测并显示薄膜的状态并使得能够确定薄膜的状态。
技术介绍
光学薄膜一般是指用于制造例如液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)等显示装置的薄膜，且光学薄膜的实例可包括偏光薄膜、扩散薄膜、反射薄膜、棱镜薄膜等。作为一种光学薄膜的偏光薄膜是用于向液晶显示装置透射具有某一波长的光的光学元件。在一般偏光薄膜中，偏光器保护薄膜(例如，三乙酰纤维素(TriAcetylCellulose，TAC)薄膜)堆叠于可包含聚乙烯醇(PolyVinylAlcohol，PVA)的偏光器的一个表面或两个表面上，且偏光器可具有在其中黏着剂层、离型薄膜、表面保护薄膜、功能涂层等堆叠于偏光器保护薄膜上的多层式结构。此种多层式偏光薄膜一般制造成片形卷绕于滚筒上，且可根据用途切割并使用单独成片的偏光薄膜。在制造偏光薄膜的一般制程中，以碘或颜料对PVA薄膜进行染色，然后向PVA薄膜添加硼酸，将碘或颜料联接至PVA薄膜，并拉伸PVA薄膜。所述染色、联接及拉伸制程可分别或同时执行，且这些制程的次序可改变。在完成所述染色、联接及拉伸制程之后，将所制备的偏光器干燥，并将例如TAC等偏光器保护薄膜黏着至经干燥的偏光器的一个表面或两个表面以制备偏光板。在一般光学薄膜中，示出光学薄膜的状态的标记在制造光学薄膜期间可被删除或改变，且使用者可能无法识别光学薄膜的状态或可能无法明确对应于标记的缺陷的位置。因此，可能必须对薄膜状态进行复验，此极为不方便。此外，可能不容易根据薄膜的状态而明确指定在成品或半成品中的缺陷的存在，且在严苛的条件下对制造薄膜的制程进行控制以防止缺陷，此会降低薄膜制造制程的效率并增大薄膜的成本。在韩国专利公开案第2016-12441号(发表于2016年2月3日，专利技术名称：光学薄膜的制备方法、由所述相同方法制备的光学构件及光学薄膜以及包含其的偏光板及液晶显示器)中揭示了现有技术。
技术实现思路
技术挑战各实施例是有关于一种用来处理薄膜的装置以及一种处理薄膜的方法，其量测、确定并显示所述薄膜的状态。技术解决方案所述实施例可通过提供一种用来处理薄膜的装置而达成，所述装置包括：状态量测构件，拍摄薄膜的图像；状态确定构件，基于由状态量测构件拍摄的薄膜的图像来确定薄膜的位置状态；以及状态显示构件，基于由状态确定构件所确定的薄膜的位置状态，根据薄膜的位置状态来显示标记。状态量测构件可包括：光照射构件，向薄膜照射光；以及图像拍摄构件，接收被照射至薄膜的光并拍摄薄膜的图像。光照射构件可照射与薄膜的宽度方向平行的线性光。用来处理薄膜的装置可包括多个状态量测构件，且状态量测构件可沿薄膜的纵向方向对齐。状态量测构件可包括：第一状态量测构件，在第一状态量测构件中，第一光照射构件设置于薄膜的第一侧上且第一图像拍摄构件设置于薄膜的第二侧上；以及第二状态量测构件，在第二状态量测构件中，第二光照射构件设置于薄膜的第二侧上且第二图像拍摄构件设置于薄膜的第一侧上。状态显示构件可根据薄膜的位置状态而在薄膜的对应位置上显示标记。状态显示构件可包括显示构件，显示构件通过对薄膜喷射墨水而显示薄膜的状态。用来处理所述薄膜的装置可包括多个显示构件，且显示构件可沿所述薄膜的宽度方向对齐。显示构件可通过喷射多个喷墨点而显示薄膜的状态。状态显示构件可还包括：显示支撑构件，支撑显示构件；以及显示转移构件，连接至显示支撑构件并转移显示支撑构件。显示转移构件可包括：升降转移构件，连接至显示支撑构件并对显示支撑构件进行升降；以及旋转转移构件，对显示支撑构件进行旋转。状态确定构件可基于由状态量测构件所量测的薄膜的位置图像的灰度(gray)值是否处于参考灰度值范围内来确定薄膜的位置状态。状态确定构件可基于以下中的至少一者来确定薄膜的位置状态：其中薄膜的灰度值超出参考灰度值范围的缺陷区域的区域大小；缺陷区域的不圆度值；缺陷区域的宽度；或缺陷区域的长度。实施例可通过一种处理薄膜的方法而达成，所述方法包括：通过拍摄薄膜的图像来量测薄膜的状态；通过基于在薄膜的状态的量测中所量测的薄膜的图像对薄膜的位置状态进行分类来确定薄膜的状态；以及通过基于在薄膜的状态的确定中所确定的薄膜的位置状态而显示薄膜的位置状态的标记来显示薄膜的状态。量测薄膜的状态可包括由沿薄膜的纵向方向对齐的多个状态量测构件拍摄薄膜的图像。确定薄膜的状态可包括基于由量测所量测的薄膜的位置图像的灰度(gray)值是否处于参考灰度值范围内来确定薄膜的位置状态。确定薄膜的状态可包括基于以下中的至少一者来确定薄膜的位置状态：其中薄膜的灰度值超出参考灰度值范围的缺陷区域的区域大小；缺陷区域的不圆度值；缺陷区域的宽度；或缺陷区域的长度。显示薄膜的状态可包括根据薄膜的位置状态而在薄膜的对应位置上显示标记。本专利技术的效果用来处理薄膜的装置以及处理薄膜的方法量测薄膜的位置状态，并根据薄膜的所量测的状态在薄膜的对应地点上显示标记，此使得能够容易地检测薄膜的状态。附图说明图1说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的透视图；图2说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的前视图；图3说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的平面图；图4说明对在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的图像进行处理的制程；图5说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的缺陷区域的区域大小；图6说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的不圆度值；图7说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的缺陷区域的方向性；图8说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的缺陷区域的宽长比：图9说明根据实施例的标记；图10说明一种根据实施例的处理薄膜的方法。具体实施方式在下文中，将参照附图在以下更充分地阐述示例性实施例。在附图中，为说明清晰起见，可夸大各层及区的尺寸。在本说明书通篇中定义了各种用语，且除如在以下阐述的在具体情况下给出的特定描述或使用的上下文中以外，任意特定用语的意义还将在此整个文件的上下文中进行理解。图1说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的透视图。图2说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的前视图。图3说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的平面图。在实施方式中，参照图1至图3，根据实施例的用来处理薄膜的装置(1)可包括状态量测构件(100)、状态确定构件(200)以及状态显示构件(300)。用来处理薄膜的装置(1)可量测并确定薄膜(10)的状态，且可根据薄膜(10)的状态而在薄膜(10)的对应位置上显示标记(70)。在实施方式中，薄膜(10)可为用于制造例如液晶显示器(liquidcrystaldisplay，LCD)等显示装置的光学薄膜。薄膜(10)的实例可包括偏光薄膜、扩散薄膜、反射薄膜或棱镜薄膜等。举例而言，在被贴附至液晶显示面板之前，薄膜(10)可为用于液晶显示器的偏光薄膜。在本实施例中，状态量测构件(100)及状态确定构件(200)可各自量测及确定薄膜(10)的位置状态，且状态显示构件(300)可显示示出薄膜(10)的状态的标记(70)。因此，可在将薄膜(10)贴附至显示面板之前抑或甚至在将薄膜(10)贴附至显示面板之后轻易地检测出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用来处理薄膜的装置，包括：状态量测构件，拍摄所述薄膜的图像；状态确定构件，基于由所述状态量测构件拍摄的所述薄膜的所述图像来确定所述薄膜的位置状态；以及状态显示构件，基于由所述状态确定构件所确定的所述薄膜的所述位置状态，根据所述薄膜的所述位置状态来显示标记。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.06.08 KR 10-2016-00713441.一种用来处理薄膜的装置，包括：状态量测构件，拍摄所述薄膜的图像；状态确定构件，基于由所述状态量测构件拍摄的所述薄膜的所述图像来确定所述薄膜的位置状态；以及状态显示构件，基于由所述状态确定构件所确定的所述薄膜的所述位置状态，根据所述薄膜的所述位置状态来显示标记。2.根据权利要求1所述的装置，其中所述状态量测构件包括：光照射构件，向所述薄膜照射光；以及图像拍摄构件，接收被照射至所述薄膜的所述光并拍摄所述薄膜的图像。3.根据权利要求2所述用来处理薄膜的装置，其中所述光照射构件照射与所述薄膜的宽度方向平行的线性光。4.根据权利要求2所述用来处理薄膜的装置，其中所述用来处理薄膜的装置包括多个所述状态量测构件，且所述状态量测构件沿所述薄膜的纵向方向对齐。5.根据权利要求4所述用来处理薄膜的装置，其中所述状态量测构件包括：第一状态量测构件，在所述第一状态量测构件中，第一光照射构件设置于所述薄膜的第一侧上且第一图像拍摄构件设置于所述薄膜的第二侧上；以及第二状态量测构件，在所述第二状态量测构件中，第二光照射构件设置于所述薄膜的所述第二侧上且第二图像拍摄构件设置于所述薄膜的所述第一侧上。6.根据权利要求1所述用来处理薄膜的装置，其中所述状态显示构件根据所述薄膜的所述位置状态而在所述薄膜的对应位置上显示标记。7.根据权利要求1至6中任一项所述用来处理薄膜的装置，其中所述状态显示构件包括显示构件，所述显示构件通过对所述薄膜喷射墨水而显示所述薄膜的所述状态。8.根据权利要求7所述用来处理薄膜的装置，其中所述用来处理所述薄膜的装置包括多个所述显示构件，且所述显示构件沿所述薄膜的宽度方向对齐。9.根据权利要求7所述用来处理薄膜的装置，其中所述显示构件通过喷射多个喷墨点而显示所述薄膜的所述状态。10.根据权利要求7所述用来处理薄膜的装置，其中所述状态显示构件还包括：显示支撑构件，支撑所述显示构件；以及显示转移构件，连接至所述显示支撑构件...

【专利技术属性】
技术研发人员：许材承，金种浩，
申请(专利权)人：三星SDI株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR