玻璃基板应变测定方法以及玻璃基板应变测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供能够容易地载置玻璃基板，并且能够简单且迅速地测定玻璃基板的应变的程度的玻璃基板应变测定方法以及玻璃基板应变测定装置。该玻璃基板应变测定方法为在台架(20)上测定玻璃基板(G)的任意位置的应变的应变测定方法，其中，在所述台架(20)上的载置区域(P)将玻璃基板(G)载置于倾斜状态的载置台(30)，使所述倾斜状态的载置台(30)转动而成为水平状态，使该水平状态的所述载置台(30)滑动移动至所述台架(20)上的测定区域(M)，在所述测定区域(M)中经由所述载置台(30)所具有的开口部(31b)而向所述玻璃基板(G)照射激光从而测定应变。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】玻璃基板应变测定方法以及玻璃基板应变测定装置
本专利技术涉及玻璃基板应变测定方法以及玻璃基板应变测定装置的技术。
技术介绍
一般，在液晶显示装置、有机EL显示装置等平板显示器所使用的玻璃基板中，形成有细微的元件等，因此即使是微小的缺陷也需要防止。因此，对于上述玻璃基板，一直以来，利用缺陷反射光的情况，通过从端面导入光来进行有无缺陷的检查。另一方面，若平板显示器本身的外形尺寸变大，则图像的颜色不均成为问题。该图像的颜色不均是由于玻璃基板的应变而引起的，因此需要测定玻璃基板的应变。作为定量地测定玻璃基板的应变的方法，例如已知如下的方法：测定玻璃基板的多个位置的延迟(Retardation：由双折射产生的相位差)，根据该延迟的测定结果的倾向来进行判断(例如，参照“专利文献1”)。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特表2010-510519号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题在由所述“专利文献1”示出的测定方法中，若片状的玻璃基板的外形尺寸变大则玻璃基板容易挠曲，因此容易破损，因而难以将作为测定对象的玻璃基板载置于应变测定装置。另外，在由所述“专利文献1”示出的应变测定装置中，随着玻璃基板的外形尺寸变大，该玻璃基板所需的每张基板的测定时间变长，从而不适合作为用于向玻璃基板的生产工序反馈测定结果的检查装置而使用。即，在玻璃基板的应变超过允许范围的情况下，若花费的测定时间较长，则在该期间在玻璃基板的生产工序中持续制造不合格品，从而损失变大。因此，希望有能够容易地载置玻璃基板，并且能够简单且迅速地测定玻璃基板的应变的程度的装置。本专利技术是鉴于以上所示的现状的问题点而完成的，其目的在于提供能够容易地载置玻璃基板，并且能够简单且迅速地测定玻璃基板的应变的程度的玻璃基板应变测定方法以及玻璃基板应变测定装置。用于解决课题的方案本专利技术所要解决的课题如上所述，接下来，对用于解决该课题的方案进行说明。即，本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定方法其为在台架上测定玻璃基板的任意位置的应变的应变测定方法，其特征在于，在所述台架上的载置区域将玻璃基板载置于倾斜状态的载置台，使所述倾斜状态的载置台转动而成为水平状态，使所述水平状态的所述载置台滑动移动至所述台架上的测定区域，在所述测定区域中经由所述载置台所具有的开口部而向所述玻璃基板照射激光从而测定应变。这样，在本专利技术的玻璃基板应变测定方法中，在将玻璃基板载置于倾斜状态的载置台后，使载置台转动而成为水平状态，对水平状态的玻璃基板照射激光从而测定应变。这样一来，能够将玻璃基板容易地载置于载置台，从而能够简单并且迅速地测定玻璃基板的应变的程度。进而，由于能够简单且迅速地测定玻璃基板的应变的程度，因此例如在制造玻璃基板时，能够较早地向制造工序进行测定结果的反馈，能够实现玻璃基板的品质以及成品率的提高。另外，在本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定方法中，优选为，所述激光一边移动一边向所述玻璃基板照射。根据这种玻璃基板应变测定方法，能够一边使所述激光移动，一边测定玻璃基板的任意位置的应变。另外，在本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定方法中，优选为，在将所述玻璃基板载置于所述载置台时，通过承接部来支承所述玻璃基板的一端，所述承接部在应变测定时向远离所述玻璃基板的方向移动。根据这种玻璃基板应变测定方法，所述承接部在应变测定时从所述玻璃基板分离，因此不会对所述玻璃基板的端面施加多余的力，能够准确地进行应变测定。另外，在本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定方法中，优选为，所述承接部在与所述载置台对置的面具有凹凸部，所述载置台在与所述承接部对置的面具有供所述凹凸部卡合的槽部，所述承接部能够在将所述凹凸部的凸部卡合于所述槽部的状态下根据所述玻璃基板的外形尺寸而移动。根据这种玻璃基板应变测定方法，即使在所述承接部与所述载置台之间产生间隙的情况下，由于所述凹凸部的凸部与所述槽部卡合，因此也能够防止玻璃基板进入该间隙。另外，即使在玻璃基板的外形尺寸变更的情况下，也能够使承接部移动来进行应对。进而，能够使承接部适当移动从而调整玻璃基板中的应变测定的测定位置。另外，在本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定方法中，优选为，在所述开口部连接设置有所述槽部，所述槽部的宽度尺寸小于所述开口部的最大尺寸。根据这种玻璃基板应变测定方法，所述凹凸部的凸部还能够在开口部中移动，从而在所述玻璃基板的外形尺寸变更时能够在更大范围内应对该变更。另外，本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定装置其为测定玻璃基板的任意位置的应变的应变测定装置，其特征在于，所述玻璃基板应变测定装置具备：台架，其具有载置所述玻璃基板的载置区域和进行所述玻璃基板的应变测定的测定区域；载置台，其保持于所述台架并且供所述玻璃基板载置；以及应变测定部，其设置于所述测定区域，并向水平状态的所述玻璃基板照射激光从而测定应变，所述台架具有滑动机构，该滑动机构能够使所述载置台在所述载置区域与所述测定区域之间沿着水平方向滑动移动，所述滑动机构在一端具有将所述载置台支承为转动自如的转动轴，所述载置台构成为能够在所述载置区域中通过所述转动轴而转动为倾斜状态或者水平状态，所述载置台具有使所述激光通过的开口部。在由这种结构构成的玻璃基板应变测定装置中，在将玻璃基板载置于倾斜状态的载置台后，使载置台转动而成为水平状态，对水平状态的玻璃基板照射激光从而测定应变。这样一来，能够将玻璃基板容易地载置于载置台，能够简单并且迅速地测定玻璃基板的应变的程度。进而，由于能够简单且迅速地测定玻璃基板的应变的程度，因此例如在制造玻璃基板时，能够较早地向制造工序进行测定结果的反馈，能够实现玻璃基板的品质以及成品率的提高。另外，在本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定装置中，优选为，所述载置台具有在将所述玻璃基板载置于倾斜状态的载置台时支承所述玻璃基板的一端的承接部，所述承接部能够沿着相对于所述载置台的载置面平行的方向移动。根据这种玻璃基板应变测定装置，通过使所述承接部在应变测定时向远离所述玻璃基板的方向移动，不会对所述玻璃基板的端面施加多余的力，能够准确地进行应变测定。另外，在本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定装置中，优选为，所述承接部在与所述载置台对置的面具有凹凸部，所述载置台在与所述承接部对置的面具有供所述凹凸部卡合的槽部，所述承接部能够在将所述凹凸部的凸部卡合于所述槽部的状态下沿着相对于所述载置台的载置面平行的方向移动。根据这种玻璃基板应变测定装置，即使在所述承接部与所述载置台之间产生间隙的情况下，由于所述凹凸部的凸部与所述槽部卡合，因此也能够防止所述玻璃基板进入该间隙。另外，即使在玻璃基板的外形尺寸变更的情况下，也能够使承接部移动来进行应对。进而，能够使承接部适当移动从而调整玻璃基板中的应变测定的测定位置。另外，在本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定装置中，优选为，在所述开口部连接设置有所述槽部，所述槽部的宽度尺寸小于所述开口部的最大尺寸。根据这种玻璃基板应变测定装置，所述凹凸部的凸部能够在所述槽部中移动，从而在所述玻璃基板的外形尺寸变更时能够在更大范围内应对该变更。专利技术效果本专利技术起到以下所示的效果。即，根据本专利技术所涉及的玻璃基板应变测定方法以及玻璃基板应变测定装置，能够容易地载置玻璃基板，并且能够简单且迅速地测定玻璃基板的应变的程度。进而，由于能够简单且本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种玻璃基板应变测定方法，其为在台架上测定玻璃基板的任意位置的应变的应变测定方法，其特征在于，在所述台架上的载置区域将玻璃基板载置于倾斜状态的载置台，使所述倾斜状态的载置台转动而成为水平状态，使所述水平状态的所述载置台滑动移动至所述台架上的测定区域，在所述测定区域中经由所述载置台所具有的开口部而向所述玻璃基板照射激光从而测定应变。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.06.23 JP 2016-1248501.一种玻璃基板应变测定方法，其为在台架上测定玻璃基板的任意位置的应变的应变测定方法，其特征在于，在所述台架上的载置区域将玻璃基板载置于倾斜状态的载置台，使所述倾斜状态的载置台转动而成为水平状态，使所述水平状态的所述载置台滑动移动至所述台架上的测定区域，在所述测定区域中经由所述载置台所具有的开口部而向所述玻璃基板照射激光从而测定应变。2.根据权利要求1所述的玻璃基板应变测定方法，其特征在于，所述激光一边移动一边向所述玻璃基板照射。3.根据权利要求1或2所述的玻璃基板应变测定方法，其特征在于，在将所述玻璃基板载置于所述载置台时，通过承接部来支承所述玻璃基板的一端，所述承接部在应变测定时向远离所述玻璃基板的方向移动。4.根据权利要求3所述的玻璃基板应变测定方法，其特征在于，所述承接部在与所述载置台对置的面具有凹凸部，所述载置台在与所述承接部对置的面具有供所述凹凸部卡合的槽部，所述承接部能够在将所述凹凸部的凸部卡合于所述槽部的状态下根据所述玻璃基板的外形尺寸而移动。5.根据权利要求4所述的玻璃基板应变测定方法，其特征在于，在所述开口部连接设置有所述槽部，所述槽部的宽度尺寸小于所述开口部的最大尺寸。6.一种玻璃基板应变测定装置，其为测定玻璃基板的任...

【专利技术属性】
技术研发人员：大田正博，井上肇，高桥忠，西川佳范，
申请(专利权)人：日本电气硝子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP