一种适用于放射性样品的检测装置制造方法及图纸

技术编号:20271104 阅读:27 留言:0更新日期:2019-02-02 03:10
本发明专利技术涉及一种适用于放射性样品的检测装置,包括探测器和支架,所述支架至少包括:管体、限位部、盖板、拉杆和样品槽,所述管体至少为有机玻璃层和钨合金层构成的双结构层,所述有机玻璃层套结于所述有钨合金层之外,所述有机玻璃层外壁设有沿所述管体轴向方向的标尺,所述限位部套接于所述管体外壁,本发明专利技术管体具有的钨合金层结构有效的屏蔽外在干扰并同时保护了测量过程中样品产生的放射性对工作人员的伤害,同时通过位于管体外侧的标尺,还实现了待测样品与探测器探头相对位置精确可调的功能,能够满足放射性测量过程中不同介质和不同位置与实际测量紧密结合的精确效率刻度等更多需求。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于放射性样品的检测装置本专利技术是申请号为201610948413.1,申请日为2016年10月26日,申请类型为专利技术,申请名称为一种现场快速测量环境样品的固定支架的分案申请。
本专利技术涉及放射性样品检测领域,尤其涉及一种适用于放射性样品的检测装置。
技术介绍
随着核与辐射技术的飞速发展,核事故的发生也越来越多,特别是日本广岛和长崎原子弹爆炸、前苏联切尔诺贝利核事故与日本福岛核电事故等,导致大量放射性核素释放到环境中,通过大气环流等途径使某些人工放射性物质遍布全球环境中,因而环境中放射性物质对人类的危害正在引起人们越来越多的重视。γ能谱测量是最为成熟的核分析方法之一,目前,除在地面应用以外,γ能谱测量技术可被应用于航空测量、井下测量,形成了航空γ能谱测量技术、γ能谱测井技术。由于γ射线含有特征核素的重要信息,因此γ射线的能谱测量技术是核辐射探测的一项重要工作之一。在核物理研究中,测量原子核激发能级、研究核衰变纲图、测定短的核寿命、进行核反应实验等都离不开γ射线的测量。在放射性分析方面,如进行矿石放射性分析、测定堆燃料元件的燃耗、建筑材料的天然放射性分析、中子活化分析等都是基于γ射线照射量率和能量的测量。在放射性同位素的工业、农业,医疗和科学研究的各种应用中也经常使用γ射线和要求进行γ射线照射量率和能量的各种测量。在实际测量中,γ射线照射量率的测量实际上是测定某一特定能量的γ射线或者某特定能量区间内的γ射线照射量率。γ能谱法作为环境中放射性物质含量测量最为常用的方法,其主要优点是对样品不需要做复杂的处理,可直接使用实验室γ能谱仪测量环境样品中放射性物质的含量,根据标准效率刻度曲线,计算得到环境样品中放射性核素的活度浓度。现有技术的缺点是:目前环境样品测量的方法主要是通过把样品采集回实验室,然后进行样品预处理等流程,最后进行装样测量,尚无成熟、精确的现场快速γ能谱分析方法标准,因此,无法很好满足对现场采集的各类环境样品进行快速准确高灵敏的定量分析。或者在现场测量环境样品中放射性核素时,先将样品装入圆柱形样品盒中,放置在探测器表面进行测量,然后对环境样品进行γ能谱分析,最终计算环境样品中放射性核素的含量。但是由于,目前宽能探测器探头铍窗特别薄,其厚度多为10-4m量级,在测量过程中很容易损坏探测器探头。更为重要的是,现场γ能谱不配备固定样品得支架,每次测量位置的重复性也不能得到保证,从而大大增加了测量误差或不确定度。因此,本专利技术设计了一种专用于测量基于圆柱形样品盒的环境样品的支架,借助于铅室或探头侧壁的支撑作用辅助探测器进行环境样品放射性的现场精确测量。
技术实现思路
针对现有技术之不足,本专利技术提供了一种现场快速测量环境样品的固定支架,所述支架至少包括:管体、底板、限位部、盖板、拉杆和样品槽,所述支架轮廓为杯状结构,由管体和限位部构成了圆柱形杯壁,由盖板和拉杆构成杯座;所述管体套接于探测器的探头之外,所述管体远离所述盖板的端面与电子学部探头端的端面接触,所述支架通过调节限位部使得限位部与制冷部前端面接触,并继续沿着探测器的方向移动限位部,使得支架沿着背离探测器的方向移动,其移动距离通过位于所述管体外壁上的标尺读出;其中所述管体至少为有机玻璃层和钨合金层构成的双结构层,所述有机玻璃层套接于所述钨合金层之外,所述有机玻璃层外壁具有设有沿所述管体轴向方向的标尺,所述限位部套接于所述管体外壁;所述管体在沿远离所述盖板的方向上所述有机玻璃层厚度增加,所述钨合金层厚度减小,所述有机玻璃层与所述钨合金层的在沿所述管体轴向方向上的截面为直角三角形和/或直角梯形,所述有机玻璃层与所述钨合金层接触面为锥面,所述有机玻璃层与所述钨合金层共同构成圆柱形管体;所述有机玻璃层与所述钨合金层接触锥面在轴向方向与所述管体中心线的夹角为30°~90°,所述底板上设有的圆柱形凹槽的边缘距所述管体的内壁的距离大于所述钨合金层的最大厚度。根据一个优选的实施方式,所述管体中所述钨合金层通过螺纹与所述有机玻璃层咬合连接,其中所述钨合金层厚度为0~6mm;所述管体外壁设有沿轴向方向上的标尺,所述标尺零点位于靠近所述盖板一端的端口。根据一个优选的实施方式,所述管体形成的样品槽的深度值大于等于探头的长度值与用于盛放环境样品的样品盒的高度值之和,所述管体直径略大于探头的直径,其差值为0.5~1mm。根据一个优选的实施方式,所述限位部的长度值小于探头的长度值,所述限位部的长度值大于电子学部的厚度值。根据一个优选的实施方式,所述管体中轴线垂直于所述盖板,所述限位部为圆柱形管状结构,其中所述管体外壁具有外螺纹,所述限位部内壁具有内螺纹,所述限位部基于螺纹咬合关系套接于所述管体外壁,所述限位部中轴线与所述管体中轴线重合,所述限位部中轴线垂直于所述盖板。根据一个优选的实施方式,所述底板位于管体内,所述底板为圆盘状结构,所述底板与所述管体共同构成了样品槽;所述底板朝向所述样品槽的端面设有至少一级的阶梯状的圆柱形凹槽,所述凹槽越靠近盖板其直径越小,不同级阶梯凹槽的不同直径对应于用于盛放待测放射性样品的样品盒直径,所述底板的材质为有机玻璃或钨合金中的至少一种;所述底板圆盘中轴线与管体中轴线重合,所述底板与管体和盖板刚性连接。根据一个优选的实施方式,所述拉杆为圆柱形结构,所述拉杆与盖板第二端面相连,所述拉杆与盖板同轴。根据一个优选的实施方式,所述拉杆上设有在拉杆径向方向上截面为正方形的环形凹槽。根据一个优选的实施方式,所述拉杆上设有在拉杆径向方向上截面为矩形的至少一道环形凹槽。根据一个优选的实施方式,所述管体形成的样品槽的深度值大于等于探头的长度值与用于盛放环境样品的样品盒的高度值之和,所述管体直径略大于探头的直径,其差值为0.5~1mm;所述底板位于管体内,所述底板为圆盘状结构,所述底板与所述管体共同构成了样品槽,所述底板朝向所述样品槽的端面设有至少一级的阶梯状的圆柱形凹槽,所述凹槽越靠近盖板其直径越小,不同级阶梯凹槽的不同直径对应于用于盛放待测放射性样品的样品盒直径,所述底板的材质为有机玻璃或钨合金中的至少一种;所述限位部为圆柱形管状结构,其中所述管体外壁具有外螺纹,所述限位部内壁具有内螺纹,所述限位部基于螺纹咬合关系套接于所述管体外壁,所述限位部中轴线与所述管体中轴线重合,所述限位部中轴线垂直于所述盖板,所述限位部的长度值小于探头的长度值,所述限位部的长度值大于电子学部的厚度值;所述盖板为圆柱形圆盘结构,所述盖板圆盘端面包括第一端面与第二端面,所述第一端面与管体和底板相连,所述第二端面与拉杆相连,所述盖板与管体、底板和限位部同轴;所述拉杆为圆柱形结构,所述拉杆与盖板第二端面相连,所述拉杆与盖板同轴,所述拉杆上设有在拉杆径向方向上截面为矩形的至少一道环形凹槽。本专利技术具有以下优点:(1)本专利技术现场快速测量环境样品的固定支架其管体具有的钨合金层结构不仅有效的屏蔽了在现场测量过程中周围环境中的天然放射性物质或天然本底对测量造成的影响,同时,所述钨合金层材料也对待测放射性样品起到了屏蔽作用,避免对测量人员可能造成的放射性伤害。同时通过位于管体外侧的标尺,还实现了待测样品与探测器探头相对位置精确可调的功能,能够满足放射性测量过程中位置要求极高的与实际测量需求直接相关的效本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种适用于放射性样品的检测装置,包括探测器(8)和支架,所述支架至少包括:管体(1)、底板(2)、限位部(3)、盖板(4)、拉杆(5)和样品槽(7),其特征在于,其中所述管体(1)至少为有机玻璃层和钨合金层构成的双结构层,所述有机玻璃层套接于所述钨合金层之外,所述有机玻璃层外壁设有沿所述管体(1)轴向方向的标尺,所述限位部(3)套接于所述管体(1)外壁;所述管体(1)在沿远离所述盖板(4)的方向上所述有机玻璃层厚度增加,所述钨合金层厚度减小,所述有机玻璃层与所述钨合金层的在沿所述管体(1)轴向方向上的截面为直角三角形和/或直角梯形,所述有机玻璃层与所述钨合金层接触面为锥面,所述有机玻璃层与所述钨合金层共同构成圆柱形管体(1);所述盖板(4)为圆柱形圆盘结构,所述盖板(4)圆盘端面包括第一端面与第二端面,所述第一端面与管体(1)和底板(2)相连,所述第二端面与拉杆(5)相连,所述底板(2)位于管体(1)内,所述底板(2)为圆盘状结构,所述底板(2)与所述管体(1)共同构成了样品槽(7)。

【技术特征摘要】
1.一种适用于放射性样品的检测装置,包括探测器(8)和支架,所述支架至少包括:管体(1)、底板(2)、限位部(3)、盖板(4)、拉杆(5)和样品槽(7),其特征在于,其中所述管体(1)至少为有机玻璃层和钨合金层构成的双结构层,所述有机玻璃层套接于所述钨合金层之外,所述有机玻璃层外壁设有沿所述管体(1)轴向方向的标尺,所述限位部(3)套接于所述管体(1)外壁;所述管体(1)在沿远离所述盖板(4)的方向上所述有机玻璃层厚度增加,所述钨合金层厚度减小,所述有机玻璃层与所述钨合金层的在沿所述管体(1)轴向方向上的截面为直角三角形和/或直角梯形,所述有机玻璃层与所述钨合金层接触面为锥面,所述有机玻璃层与所述钨合金层共同构成圆柱形管体(1);所述盖板(4)为圆柱形圆盘结构,所述盖板(4)圆盘端面包括第一端面与第二端面,所述第一端面与管体(1)和底板(2)相连,所述第二端面与拉杆(5)相连,所述底板(2)位于管体(1)内,所述底板(2)为圆盘状结构,所述底板(2)与所述管体(1)共同构成了样品槽(7)。2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述有机玻璃层与所述钨合金层接触锥面在所述管体(1)轴向方向与所述管体(1)中心线的夹角为30~90°,所述底板(2)上设有的圆柱形凹槽的边缘距所述管体(1)的内壁的距离大于所述钨合金层的最大厚度。3.如权利要求1或2所述的检测装置,其特征在于,所述支架轮廓为杯状结构,由管体(1)和限位部(3)构成了圆柱形杯壁,由盖板(4)和拉杆(5)构成杯座;所述管体(1)套接于探测器(8)的探头(11)之外,所述管体(1)远离所述盖板(4)的端面与电子学部(10)探头端的端面接触,所述支架通过调节限位部(3)使得限位部(3)与制冷部前端面(9)接触,并继续沿着探测器(8)的方向移动限位部(3),使得支架沿着背离探测器(8)的方向移动,其移动距离通过位于所述管体(1)外壁上的标尺读出。4.如权利要求1或2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:周强拓飞张京李则书
申请(专利权)人:中国疾病预防控制中心辐射防护与核安全医学所
类型:发明
国别省市:北京,11

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