智控荧光测厚仪制造技术

本实用新型专利技术公开一智控荧光测厚仪，包括：滤光组件，发光组件，接收组件，控制组件以及联通组件；所述发光组件以及所述接收组件设置于所述滤光组件的同一侧，所述滤光组件上形成发光透射区域以及接收过滤区域，所述滤光组件上形成一可相对于所述滤光组件旋转的旋转盘，以及至少两设置于所述旋转盘上的滤光元件；所述控制组件通过所述联通组件通信连接所述滤光组件，所述发光组件以及所述接收组件，调整所述旋转盘的转动，所述荧光测厚仪的性能参数根据实际需求进行调整，从而使得所述荧光测厚仪可适用于更多场景的应用。

【技术实现步骤摘要】
智控荧光测厚仪
本技术涉及测量仪器，特别涉及一智控荧光测厚仪。
技术介绍
荧光测厚仪，是通过荧光的特性来测量材料涂/镀层的一种测量仪器，可被应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析，特别是在测量材料镀层的厚度时有非常重要的应用。具体而言，为了改变产品表面的特性而提高产品的实用性，许多工业产品的表面都会均匀地镀上一层薄膜，而镀层膜的厚度以及均匀性又极大程度地影响着产品的品质性能，所以就需要荧光测厚仪来精准地无损地检测镀层膜的厚度。针对不同的镀层膜需要采用不同射线参数的荧光测厚仪。也就是说，目前市面上的荧光测厚仪大多为单一参数性能，每一荧光测厚仪只能发射一定参数范围内的射线，从而适用某一类镀层膜的测量。当需要测量多种镀层膜时，操作人员就需要多台不同性能参数的荧光测厚仪，这样不仅造成设备成本的增加，同时也增加了测量过程的繁琐。另外，当荧光测厚仪发出的射线抵达产品表面时，产品表面本身可能会反射射线，这种情况下荧光测厚仪测得的数据会受到影响，从而影响荧光测厚仪的测量精度。
技术实现思路
本技术的目的在于一智控荧光测厚仪，其中所述荧光测厚仪包括控制组件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.智控荧光测厚仪，其特征在于，包括：滤光组件，发光组件，接收组件，控制组件以及联通组件；所述发光组件以及所述接收组件设置于所述滤光组件的同一侧，所述滤光组件上形成发光透射区域以及接收过滤区域，其中所述发光组件对应所述发光透射区域设置，所述接收组件对应所述接收过滤区域设置，其中所述接收过滤区域上形成一可相对于所述滤光组件旋转的旋转盘，以及至少两设置于所述旋转盘上的滤光元件；所述控制组件通过所述联通组件通信连接所述滤光组件，所述发光组件以及所述接收组件，调整所述旋转盘的转动。

【技术特征摘要】
1.智控荧光测厚仪，其特征在于，包括：滤光组件，发光组件，接收组件，控制组件以及联通组件；所述发光组件以及所述接收组件设置于所述滤光组件的同一侧，所述滤光组件上形成发光透射区域以及接收过滤区域，其中所述发光组件对应所述发光透射区域设置，所述接收组件对应所述接收过滤区域设置，其中所述接收过滤区域上形成一可相对于所述滤光组件旋转的旋转盘，以及至少两设置于所述旋转盘上的滤光元件；所述控制组件通过所述联通组件通信连接所述滤光组件，所述发光组件以及所述接收组件，调整所述旋转盘的转动。2.根据权利要求1所述的智控荧光测厚仪，其特征在于，所述旋转盘上有一过滤区域，所述过滤区域对应所述接收组件设置，所述旋转盘上的所述滤光元件通过所述控制组件的控制被旋转至所述过滤区域。3.根据权利要求2所述的智控荧光测厚仪，其特征在于，多个滤光元件彼此之间具有不同的性能参数，其中所述性能参数包括但不限于滤光元件的尺寸参数以及滤光参数。4.根据权利要求3所述的智控荧光测厚仪，其特征在于，所述滤光组件上向上凸起一转轴，所述旋转盘上形成旋转开口，所述旋转盘通过所述转轴以及所述旋转开口的配合可旋转地置于所述滤光组件上。5.根据权利要求4所述的智控荧光测厚仪，...

【专利技术属性】
技术研发人员：约瑟夫·查纳勒，
申请(专利权)人：科文特亚环保电镀技术江苏有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32