一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法。包括用于电离空气的电离模块和用于测量的测量模块。电离模块包括电离区域和高压放电针，测量模块包括带电的石英晶片和滤膜，还包括测量石英晶片谐振频率的频率测量装置和测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。电离模块与测量模块连接，使颗粒物电离后能附着于用作集尘极的石英晶片中，并利用采集的数据计算出沉降效率，为最佳电极参数的确定提供了数据基础。

A Settlement Quality Measuring Device for Particulate Matter and Its Settlement Efficiency Detection Method

The invention discloses a particle sedimentation quality measuring device and a sedimentation efficiency detecting method thereof. It includes an ionization module for ionized air and a measurement module for measurement. The ionization module includes ionization area and high voltage discharge needle. The measurement module includes charged quartz wafer and filter membrane. It also includes frequency measurement device for measuring resonant frequency of quartz wafer and quality detection device for measuring particulate matter quality in filter membrane. The ionization module is connected with the measurement module, so that the particles can be attached to the quartz wafer used as dust collector after ionization, and the sedimentation efficiency can be calculated by using the collected data, which provides the data basis for the determination of the optimal electrode parameters.

【技术实现步骤摘要】
一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法
本专利技术涉及环保检测
，特别是一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法。
技术介绍
目前，人们对空气质量的关注逐渐提高，尤其是对PM2.5和PM10等颗粒物的含量十分关注，在测量颗粒物含量时，通常采用静电沉降方法对颗粒物的沉降效率进行测量。虽然目前的测量设备能够测量出在一定条件下的沉降效率，但当不同地方的空气中颗粒物含量不同时，目前的测量设备无法根据实际颗粒物含量而作出调整，从而容易出现沉降不完全或者沉降过度导致资源浪费。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法，在实际应用能够检测不同电极参数条件下颗粒物的沉降质量用于沉降效率计算，为确定最佳电极参数积累数据基础。本专利技术解决其问题所采用的技术方案是：一种颗粒物沉降质量测量装置，包括：用于电离空气的电离模块和用于测量沉降颗粒物的质量变化值的测量模块；所述电离模块包括电离区域和设置于电离区域中的高压放电针；所述测量模块包括带电的石英晶片和用于测量石英晶片的谐振频率的频率测量装置，所述石英晶片设置于电离区域下侧；还包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于，包括：用于电离空气的电离模块和用于测量沉降颗粒物的质量变化值的测量模块；所述电离模块包括电离区域和设置于电离区域中的高压放电针；所述测量模块包括带电的石英晶片和用于测量石英晶片的谐振频率的频率测量装置，所述石英晶片设置于电离区域下侧；还包括用于收集未被沉降颗粒物的滤膜和用于测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。

【技术特征摘要】
1.一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于，包括：用于电离空气的电离模块和用于测量沉降颗粒物的质量变化值的测量模块；所述电离模块包括电离区域和设置于电离区域中的高压放电针；所述测量模块包括带电的石英晶片和用于测量石英晶片的谐振频率的频率测量装置，所述石英晶片设置于电离区域下侧；还包括用于收集未被沉降颗粒物的滤膜和用于测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。2.根据权利要求1所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括静电沉降流道，所述静电沉降流道形成所述的电离区域；所述静电沉降流道表面设置有微孔，所述高压放电针通过微孔插入至所述静电沉降流道内部。3.根据权利要求2所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括壳体，所述测量模块设置于壳体上端，所述静电沉降流道下端与壳体相连接。4.根据权利要求1所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：所述石英晶片的表面设置有导电金属片。5.根据权利要求4所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还...

【专利技术属性】
技术研发人员：李星辉，吴豪，
申请(专利权)人：清华大学深圳研究生院，
类型：发明
国别省市：广东,44