一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统，信号源发射连续的测试信号，包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号；对测试信号进行相位旋转，其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°，并将该信号发送给待测试通道；对待测试通道的信号进行大量采样，然后分别进行定量和定性分析。本发明专利技术提出的测试系统和测试方法，对于不同的系统，既可以通过简单的定性分析迅速得出通道的大体性能，又可以通过定量分析，满足不同通信系统的精细要求。同时测试方法简单，降低测试难度，简化了测试系统，使得能够集成在各种通信系统中，提高测试方法的通用性。

A test method and system for channel IQ automatic correction function

The invention discloses a test method and system for the channel IQ automatic correction function. The signal source transmits a continuous test signal, including a single carrier signal sent by channel I and a zero signal sent by channel Q; rotates the phase of the test signal, in which the rotation phase angle traverses 360 degrees at a certain interval, and sends the signal to the channel to be tested; and treats the signal of the test channel as input. A large number of samples were taken, and then quantitative and qualitative analysis were carried out respectively. The test system and test method proposed by the invention can not only quickly obtain the general performance of the channel through simple qualitative analysis, but also meet the fine requirements of different communication systems through quantitative analysis. At the same time, the test method is simple, reduces the test difficulty, simplifies the test system, makes it possible to integrate in various communication systems, and improves the universality of the test method.

【技术实现步骤摘要】
一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统
本专利技术涉及一种通道参数测试技术，尤其涉及的是一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统。
技术介绍
在通信领域中，不同的通信环境对通信的通道要求各不相同，其中有一个关键功能就是通道的IQ自动校正功能。该功能就是利用技术手段，使得通信通道输出的信号的I路和Q路幅度相同，确保通道输出的信号为理想的QPSK信号，从而简化后端的处理过程。目前商用通信领域，很多通信相关的通道模块或者IC芯片都集成了IQ自动校正功能。但是并不是所有的通信领域都需要用到该功能，且该功能的性能强弱也影响的通信效果。目前常用的测试通道的IQ自动校正功能都是利用仪器仪表等专用设备，成本高，系统复杂，难以面对各种复杂的应用环境。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于：如何简洁快速的实现对测试通道IQ自动校正，提供了一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统。本专利技术是通过以下技术方案解决上述技术问题的，本专利技术的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，包括以下步骤：(1)信号源发射连续的测试信号，包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号；(2)对测试信号进行相位旋转，其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°，并将该信号发送给待测试通道；(3)对待测试通道的信号进行大量采样，然后分析如下：(31)对采样数据做星座图，如果发送端的相位发生变化，而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化，则说明没有IQ自动校正功能；如果接收信号星座图形状与发射端相位变化不一致，则测试通道具备IQ自动校正功能；(32)对于每次发射端相位变化，计算对应接收端采样数据的平均相位值，如果前后相位值变化与发射端相同，说明没有IQ自动校正功能；如果接收端采样数据的平均相位值与发射端相位变化不一致，说明测试通道具备IQ自动校正功能。所述步骤(31)中，如果接收信号星座图形状总是集中于[(0,1),(0,-1)],[(1,0),(-1,0)],[(1,1),(-1,-1)],[(-1,1),(1,-1)]这四条线，说明测试通道具备IQ自动校正功能。如果接收信号星座图形状集中程度越高，形状越狭窄，说明性能越好。所述步骤(32)中，采样数据为：计算平均相位值为：如果接收端采样数据的平均相位值始终围绕-π/2，-π/4，0，π/4，π/2，说明测试通道具备IQ自动校正功能。如果接收端采样数据的平均相位值的方差越小，说明性能越好。一种使用所述的针对通道IQ自动校正功能的测试方法进行测试的系统，包括测试信号源模块、相位旋转模块和信号分析模块；所述测试信号源模块产生满足测试要求的连续单载波信号；所述相位旋转模块按照测试需要将单载波信号的相位进行旋转，所述信号分析模块对通过被测通道之后的数据进行采样分析，判定该通道是否具备IQ自动校正功能，以及该功能的具体性能。本专利技术相比现有技术具有以下优点：本专利技术提出的测试系统和测试方法，对于不同的系统，既可以通过简单的定性分析迅速得出通道的大体性能，又可以通过定量分析，满足不同通信系统的精细要求。同时测试方法简单，降低测试难度，简化了测试系统，使得能够集成在各种通信系统中，提高测试方法的通用性。附图说明图1是本专利技术的结构框图；图2是本专利技术的系统流程图。具体实施方式下面对本专利技术的实施例作详细说明，本实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本专利技术的保护范围不限于下述的实施例。如图1所示，本实施例的测试系统包括测试信号源模块、相位旋转模块和信号分析模块；所述测试信号源模块产生满足测试要求的连续单载波信号；所述相位旋转模块按照测试需要将单载波信号的相位进行旋转；所述信号分析模块对通过被测通道之后的数据进行采样分析，判定该通道是否具备IQ自动校正功能，以及该功能的具体性能。如图2所示，本实施例的测试方法如下：(1)搭建测试环境，接上测试通道，开启测试系统；(2)启动测试信号源模块，发射连续信号，其中I路发送单载波信号，Q路发送0信号；(3)启动相位旋转模块，对测试信号进行相位旋转，其中旋转的相位角度按一定间隔遍历360°，将该信号发送给待测试通道；(4)启动信号分析模块，测试通道传来的信号，在累积大量采样数据之后，进行如下分析；(5)定性分析：对采样数据做星座图，观察如果发送端的相位发生变化，而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化，则说明没有IQ自动校正功能；如果接收信号星座图形状总是集中于[(0,1),(0,-1)],[(1,0),(-1,0)],[(1,1),(-1,-1)],[(-1,1),(1,-1)]这四条线，说明测试通道具备IQ自动校正功能；且集中程度越高，形状越狭窄，说明性能越好；(6)定量分析：采样数据为计算平均相位值为：对每次发射端相位变化，计算对应接收端采样数据的平均相位值，如果前后相位值变化与发射端相同，说明没有IQ自动校正功能；如果接收端采样数据的平均相位值始终围绕-π/2，-π/4，0，π/4，π/2，说明具备IQ西东校正功能；且方差越小，说明性能越好。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)信号源发射连续的测试信号，包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号；(2)对测试信号进行相位旋转，其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°，并将该信号发送给待测试通道；(3)对待测试通道的信号进行大量采样，然后分析如下：(31)对采样数据做星座图，如果发送端的相位发生变化，而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化，则说明没有IQ自动校正功能；如果接收信号星座图形状与发射端相位变化不一致，则测试通道具备IQ自动校正功能；(32)对于每次发射端相位变化，计算对应接收端采样数据的平均相位值，如果前后相位值变化与发射端相同，说明没有IQ自动校正功能；如果接收端采样数据的平均相位值与发射端相位变化不一致，说明测试通道具备IQ自动校正功能。

【技术特征摘要】
1.一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)信号源发射连续的测试信号，包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号；(2)对测试信号进行相位旋转，其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°，并将该信号发送给待测试通道；(3)对待测试通道的信号进行大量采样，然后分析如下：(31)对采样数据做星座图，如果发送端的相位发生变化，而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化，则说明没有IQ自动校正功能；如果接收信号星座图形状与发射端相位变化不一致，则测试通道具备IQ自动校正功能；(32)对于每次发射端相位变化，计算对应接收端采样数据的平均相位值，如果前后相位值变化与发射端相同，说明没有IQ自动校正功能；如果接收端采样数据的平均相位值与发射端相位变化不一致，说明测试通道具备IQ自动校正功能。2.根据权利要求1所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法，其特征在于，所述步骤(31)中，如果接收信号星座图形状总是集中于[(0,1),(0,-1)],[(1,0),(-1,0)],[(1,1),(-1,-1)],[(-1,1),(1,-1)]这四条线，说明...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭立军，罗伟，周家喜，张靖，郑雨阳，顾钰，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十八研究所，
类型：发明
国别省市：安徽,34