一种低驻波比天线结构制造技术

技术编号:20223906 阅读:35 留言:0更新日期:2019-01-28 21:56
本发明专利技术属于电磁学领域,涉及一种低驻波比天线结构。本发明专利技术中所述天线为圆锥天线,所述天线结构包括圆形喇叭口面、锥体、方圆过渡段、矩形过渡段;所述圆形喇叭口面上一条的90°所对应的弧线和另一条120°所对应的弧线被去除一定厚度,最大去除厚度为1mm;所述90°所对应的弧线和120°所对应的弧线,二者有同一条对称轴线。本发明专利技术突破了传统设计方法,改善了喇叭天线的一个重要参数——驻波比。

【技术实现步骤摘要】
一种低驻波比天线结构
本专利技术属于电磁学领域,涉及一种低驻波比天线结构。
技术介绍
我们通常用频率、幅度和相位三个参数来表征一个电磁波信号。在电磁信号的三要素中,相位测试的难度最大。这是因为相位测试对测量环境、测试系统的稳定性要求很高。尤其是反射式测试,任何微小的空间位移都会带来测试数据的明显变化。这是因为反射测试时,反射面空间位置重复性将直接影响测量结果的重复性,这一点与透射法是不同的。但在某些情况下,还必须用反射法测试产品的反射相位。比如很多雷达罩广泛采用了夹层结构,夹层结构罩体在设计中对各层蒙皮和蜂窝均提出了不同成型要求,以达到电气平衡性要求。这就需要在成型过程中对每一层蒙皮及累计电厚度误差进行测量与校正,而不能在成型后仅在成型后对成品件进行测量。成品件如果发现电厚度超差,就难以确定超差区域在结构上的位置。在无法准确确定超差区域位置情况下进行校正,将破坏罩体电气平衡性,电性能将变差,所以必须在成型过程中对雷达罩进行逐层的电厚度控制,以满足电性能设计要求。而成型中的雷达罩带有金属模具,无法采用透射的方式在罩壁两侧安装测试天线,所以只能用反射法测试,以金属模具作为反射面,用反射相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低驻波比天线结构,所述天线为圆锥天线,所述天线结构包括圆形喇叭口面、锥体、方圆过渡段、矩形过渡段;其特征为:所述圆形喇叭口面上一条的90°所对应的弧线和另一条120°所对应的弧线被去除一定厚度,最大去除厚度为1mm;所述90°所对应的弧线和120°所对应的弧线,二者有同一条对称轴线。

【技术特征摘要】
1.一种低驻波比天线结构,所述天线为圆锥天线,所述天线结构包括圆形喇叭口面、锥体、方圆过渡段、矩形过渡段;其特征为:所述圆形喇叭口面上一条的90°...

【专利技术属性】
技术研发人员:王克先
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司济南特种结构研究所
类型:发明
国别省市:山东,37

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