一种基于深度学习的高光消除新方法技术

技术编号:20222348 阅读:57 留言:0更新日期:2019-01-28 20:40
本发明专利技术公开了一种基于深度学习的高光消除方法。主要由正弦条纹的编码原理、建立坐标系间关系、最佳投影强度获取和基于深度学习方法建库四部分组成。本发明专利技术的优点是:(1)与传统的高光消除方法相比,从投影图像上直接调整相应区域的投影强度,保证了获取图像的正弦性,从而更能保证测量精度;(2)采用基于深度学习的方法,建立不同材料在不同测量环境下最佳投影强度的对应库,避免了以往图像处理过程中的时间消耗;(3)该方法在高速、高精度三维测量中具有很高的实用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种基于深度学习的高光消除新方法
本专利技术设计一种基于深度学习的高光消除方法,具体涉及到投影仪像素和相机像素对应关系的建立、最佳投影强度的确定和不同材质、不同高度对应强度的学习库建立。
技术介绍
条纹反射三维测量方法在测量类镜面物体时由于非接触、全场测量、测量速度快和易于信息处理等优点,在三维测量中有重要意义。三维测量实验装置如图1所示,包括投影仪、CCD相机、工作站、参考面和待测物体;投影仪将带有特征信息的正弦条纹投射到参考面,由CCD相机采集条纹信息,经过工作站处理后得到参考相位。然后将待测物体放在相同位置,经过工作站得到相应的条纹调制图像,计算出相位,减去参考相位即得到由待测物面畸变引起的相位变化。按照特定算法进行三维重建。在一些特殊的物体,例如光学元件、抛光模具、喷涂车身、液体表面等以镜面反射为主的物体表面。传统的测量方法因为其表面的镜面反射而难以实施强反射表面三维形貌测量一直是光学非接触测量研究的热点和难点。光学非接触测量以正确接收物体表面反射光作为测量基础,而对于具有强反射表面的物体来说,物体表面的强反射性质会使图像饱和或过暗,产生信息失真,导致测量精度大幅下降,甚至难本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于深度学习的高光消除测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1由计算机生成带有相位信息的正弦条纹图案;步骤2通过标定数据建立相机像素与投影仪像素间的坐标关系;步骤3通过边缘分类聚类确定最佳投影强度修改对应区域强度;步骤4基于深度学习方法建立相应学习库。

【技术特征摘要】
1.基于深度学习的高光消除测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1由计算机生成带有相位信息的正弦条纹图案;步骤2通过标定数据建立相机像素与投影仪像素间的坐标关系;步骤3通过边缘分类聚类确定最佳投影强度修改对应区域强度;步骤4基于深度学习方法建立相应学习库。2.根据权利要求1所述的基于深度学习的高光消除测量方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:伏燕军杨鹏斌徐天义邓林嘉金露钟可君
申请(专利权)人:南昌航空大学
类型:发明
国别省市:江西,36

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