复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验系统及方法，通过总控台打开各个紫外线照射灯，模拟强紫外线地区；经过一段时间的照射，触发控制台产生VFTO信号，作用于绝缘子，控制台控制高压直流电源工作，检测泄漏电流，上传、处理数据。该试验系统及方法能够模拟复合绝缘子在强紫外线照射地区下运行的工况，模拟产生VFTO信号，实现检测强紫外线照射VFTO对复合绝缘子表面性能的影响。本方案使用第一电容器、第二电容器和第三电容器组成多级电容联合充放电，结合脉冲陡化间隙提高波形的幅值及波形稳定性，同时加入调波模块对波形畸变进行补偿，能够克服现有系统中电压等级不够，回路电感较大，波形畸变严重等缺点。

【技术实现步骤摘要】
复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验方法及系统
本公开涉及复合绝缘子性能检测
，尤其涉及一种复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验方法及系统。
技术介绍
随着我国电网的发展，电力系统中使用的复合绝缘子数量急剧上升，在我国新疆等强紫外线地区，复合绝缘子长期受到紫外线照射，对其表面性能造成一定程度上的影响。在高压设备进行操作时，由于开关的分合闸速度较慢，在切合容性电流时开关触头间会发生预击穿和多次重燃，形成上升时间很短的冲击波。该冲击波经过多次反射、折射形成快速暂态震荡，即VFTO(VFTO即特快速瞬态过电压，是指波前时间3到100ns内的瞬态过电压，主要因为GIS中的隔离开关的操作等因素引起)。VFTO会极大降低瓷套性能，造成绝缘子开裂，甚至造成绝缘子爆炸，严重危害了电力系统的安全可靠运行，对社会经济产生了较大损害目前，国内对于VFTO的研究较少且所用设备具有体积庞大，电压等级不够，回路电感较大，波形畸变严重等缺点，并且没有对一些特殊工况进行模拟试验。因此，急需一种强紫外线照射VFTO下复合绝缘子表面劣化的实验系统及方法。
技术实现思路
本专利技术实施例中提供了一种复合绝缘子表面脉本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验系统，其特征在于，包括：信号发生控制子系统(100)、VFTO发生子系统(200)、紫外老化试验箱(300)、泄漏电流检测子系统(400)，所述信号发生控制子系统(100)输出端连接VFTO发生子系统(200)输入端，用于将VFTO高压脉冲加载至紫外老化试验箱(300)，并通过泄露电流检测子系统(400)检验复合绝缘子表面性能劣化程度，其中，所述信号发生控制子系统(100)还包括：总控制台(1)、脉冲幅值控制通道(6)、状态显示器(8)和电源自动转换开关(9)，所述总控制台(1)与脉冲幅值控制通道(6)相连接，并通过脉冲幅值控制通道(6)与状态显示...

【技术特征摘要】
1.一种复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验系统，其特征在于，包括：信号发生控制子系统(100)、VFTO发生子系统(200)、紫外老化试验箱(300)、泄漏电流检测子系统(400)，所述信号发生控制子系统(100)输出端连接VFTO发生子系统(200)输入端，用于将VFTO高压脉冲加载至紫外老化试验箱(300)，并通过泄露电流检测子系统(400)检验复合绝缘子表面性能劣化程度，其中，所述信号发生控制子系统(100)还包括：总控制台(1)、脉冲幅值控制通道(6)、状态显示器(8)和电源自动转换开关(9)，所述总控制台(1)与脉冲幅值控制通道(6)相连接，并通过脉冲幅值控制通道(6)与状态显示器(8)相连，再连接至电源自动转换开关(9)；其中，所述总控制台(1)还包括控制芯片，以及与所述控制芯片相连的脉冲触发按钮(2)、充电触发按钮(3)和充电时间设置器(5)；所述VFTO发生子系统(200)还包括：高压隔离罐(41)和脉冲陡化间隙(25)，所述高压隔离罐(41)还包括第一穿墙套管(11)、第二穿墙套管(12)、第三穿墙套管(22)、第一电容器(14)、第二电容器(17)、第三电容器(20)、第一电阻器(16)、第二电阻器(18)、第三电阻器(23)、第四电阻器(24)以及调波模块(21)，所述电源自动转换开关(9)经电缆连接与所述第二穿墙套管(12)相连，所述第一穿墙套管(11)接地，所述第一电容器(14)串接在所述第二穿墙套管(12)和所述第一穿墙套管(11)两端，所述第三电阻器(23)一端连接所述第一穿墙套管(11)，所述第三电阻器(23)的另一端与所述第四电阻器(24)相连，所述一端与所述第二电阻器(16)和所述第二电阻器(18)电连接，所述第二电容器(17)的另一端与所述第三电阻器(23)和所述第四电阻器(24)电连接，所述调波模块(21)的一端连接在所述第二电阻器(18)和所述第三电容器(20)之间的连线上，所述调波模块(21)的另一端通过所述第三穿墙套管(22)与所述脉冲陡化间隙(25)电连接；所述紫外老化试验箱(300)包括壳体(26)、第四穿墙套管、绝缘子(31)、第一紫外线照射灯(28)、第二紫外线照射灯(29)，第三紫外线照射灯(30)、高压直流电源(38)和试验箱控制台(39)，所述紫外老化试验箱(300)通过所述第四穿墙套管与所述VFTO发生子系统(200)电连接，所述第一紫外线照射灯(28)设置于所述壳体(26)的顶部正中央位置，所述第二紫外线照射灯(29)设置于所述壳体(26)的左侧内壁正中央位置，所述第三紫外线照射灯(30)设置于所述壳体(26)的右侧内壁正中央位置，所述试验箱控制台(39)与所述第一紫外线照射灯(28)、所述第二紫外线照射灯(29)和所述第三紫外线照射灯(30)相连，所述高压直流电源(38)输出端与所述绝缘子(31)相连，用于为试验箱控制台(39)供电；所述泄漏电流检测子系统(400)包括泄漏电流测试仪(36)和PC(37)，所述绝缘子(31)与所述泄漏电流测试仪(36)和接地极串联，所述PC(37)连接在泄漏电流测试仪(36)上。2.根据权利要求1所述的复合绝缘子表面脉冲占比率的VFTO检验系统，其特征在于，所述VFTO发生子系统(200)还包括高压硅堆(13)，所述高压硅堆(13)与所述第二穿墙套管(12)相连，并与所述第一电阻器(16)、所述第二电阻器(18)、所述第三电容器(20)、所述第四电阻器(24)串联，所述第一电容器(14)串接在所述高压硅堆(13)和所述第一穿墙套管(11)两端。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭向宇，周利军，王科，彭晶，赵现平，马仪，周年荣，张文斌，黄星，程志万，马国明，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：云南,53